芯片验证方法、设备及存储介质技术

本申请涉及一种芯片验证方法、设备及存储介质。所述方法包括：根据待验证芯片的架构图和/或设计文档，确定待验证芯片中执行测试的模块及模块所属的子系统，其中，子系统至少由两个模块组成，分别构建模块的验证环境和子系统的验证环境，基于模块的验证环境对模块进行验证，基于子系统的验证环境对子系统进行验证，对模块及子系统完成验证后，获取待验证芯片的驱动软件对应的测试数据，基于测试数据对驱动软件执行验证。本申请可以避免了现有技术中需要先将驱动软件开发好后才能验证芯片硬件的情况，提高芯片验证的效率。提高芯片验证的效率。提高芯片验证的效率。

【技术实现步骤摘要】
芯片验证方法、设备及存储介质


[0001]本申请涉及芯片
，尤其涉及一种芯片验证方法、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]目前，对芯片进行验证通常需要对芯片的功能进行验证，以及对芯片配套的驱动软件进行验证。随着芯片的快速发展，芯片前期验证是否充分，验证进度是否满足项目要求已愈发重要。
[0003]由于现有技术中大多是通过芯片的驱动软件提供芯片的驱动来验证芯片的功能，这样使得驱动软件需要先开发好，才能验证芯片的硬件来确定芯片的功能是否无误，依赖驱动软件来验证芯片的功能，难以满足日益复杂的芯片需求和项目的进度需求，导致芯片项目的进度缓慢，此外，利用驱动软件验证芯片的功能仅是可以按功能场景去验证芯片是否符合需求，无法对芯片内部模块的功能是否正确，及模块之间的交互是否正确进行验证。

技术实现思路

[0004]鉴于以上内容，本申请提供一种芯片验证方法、设备及存储介质，其目的在于解决上述技术问题。
[0005]第一方面，本申请提供一种芯片验证方法，该方法包括：
[0006]根据待验证芯片的架构图和/或设计文档，确定所述待验证芯片中执行测试的模块及所述模块所属的子系统，其中，所述子系统至少由两个所述模块组成；
[0007]分别构建所述模块的验证环境和所述子系统的验证环境；
[0008]基于所述模块的验证环境对所述模块进行验证，基于所述子系统的验证环境对所述子系统进行验证；
[0009]对所述模块及所述子系统完成验证后，获取所述待验证芯片的驱动软件对应的测试数据，基于所述测试数据对所述驱动软件执行验证。
[0010]第二方面，本申请提供一种电子设备，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；
[0011]存储器，用于存放计算机程序；
[0012]处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现第一方面任一项实施例所述的芯片验证方法的步骤。
[0013]第三方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面任一项实施例所述的芯片验证方法的步骤。
[0014]本申请实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：
[0015]本申请根据待验证芯片的架构图和/或设计文档，确定出待验证芯片中执行测试的模块及子系统后，分别构建模块的验证环境和子系统的验证环境，根据模块的验证环境对模块进行验证，可以得知对芯片内部的模块功能是否正确，由于子系统至少由两个模块组成，根据子系统的验证环境对子系统进行验证，可以得知模块之间的数据交互是否正确，
避免了现有技术中需要先将驱动软件开发好后才能验证芯片硬件的情况，加快芯片项目的进度；进一步地，再获取待验证芯片的驱动软件对应的测试数据，根据测试数据对驱动软件执行验证，提高芯片验证的效率。
附图说明
[0016]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。
[0017]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为本申请芯片验证方法较佳实施例的流程图示意图；
[0019]图2为本申请芯片验证装置较佳实施例的模块示意图；
[0020]图3为本申请电子设备较佳实施例的示意图；
[0021]本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0022]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0023]需要说明的是，在本申请中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。
[0024]本申请提供一种芯片验证方法。参照图1所示，为本申请芯片验证方法的实施例的方法流程示意图。该方法可以由一个电子设备执行，该电子设备可以由软件和/或硬件实现。芯片验证方法包括：
[0025]步骤S10：根据待验证芯片的架构图和/或设计文档，确定所述待验证芯片中执行测试的模块及所述模块所属的子系统，其中，所述子系统至少由两个所述模块组成；
[0026]步骤S20：分别构建所述模块的验证环境和所述子系统的验证环境；
[0027]步骤S30：基于所述模块的验证环境对所述模块进行验证，基于所述子系统的验证环境对所述子系统进行验证；
[0028]步骤S40：对所述模块及所述子系统完成验证后，获取所述待验证芯片的驱动软件对应的测试数据，基于所述测试数据对所述驱动软件执行验证。
[0029]本实施例中，待验证芯片可以是指已立项的芯片，待验证芯片有对应的需求表、架构图和设计文档，芯片的需求表是指芯片实现的功能或芯片解决的需求的表格，芯片的架构图是指描述芯片对象类别和属性的图。根据架构图对待验证芯片的功能进行分析，对功
能复杂、重要模块进行验证，例如，可以预先将待验证芯片的架构图，与待验证芯片中需要执行测试的模块及子系统建立映射关系，后续根据待验证芯片的架构图，可以确定出该芯片需要执行测试的模块，以及以确定出需要执行测试的子系统，需要执行测试的子系统是模块所属的子系统，例如，模块a属于子系统A，模块a也属于子系统B，则需要执行测试的子系统包括子系统A和子系统B。
[0030]待验证芯片的模块是指芯片内部的硬件模块，该模块是指芯片中最小的功能模块，子系统是指芯片内部的子系统，子系统由至少两个模块组成，对模块执行测试的目的是确保该模块内部规格和功能正确。对模块进行验证的方式是采用单元测试(Unit Test，UT)验证，UT验证的任务包括：模块接口测试、模块局部数据结构测试、模块边界条件测试、模块中所有独立执行通路的测试、及模块的各条错误处理通路的测试中的至少一种。
[0031]对子系统执行测试的目的是确保子系统功能和规格符合要求，子系统的模块之间的数据交互正确，算法的层与层之间交互正确。对子系统进行验证还可以进一步确定子系统内部的模块是否正确，例如，模块a属于子系统A，模块a也属于子系统B，对子系统A和子系统B进行验证，可以进一步确定模块a是否正确，对子本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片验证方法，其特征在于，所述方法包括：根据待验证芯片的架构图和/或设计文档，确定所述待验证芯片中执行测试的模块及所述模块所属的子系统，其中，所述子系统至少由两个所述模块组成；分别构建所述模块的验证环境和所述子系统的验证环境；基于所述模块的验证环境对所述模块进行验证，基于所述子系统的验证环境对所述子系统进行验证；对所述模块及所述子系统完成验证后，获取所述待验证芯片的驱动软件对应的测试数据，基于所述测试数据对所述驱动软件执行验证。2.如权利要求1所述的芯片验证方法，其特征在于，所述根据待验证芯片的架构图和/或设计文档，确定所述待验证芯片中执行测试的模块及所述模块所属的子系统，包括：根据待验证芯片的架构图和/或设计文档，确定所述待验证芯片支持的规格和测试场景；接收基于所述规格和所述测试场景输入的编辑指令；根据所述编辑指令确定所述待验证芯片中执行测试的模块及所述模块所属的子系统。3.如权利要求2所述的芯片验证方法，其特征在于，所述根据待验证芯片的架构图和/或设计文档，确定所述待验证芯片支持的规格和测试场景，包括：提取所述设计文档的文本信息；将所述文本信息输入预先训练的语义分析模型，得到所述设计文档的语义关键词；利用所述语义关键词从预先构建的测试场景库中匹配出所述待验证芯片支持的测试场景。4.如权利要求1所述的芯片验证方法，其特征在于，所述基于所述模块的验证环境对所述模块进行验证，包括：获取预先确定的所述模块的测试点，根据所述模块的测试点生成所述模块的测试点表单；将所述模块的测试点表单与预先构建的模块用例库进行匹配，获得所述模块的测试点表单对应的模块测试用例信息；基于所述模块的验证环境及所述模块测试用例信息，对所述模块的测试点进行单元测试验证，得到所述模块的测试点的验证结果。5.如权利要求1所述的芯片验证方法，其特征在于，所述基于所述测试数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨碧，蔡权雄，牛昕宇，
申请(专利权)人：山东产研鲲云人工智能研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：