ICP-OES法测定电感粉末中铁、硅、铬含量的方法技术

ICP

【技术实现步骤摘要】
ICP
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OES法测定电感粉末中铁、硅、铬含量的方法


[0001]本专利技术涉及一种测定电感粉末成分的方法，具体涉及一种测定电感粉末中铁、硅、铬含量的方法。

技术介绍

[0002]近年来随着计算机、电子科技、智能化领域的飞速发展，新型电感元器件的研究进程也在突飞猛进。FeSiCr软磁合金粉末由于磁导率高、损耗低，有极好的高频特性被广泛的用于片式电感、交流电感等电感原件的磁性基材。
[0003]CN202110315789.X公开了“一种适用于ICP
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OES的CrSi合金制样方法”，填补了CrSi合金靶材进行ICP
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OES测试时的制样空白。但其在测定过程使用的氢氟酸在测试过程中会对测试产生干扰，对不耐氢氟酸的测试系统也不友好。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题是，克服现有技术存在的上述缺陷，提供一种精确度和重复性高的ICP
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OES法测定电感粉末中铁、硅、铬含量的方法。
[0005]本专利技术解决其技术问题所采用的技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种ICP
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OES法测定电感粉末中铁、硅、铬含量的方法，其特征在于，样品的处理方法为：（1）将磨细的待测电感粉末样品在40℃~70℃烘2h~4h，过100~250目筛，得试样；（2）用王水溶解所述试样，控制温度在50℃~70℃，保温至90%以上的试样溶解；加入氢氟酸，待试样完全溶解，加入硼酸，混合均匀，静置1~2h，过滤，得滤液；（3）将所述滤液根据待测元素含量进行分级稀释定容，得待测液。2.根据权利要求1所述的ICP
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OES法测定电感粉末中铁、硅、铬含量的方法，其特征在于，步骤（1）中，所述待测电感粉末样品可为成品粉末或半成品粉末。3.根据权利要求1或2所述的ICP
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OES法测定电感粉末中铁、硅、铬含量的方法，其特征在于，步骤（1）中，所述待测电感粉末样品中的硅、铬元素含量都为0.01%~10%时，称取样品的量为0.5000g
±
0.0002g。4.根据权利要求1~3中任一项所述的ICP
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OES法测定电感粉末中铁、硅、铬含量的方法，其特征在于，步骤（2）中，所述王水由浓硝酸与浓盐酸以1：3的体积比配置，王水与样品的体积质量比为18~23 mL:1g；氢氟酸的浓度为45~55 wt%，氢氟酸与样品的体积质量比为5~8 mL:1g。5.根据权利要求1~4中任一项所述的ICP
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OES法测定电感粉末中铁、硅、铬含量的方法，其特征在于，步骤（2）中，硼酸的浓度为45~55 wt%，硼酸与氢氟酸的体积比为1:2.5~3.5。6.根据权利要求1~5中任一项所述的ICP
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OES法测定电感粉末中铁、硅、铬含量的方法，其特征在于，步骤（3）中，待测电感粉末样品中的铁、硅、铬任一元素含量在0.01%~0.2%时，试样溶解定容后，稀释40~60倍得待测液；待测电感粉末试样中的...

【专利技术属性】
技术研发人员：林明圆，胡盛青，陈晓宇，黄小琴，李思佳，
申请(专利权)人：湖南航天磁电有限责任公司，
类型：发明
国别省市：