本发明专利技术提供一种存储器固件的测试方法、装置、设备及介质，包括：响应于主机端的读写指令，主机端向存储端传输初始数据集，其中，初始数据集包括多个测试数据；主机端依次将测试数据传输至存储端，获取传输失败时的测试数据，表示为测试数据集；主机端预设时间范围，并基于时间范围选择不同的传输时间，重复向存储端传输测试数据集，获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间；主机端基于测试数据集与测试时间生成测试脚本，并根据测试脚本完成待测试存储器固件的测试。通过本发明专利技术公开的一种存储器固件的测试方法、装置、设备及介质，能够提升固件的测试效率。固件的测试效率。固件的测试效率。
【技术实现步骤摘要】
一种存储器固件的测试方法、装置、设备及介质
[0001]本专利技术涉及存储芯片领域，特别是涉及一种存储器固件的测试方法、装置、设备及介质。
技术介绍
[0002]内嵌式存储器（Embedded Multi Media Card，eMMC）是能够存储代码和数据管理的内存。内嵌式存储器在出厂时需要进行读写测试，以检测内部固件的稳定性。在对固件进行测试时，往往是通过增加读写次数或改变读写地址的复杂度等方式来增加对固件读写的压力。采用这种读写测试方法虽然会导致固件卡死，但是测试时间过长、复现概率太低，导致测试效率低下。
技术实现思路
[0003]鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种存储器固件的测试方法、装置、设备及介质，能够提升固件的测试效率。
[0004]为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术提供一种存储器固件的测试方法，包括：响应于主机端的读写指令，所述主机端向存储端传输初始数据集，其中，所述初始数据集包括多个测试数据；所述主机端依次将所述测试数据传输至所述存储端，获取传输失败时的所述测试数据，表示为测试数据集；所述主机端预设时间范围，并基于所述时间范围选择不同的传输时间，重复向所述存储端传输所述测试数据集，获取传输失败时的所述传输时间，表示为测试时间；所述主机端基于所述测试数据集与所述测试时间生成测试脚本，并根据所述测试脚本完成待测试存储器固件的测试。
[0005]在本专利技术一实施例中，所述主机端依次将所述测试数据传输至所述存储端，获取传输失败时的测试数据，表示为所述测试数据集的步骤包括：所述主机端依次将所述测试数据传输至所述存储端，并统计传输失败时的测试数据，表示为中间数据集；所述主机端将不同的中间数据集重复传输至所述存储端，以获取传输失败率最高的中间数据集，表示为测试数据集。
[0006]在本专利技术一实施例中，所述主机端依次将所述测试数据传输至所述存储端，并统计传输失败时的测试数据，表示为中间数据集的步骤包括：所述主机端从所述初始数据集中取出某一测试数据，保存于预设数据集中，将所述预设数据集传输至所述存储端，并判断是否传输成功；若传输成功，则所述主机端依次从所述初始数据集中取出测试数据，并保存于所述预设数据集中，重复将所述预设数据集传输至所述存储端，直至出现传输失败为止，此时所述预设数据集表示为中间数据集；
若传输失败，则所述预设数据集表示为所述中间数据集。
[0007]在本专利技术一实施例中，在所述若传输失败，则所述预设数据集表示为所述中间数据集的步骤之后，还包括：所述主机端依次将所述初始数据集中剩余的测试数据保存于所述预设数据集中，重复将所述预设数据集传输至存储端，直至传输次数达到预设传输次数为止，生成多个所述中间数据集。
[0008]在本专利技术一实施例中，所述预设传输次数小于或等于所述初始数据集中测试数据的数量。
[0009]在本专利技术一实施例中，所述主机端将不同的中间数据集重复传输至所述存储端，以获取传输失败率最高的中间数据集，表示为测试数据集的步骤包括：所述主机端将某一个中间数据集重复传输至所述存储端，直至传输次数达到预设测试次数为止，统计传输失败的次数，表示为失败次数；根据所述失败次数与所述预设测试次数的比值，获取传输失败率；对剩余的所述中间数据集进行处理，以获取对应的所述传输失败率；对所有的所述传输失败率进行比较，以获取所述传输失败率最高的中间数据集，表示为测试数据集。
[0010]在本专利技术一实施例中，所述主机端预设时间范围，并基于所述时间范围选择不同的传输时间，重复向所述存储端传输所述测试数据集，获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间的步骤包括：所述主机端预设时间范围，并基于所述时间范围选择传输时间，在所述传输时间内将所述测试数据集传输至所述存储端，并判断是否传输成功；若传输失败，获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间；若传输成功，则基于所述时间范围选择其他传输时间，并在所述其他传输时间内将所述测试数据集传输至所述存储端，直至传输失败为止，此时获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间。
[0011]本专利技术还提供一种存储器固件的测试装置，包括：测试数据传输模块，用以响应于主机端的读写指令，所述主机端向存储端传输初始数据集，其中，所述初始数据集包括多个测试数据；测试数据获取模块，用以依次将所述测试数据传输至所述存储端，获取传输失败时的测试数据，表示为测试数据集；测试时间获取模块，用以预设时间范围，并基于所述时间范围选择不同的传输时间，重复向所述存储端传输所述测试数据集，获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间；以及测试脚本生成模块，用以基于所述测试数据集与所述测试时间生成测试脚本，并根据所述测试脚本完成待测试存储器固件的测试。
[0012]本专利技术还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现所述的存储器固件的测试方法的步骤。
[0013]本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机
程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现所述的存储器固件的测试方法的步骤。
[0014]如上所述，本专利技术提供一种存储器固件的测试方法、装置、设备及介质，主机端通过多次测试获取出现传输失败概率最高的测试数据集，以获得最佳的测试数据量，同时通过测试获取传输失败时的传输时间，进而获取对应的测试时间。主机端可以根据测试数据集与测试时间生成对应的测试脚本，可通过测试脚本自动对其他的存储器固件进行读写测试，能够有效提升测试效率。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1显示为本专利技术的一种存储器固件的测试方法的流程图；图2显示为图1中步骤S20的流程图；图3显示为图2中步骤S21的流程图；图4显示为图2中步骤S22的流程图；图5显示为图1中步骤S30的流程图；图6显示为本专利技术的一种存储器固件的测试装置的示意图；图7显示为本专利技术的一种计算机设备的结构示意图；图8显示为本专利技术的一种计算机设备的另一结构示意图。
[0017]元件标号说明：10、测试数据传输模块；20、测试数据获取模块；30、测试时间获取模块；40、测试脚本生成模块。
具体实施方式
[0018]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0019]请参阅图1所示，本专利技术提供了一种存储器固件的测试方法，其可应用于对内嵌式存储器（Embedded Multi Media Car本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种存储器固件的测试方法，其特征在于，包括：响应于主机端的读写指令，所述主机端向存储端传输初始数据集，其中，所述初始数据集包括多个测试数据；所述主机端依次将所述测试数据传输至所述存储端，获取传输失败时的测试数据，表示为测试数据集；所述主机端预设时间范围，并基于所述时间范围选择不同的传输时间，重复向所述存储端传输所述测试数据集，获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间；所述主机端基于所述测试数据集与所述测试时间生成测试脚本，并根据所述测试脚本完成待测试存储器固件的测试。2.根据权利要求1所述的存储器固件的测试方法，其特征在于，所述主机端依次将所述测试数据传输至所述存储端，获取传输失败时的测试数据，表示为测试数据集的步骤包括：所述主机端依次将所述测试数据传输至所述存储端，并统计传输失败时的测试数据，表示为中间数据集；所述主机端将不同的中间数据集重复传输至所述存储端，以获取传输失败率最高的中间数据集，表示为测试数据集。3.根据权利要求2所述的存储器固件的测试方法，其特征在于，所述主机端依次将所述测试数据传输至所述存储端，并统计传输失败时的测试数据，表示为中间数据集的步骤包括：所述主机端从所述初始数据集中取出某一测试数据，保存于预设数据集中，将所述预设数据集传输至所述存储端，并判断是否传输成功；若传输成功，则所述主机端依次从所述初始数据集中取出测试数据，并保存于所述预设数据集中，重复将所述预设数据集传输至所述存储端，直至出现传输失败为止，此时所述预设数据集表示为中间数据集；若传输失败，则所述预设数据集表示为所述中间数据集。4.根据权利要求3所述的存储器固件的测试方法，其特征在于，在所述若传输失败，则所述预设数据集表示为所述中间数据集的步骤之后，还包括：所述主机端依次将所述初始数据集中剩余的测试数据保存于所述预设数据集中，重复将所述预设数据集传输至存储端，直至传输次数达到预设传输次数为止，生成多个所述中间数据集。5.根据权利要求4所述的存储器固件的测试方法，其特征在于，所述预设传输次数小于或等于所述初始数据集中测试数据的数量。6.根据权利要求2所述的存储器固件的测试方法，其特征在于，所述主机端将不同的中间数据集重复传输至所述存储端，以获取传输失...
【专利技术属性】
技术研发人员：潘慧敏，赵啟鹏，
申请(专利权)人：合肥康芯威存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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