【技术实现步骤摘要】
差分迟滞比较电路及方法
[0001]本公开涉及集成电路
,尤其涉及一种差分迟滞比较电路及方法。
技术介绍
[0002]在信号产生、传输过程中,由于电源电压的噪声,以及环境噪声的干扰,会使信号出现噪声,噪声的存在影响了信号的准确性,会导致出现误码等问题。带有噪声的信号输入到比较器中时,尤其是当信号在比较器的阈值电压附近的噪声振幅较大的情况下,比较器的输出便会出现多次翻转,会带来误码,影响信号的准确性,虽然传统迟滞比较器可以在一定程度上降低误码率,但对差分信号的迟滞比较难以实现。
技术实现思路
[0003]鉴于上述问题,本专利技术提供了一种差分迟滞比较电路,以解决上述技术问题。
[0004]本公开的一个方面提供了一种差分迟滞比较电路,包括:差分输入电路,用于输入第一差分信号和第二差分信号;正反馈迟滞电路,与所述差分输入电路连接,用于比较所述第一差分信号和第二差分信号,得到差分比较结果,当所述差分比较结果大于第一阈值电压时,输出第一比较结果信号,当所述差分比较结果小于第二阈值电压时,输出第二比较信号,所述第一阈值电压大于第二阈值电压;输出级电路,与所述正反馈迟滞电路连接,用于将所述第一比较结果信号或所述第二比较结果信号转换为单端信号输出。
[0005]可选地,差分输入电路包括:第一差分输入电路,包括第一晶体管M1和第二晶体管M2,第一晶体管M1的栅极接入第一电压信号,所述第二晶体管M2的栅极接入第二电压信号,所述第一电压信号和所述第二电压信号构成第一差分信号;第二差分输入电路,包括第三 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种差分迟滞比较电路,其特征在于,包括:差分输入电路,用于输入第一差分信号和第二差分信号;正反馈迟滞电路,与所述差分输入电路连接,用于比较所述第一差分信号和第二差分信号,得到差分比较结果,当所述差分比较结果大于第一阈值电压时,输出第一比较结果信号,当所述差分比较结果小于第二阈值电压时,输出第二比较信号,所述第一阈值电压大于第二阈值电压;输出级电路,与所述正反馈迟滞电路连接,用于将所述第一比较结果信号或所述第二比较结果信号转换为单端信号输出。2.根据权利要求1所述的差分迟滞比较电路,其特征在于,差分输入电路包括:第一差分输入电路,包括第一晶体管M1和第二晶体管M2,第一晶体管M1的栅极接入第一电压信号,所述第二晶体管M2的栅极接入第二电压信号,所述第一电压信号和所述第二电压信号构成第一差分信号;第二差分输入电路,包括第三晶体管M3和第四晶体管M4,第三晶体管M3的栅极接入第三电压信号,所述第四晶体管M4的栅极接入第四电压信号,所述第三电压信号和所述第四电压信号构成第二差分信号;所述第一晶体管M1和所述第二晶体管M2的漏极分别接入所述正反馈迟滞电路,向所述正反馈迟滞电路输入所述第一差分信号;所述第三晶体管M3和所述第四晶体管M4的漏极同样分别接入所述正反馈迟滞电路,向所述正反馈迟滞电路输入所述第二差分信号。3.根据权利要求2所述的差分迟滞比较电路,其特征在于,所述正反馈迟滞电路包括:第五晶体管M5,其栅极与漏极相连构成二极管连接,其漏极连接所述第一晶体管M1的漏极和所述第三晶体管M3的漏极;第六晶体管M6,其栅极与所述第五晶体管M5的栅极相连且连接第一输出端,其漏极连接所述第二晶体管M2的漏极和所述第四晶体管M4的漏极;第七晶体管M7,其栅极与第八晶体管M8的栅极相连且连接第二输出端,其漏极连接所述第三晶体管M3的漏极和所述第一晶体管M1的漏极;第八晶体管M8,其栅极与漏极相连构成二极管连接,其漏极连接所述第四晶体管M4的漏极和第二晶体管M2的漏极;第九晶体管M9,其漏极与所述第一晶体管M1、所述第二晶体管M2、所述第三晶体管M3和所述第四晶体管M4的源极连接,其源极接地,其栅极输入偏置电压Vbias;所述第五晶体管M5、所述第六晶体管M6、所述第七晶体管M7和所述第八晶体管M8的源极输入工作电压V
DD
,所述第五晶体管M5与所述第七晶体管M7的漏极连接,所述第六晶体管M6和所述第八晶体管M8的漏极相连。4.根据权利要求3所述的差分迟滞比较电路,其特征在于,所述阈值电压V
TH
的电压值为所述第一阈值电压或第二阈值电压;其中,当所述差分比较结果大于第一阈值电压时,所述阈值电压...
【专利技术属性】
技术研发人员:李智,李成杰,赵慧冬,乔树山,
申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所,
类型:发明
国别省市:
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