【技术实现步骤摘要】
一种氧化铝靶材及其制备方法
[0001]本申请涉及氧化物靶材生产
,尤其涉及一种氧化铝靶材及其制备方法。
技术介绍
[0002]半导体工艺水平发展,器件的尺寸逐渐微缩化,对于薄膜材料的要求越来越高,Al2O3薄膜因为自身的高介电常数,高带隙,高透光率得到广泛的应用作为。Al2O3薄膜的制备是采用原子层沉积技术生产的,薄膜均匀度和质量都有较高水平,而在Al2O3薄膜的制备过程中通常采用磁控溅射的方法,磁控溅射的工作原理是指电子在电场E的作用下,在飞向基片过程中与氩原子发生碰撞,使其电离产生出Ar正离子和新的电子;新电子飞向基片,Ar离子在电场作用下加速飞向阴极靶,并以高能量轰击靶表面,使靶材发生溅射。在溅射粒子中,中性的靶原子或分子沉积在基片上形成薄膜,因此,氧化铝靶材的质量是对于Al2O3薄膜的制备至关重要,例如靶材本身的致密度,靶材的致密度不高时,不易吸附,无空隙,背靶易脱落,而当靶材致密度较高,靶材固体中的气孔含量减少,有助于提高溅射薄膜的性能,同时,提高靶材密度也能够使靶材能更好地承受溅射过程中的热应力。 >[0003]与此同本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种氧化铝靶材的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:制备氧化铝粉末;步骤2:将步骤1制得的氧化铝粉末装入模具中压制成型,制得氧化铝坯体;步骤3:将步骤2制得的氧化铝坯体进行冷等静压处理,得到高密度氧化铝坯体;步骤4:将步骤3制得的高密度氧化铝坯体进行高温烧结,制得氧化铝靶材;所述步骤4具体为:在常压烧结炉中的承烧板上铺一层烧结后的氧化铝砂,将步骤3制得的高密度氧化铝坯体放置在氧化铝砂上,以0.5
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1℃/min的升温速率,升温至1000℃,且在升温过程中,每升高200℃保温2
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4h;升至1000℃后保温2
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4h,再以0.01
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0.3℃/min的速率升温至1500
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1600℃,且在升温过程中,每升高30
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200℃保温2
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10h;步骤4处于空气气氛下进行。2.根据权利要求1所述的氧化铝靶材的制备方法,其特征在于,所述步骤1具体为:将氧化铝原料加入到砂磨机中,且砂磨过程所使用的锆球直径为0.3
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0.5mm;在加入氧化铝原料的同时,向砂磨机内加入相对氧化铝原料含量的5%
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10%的聚乙烯醇溶液,所述聚乙烯醇溶液中,聚乙烯醇的含量为10%
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15%,结束砂磨后进行喷雾干燥,干燥进口温度180
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200℃,出口70
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100℃,制得D90<0.5um氧化铝粉末。3.根据权利要求1所述的氧化铝靶材的制备方法,其特征在于,所述步骤2具体为:将步骤1制得的氧化铝粉末装入模具中,设置压力≥16000KN进行机械压制,将机械压制后的坯体进行边角打磨,随后真空包装;所述边角打磨的边角半径R为0.5
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1mm。4.根据权利要求1所述的氧化铝靶材的制备方法,其特征在于,所述步骤3具体为:将步骤2制得的包装后的氧化铝坯体以10
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20MPa/min的升压速率升至200MPa
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300MPa压力下进行冷等静压5
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10min,随后,以30
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50MPa/min的降压速率降压至压力为0MPa,且在降压过程中,压力每降低50MPa时,保压静置1min...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘文杰,高日旭,余芳,邵学亮,童培云,
申请(专利权)人:先导薄膜材料广东有限公司,
类型:发明
国别省市:
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