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本发明提供一种存储器固件的测试方法、装置、设备及介质，包括：响应于主机端的读写指令，主机端向存储端传输初始数据集，其中，初始数据集包括多个测试数据；主机端依次将测试数据传输至存储端，获取传输失败时的测试数据，表示为测试数据集；主机端预设时间...
该专利属于合肥康芯威存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥康芯威存储技术有限公司授权不得商用。

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