【技术实现步骤摘要】
过孔检查方法、装置、工具、电子设备和可读存储介质
[0001]本专利技术涉及计算机
，尤其涉及一种过孔检查方法、装置、工具、电子设备和可读存储介质。
技术介绍
[0002]印制电路板(Printed Circuit Board，PCB)作为服务器的重要组成部分，其上设置的器件数量和走线密度随着服务器性能的提高而不断增加。在印刷电路板的双面板和多层板中，为连通各层之间的印制导线，不可避免的需要在各层需要连通的导线的交汇处设置过孔。当对印刷电路板进行钻孔制作时，由于制程能力的限制，易导致在印刷电路板上制备的过孔的公差过大，在过孔公差过大的情况下，在电源区易发生短路烧板的质量问题；同时，在过孔的孔壁距离其他过孔的孔壁较远时，在高密区(BGA，Ball Grid Array)由于信号没有参考回流路径，易导致信号阻抗突变，引发信号失真的质量问题。
[0003]基于上述质量问题，印刷电路板在不同应用场景下通常会使用具有不同参数的过孔。目前主要通过人工目检的方式根据不同使用场景对过孔进行检查，以防止短路和信号失真问题的发生。...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种过孔检查方法，其特征在于，包括：获取印刷电路板对应的设计文件，并基于所述设计文件确定所述印刷电路板中过孔的孔径值区间和孔径公差的对应关系以及所述过孔的过孔设计参数；根据所述孔径值区间和孔径公差的对应关系，创建过孔公差数据库；根据所述过孔设计参数，创建与目标检查区域对应的待检区域数据库；基于所述目标检查区域，确定与所述目标检查区域对应的检查规则值；根据所述过孔公差数据库和/或所述待检区域数据库、以及所述检查规则值，确定过孔检查结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述孔径值区间和孔径公差的对应关系，创建过孔公差数据库，包括：根据所述孔径公差，确定所述孔径公差的孔径正公差；根据所述孔径值区间和孔径公差的对应关系，在所述孔径正公差相同的情况下，确定与所述孔径正公差对应的所述孔径值区间；将所述孔径值区间进行合并；根据合并后的孔径值区间和所述孔径正公差的对应关系，创建过孔公差数据库。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述过孔设计参数，创建与目标检查区域对应的待检区域数据库，包括：根据所述过孔设计参数，从所述过孔设计参数中提取与目标检查区域对应的目标过孔设计参数；所述目标过孔设计参数包括所述过孔设计参数中的部分或全部参数；根据所述目标过孔设计参数，创建与所述目标检查区域对应的待检区域数据库。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述目标检查区域包括电源区域和高密区域；所述根据所述过孔设计参数，从所述过孔设计参数中提取与目标检查区域对应的目标过孔设计参数，包括：在所述目标检查区域为电源区域的情况下，根据所述过孔设计参数，从所述过孔设计参数中提取与所述电源区域对应的第一过孔的第一坐标、钻孔半径以及第一隔离区半径，确定为第一目标过孔设计参数；在所述目标检查区域为高密区域的情况下，根据所述过孔设计参数，从所述过孔设计参数中提取与所述高密区域对应的第二过孔的第二坐标、铜环半径以及第二隔离区半径，确定为第二目标过孔参数；所述根据所述目标过孔设计参数，创建与所述目标检查区域对应的待检区域数据库，包括：根据所述第一目标过孔设计参数，创建与所述电源区域对应的第一待检区域数据库；根据所述第二目标过孔设计参数，创建与所述高密区域对应的第二待检区域数据库。5.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述目标检查区域包括电源区域和高密区域；所述待检区域数据库包括第一待检区域数据库和第二待检区域数据库；所述检查规则值包括所述电源区域对应的电源区域检查规则值和所述高密区域对应的高密区域检查规则值；所述根据所述过孔公差数据库和/或所述待检区域数据库、以及所述检查规则值，确定
过孔检查结果，包括：在所述目标检查区域为电源区域的情况下，根据所述过孔公差数据库和所述第一待检区域数据库、以及所述电源区域检查规则值，确定过孔检查结果；在所述目标检查区域为高密区域的情况下，根据所述第二待检区域数据库和所述高密区域检查规则值，确定过孔检查结果。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述过孔公差数据库和所述第一待检区域数据库、以及所述电源区域检查规则值，确定过孔检查结果，包括：在所述目标检查区域为所述电源区域的情况下，根据所述第一待检区域数据库中的钻孔半径，查询所述过孔公差数据库中与所述钻孔半径对应的所述孔径值区间；根据所述孔径值区间，确定与所述孔径值区间对应的所述孔径公差；根据所述孔径公差和所述钻孔半径，确定所述孔径公差和所述钻孔半径的求和值；根据所述第一待...
【专利技术属性】
技术研发人员：孟瑶，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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