本发明专利技术公开了一种SoC芯片GPIO引脚验证系统与方法,包括待测SoC芯片和可编程逻辑器件,所述验证模块通过通信总线与待测SoC芯片通信连接;所述可编程逻辑器件内配置有与待测SoC芯片中的第一GPIO模块相匹配的第二GPIO模块,所述第二GPIO模块的各引脚分别与第一GPIO模块的各引脚一一对应连接;所述待测SoC芯片的存储器件中存放有GPIO配置程序、测试用例和GPIO参数的预设值;所述可编程逻辑器件,用于根据所述GPIO配置程序来配置第二GPIO模块各引脚的状态,再根据所述测试数据对所述待测SoC芯片的各GPIO引脚的输入输出功能进行验证。本发明专利技术待测SoC芯片可以完成GPIO接口的自测试,不需要外部主设备的介入,简化了验证架构和流程,节约了成本和时间,提高了验证效率。提高了验证效率。提高了验证效率。
【技术实现步骤摘要】
一种SoC芯片GPIO引脚验证系统与方法
[0001]本专利技术涉及IC验证
,特别涉及一种SoC芯片GPIO引脚验证系统与方法。
技术介绍
[0002]SoC(System on Chip,片上系统)芯片是在单个硅片上集成了包括数字、模拟以及处理器等功能在内的系统;SoC芯片已经成为目前信息
中最关键的技术,它是迅速发展的超大规模集成电路的主要技术,是电子器件持续集成发展的必然结果;而GPIO(General Purpose/Input Output)作为SoC芯片通用的I/O接口,可应用于所有的外设部件,可以解决应用的不确定性问题;因此,GPIO接口是很多集成电路公司的重要产品,大部分SoC芯片产品支持8、16、32个GPIO,还有支持更多的。因此,在芯片研发过程中,需要对SoC芯片的GPIO功能模进行充分验证,从而保证最终的芯片产品的正确性。
[0003]目前,对于GPIO的验证方法,一种是传统的输入功能验证,手动闭或开按钮从而来控制外部的高低电平,软件读取GPIO的状态来验证输入信号的正确与否,通过软件设置GPIO的输出电平高低,来驱动LED的亮或者灭,展示其输出功能,这种验证输入输出的方式需要人工参与为前提,效率低下;而大部分SoC芯片有多个GPIO接口,为了简化验证步骤,将所有GPIO连接在一起,只通过一个开关信号、或者一个LED来验证输入输出功能,虽然步骤得到了简化,但是这种方式验证不够充分,并不能验证到各个GPIO接口之间的相互影响,同时还需要少量的人工参与。另一种方法是通过外接上位机(微控制器芯片)来配合验证,该方法通过配置SoC芯片的GPIO为输出模式,输出高电平或者低电平,使用微控制器芯片读取GPIO的电平值,观察SoC芯片是否能正常输出高电平或者低电平,从而消除传统方法人工验证的效率低、可靠性低的问题;但是,该方法由于待测SoC芯片和微控制器芯片都是主设备,并没有从设备,在芯片间进行通信交互时需要额外增加硬件设备从而增加了成本;测试程序需要通过上位机下载到验证模块中,再转到待测SOC芯片,而且设备之间的通信总线一般都为速率较低的计算机总线,不管从程序加载的步骤上,还是数据传输速度上,效率都是偏低的,并且微控制器芯片的程序开发工作量大,验证平台搭建效率也有待提高。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于克服现有技术中的不足,提供一种SoC芯片GPIO引脚验证系统与方法,不需要外接上位机对SoC芯片进行程序的配置,只需将预设的测试程序存放在待测SoC芯片的存储器件中,通过利用可编辑器件即可实现验证,简化了验证架构和流程,节约了成本和时间,提高了验证效率。
[0005]为达到上述目的,本专利技术是采用下述技术方案实现的:
[0006]第一方面,本专利技术提供一种SoC芯片GPIO引脚验证系统,包括待测SoC芯片和可编程逻辑器件,所述验证模块通过通信总线与待测SoC芯片通信连接;
[0007]所述可编程逻辑器件内配置有与待测SoC芯片中的第一GPIO模块相匹配的第二GPIO模块,所述第二GPIO模块的各引脚分别与第一GPIO模块的各引脚一一对应连接;
[0008]所述待测SoC芯片的存储器件中存放有GPIO配置程序、测试用例和GPIO参数的预设值;
[0009]所述可编程逻辑器件,用于根据所述GPIO配置程序来配置第二GPIO模块各引脚的状态,再根据所述测试数据对所述待测SoC芯片的各GPIO引脚的输入输出功能进行验证。
[0010]结合第一方面,优选地,验证输入功能时,所述第一GPIO模块的各引脚设置为输入,所述第二GPIO模块的各引脚设置为输出;
[0011]所述待测SoC芯片,用于通过通信总线向可编程逻辑器件发送测试用例;
[0012]所述可编程逻辑器件,用于根据所述测试用例利用第二GPIO模块向第一GPIO模块发送测试数据,以测试第一GPIO模块各引脚的输入功能;
[0013]所述存储器件,用于根据第一GPIO模块各引脚接收到的数据与对应的GPIO参数的预设值进行比对,验证所述待测SoC芯片各GPIO引脚的输入参数是否出错。
[0014]结合第一方面,优选地,验证输出功能时,所述第一GPIO模块的各引脚设置为输出,所述第二GPIO模块的各引脚设置为输入;
[0015]所述待测SoC芯片,用于根据测试用例通过第一GPIO模块向第二GPIO模块发送测试数据,以测试第一GPIO模块各引脚的输出功能;
[0016]所述可编程逻辑器件,用于将第二GPIO模块各引脚接收到的数据通过通信总线反馈至所述待测SoC芯片的存储器件中;
[0017]所述存储器件,用于根据可编程逻辑器件反馈的数据与对应的GPIO参数的预设值进行比对,验证所述待测SoC芯片各GPIO引脚的输出参数是否出错。
[0018]结合第一方面,优选地,所述可编程逻辑器件采用CPLD或者FPGA芯片。
[0019]结合第一方面,优选地,所述测试用例包括验证待测SoC芯片各GPIO引脚的浮空输入功能、禁止输入功能、上拉输入功能、下拉输入功能、中断输入功能、推挽输出功能、禁止输出功能和开漏输出功能。
[0020]结合第一方面,优选地,所述可编程逻辑器件的通信总线接口配置为:通用异步收发传输器UART、集成电路总线接口IIC、串行外设接口SPI、低引脚数总线接口LPC、增强系列外围接口eSPI或者边界扫描测试接口JTAG。
[0021]结合第一方面,优选地,所述可编程逻辑器件中设有LED显示器;所述LED显示器与第二GPIO模块连接,用于显示验证通过与否。
[0022]第二方面,本专利技术提供一种SoC芯片GPIO引脚验证方法,应用于如第一方面任一所述的SoC芯片GPIO引脚验证系统,其特征在于,所述方法包括:
[0023]根据GPIO配置程序设置第一GPIO模块各引脚的状态和第二GPIO模块各引脚的状态,所述第二GPIO模块各引脚的状态与分别其对应连接的第一GPIO模块中各引脚的状态相反;
[0024]基于所述测试用例,通过第二GPIO模块中状态为输出的各引脚向第一GPIO模块中状态为输入的各引脚发送测试数据;
[0025]将第一GPIO模块中状态为输入的各引脚接收到的数据与对应的GPIO参数的预设值进行比对,验证所述待测SoC芯片各GPIO引脚的输入参数是否出错;
[0026]基于所述测试用例向,通过第一GPIO模块中状态为输出的各引脚向第二GPIO模块中状态为输入的各引脚发送测试数据;
[0027]将第二GPIO模块中状态为输入的各引脚接收到的数据与对应的GPIO参数的预设值进行比对,验证所述待测SoC芯片各GPIO引脚的输出参数是否出错。
[0028]结合第二方面,优选地,所述根据GPIO配置程序设置第一GPIO模块各引脚的状态和第二GPIO模块各引脚的状态,包括:将第一GPIO模块的各引脚状态全部设置为输入、全部设置为输出、或者一部分设置为输出另一部分设置为输入本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种SoC芯片GPIO引脚验证系统,其特征在于,包括待测SoC芯片和可编程逻辑器件,所述验证模块通过通信总线与待测SoC芯片通信连接;所述可编程逻辑器件内配置有与待测SoC芯片中的第一GPIO模块相匹配的第二GPIO模块,所述第二GPIO模块的各引脚分别与第一GPIO模块的各引脚一一对应连接;所述待测SoC芯片的存储器件中存放有GPIO配置程序、测试用例和GPIO参数的预设值;所述可编程逻辑器件,用于根据所述GPIO配置程序来配置第二GPIO模块各引脚的状态,再根据所述测试数据对所述待测SoC芯片的各GPIO引脚的输入输出功能进行验证。2.根据权利要求1所述的SoC芯片GPIO引脚验证系统,其特征在于,验证输入功能时,所述第一GPIO模块的各引脚设置为输入,所述第二GPIO模块的各引脚设置为输出;所述待测SoC芯片,用于通过通信总线向可编程逻辑器件发送测试用例;所述可编程逻辑器件,用于根据所述测试用例利用第二GPIO模块向第一GPIO模块发送测试数据,以测试第一GPIO模块各引脚的输入功能;所述存储器件,用于根据第一GPIO模块各引脚接收到的数据与对应的GPIO参数的预设值进行比对,验证所述待测SoC芯片各GPIO引脚的输入参数是否出错。3.根据权利要求1所述的SoC芯片GPIO引脚验证系统,其特征在于,验证输出功能时,所述第一GPIO模块的各引脚设置为输出,所述第二GPIO模块的各引脚设置为输入;所述待测SoC芯片,用于根据测试用例通过第一GPIO模块向第二GPIO模块发送测试数据,以测试第一GPIO模块各引脚的输出功能;所述可编程逻辑器件,用于将第二GPIO模块各引脚接收到的数据通过通信总线反馈至所述待测SoC芯片的存储器件中;所述存储器件,用于根据可编程逻辑器件反馈的数据与对应的GPIO参数的预设值进行比对,验证所述待测SoC芯片各GPIO引脚的输出参数是否出错。4.根据权利要求1所述的SoC芯片GPIO引脚验证系统,其特征在于,所述可编程逻辑器件采用CPLD或者FPGA芯片。5.根据权利要求1所述的SoC芯片GPIO引脚验证系统,其特征在于,所述测试用例包括验证待测SoC芯片各GPIO引脚的浮空输入功能、禁止输入功能、上拉输入功能、下拉输入功能、中...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈强,韩娇,
申请(专利权)人:无锡先进技术研究院,
类型:发明
国别省市:
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