一种氧化铝靶材及其制备方法技术

技术编号:37874818 阅读:35 留言:0更新日期:2023-06-15 21:03
本申请涉及氧化物靶材生产技术领域,公开了一种氧化铝靶材及其制备方法,包括以下步骤:制备氧化铝粉末;将氧化铝粉末装入模具中压制成型,制得氧化铝坯体;将氧化铝坯体进行冷等静压处理,得到高密度氧化铝坯体;空气气氛下在常压烧结炉中,承烧板上铺一层烧结后的氧化铝砂,将高密度氧化铝坯体放置在氧化铝砂上层,以0.5

【技术实现步骤摘要】
一种氧化铝靶材及其制备方法


[0001]本申请涉及氧化物靶材生产
,尤其涉及一种氧化铝靶材及其制备方法。

技术介绍

[0002]半导体工艺水平发展,器件的尺寸逐渐微缩化,对于薄膜材料的要求越来越高,Al2O3薄膜因为自身的高介电常数,高带隙,高透光率得到广泛的应用作为。Al2O3薄膜的制备是采用原子层沉积技术生产的,薄膜均匀度和质量都有较高水平,而在Al2O3薄膜的制备过程中通常采用磁控溅射的方法,磁控溅射的工作原理是指电子在电场E的作用下,在飞向基片过程中与氩原子发生碰撞,使其电离产生出Ar正离子和新的电子;新电子飞向基片,Ar离子在电场作用下加速飞向阴极靶,并以高能量轰击靶表面,使靶材发生溅射。在溅射粒子中,中性的靶原子或分子沉积在基片上形成薄膜,因此,氧化铝靶材的质量是对于Al2O3薄膜的制备至关重要,例如靶材本身的致密度,靶材的致密度不高时,不易吸附,无空隙,背靶易脱落,而当靶材致密度较高,靶材固体中的气孔含量减少,有助于提高溅射薄膜的性能,同时,提高靶材密度也能够使靶材能更好地承受溅射过程中的热应力。
>[0003]与此同本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种氧化铝靶材的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:制备氧化铝粉末;步骤2:将步骤1制得的氧化铝粉末装入模具中压制成型,制得氧化铝坯体;步骤3:将步骤2制得的氧化铝坯体进行冷等静压处理,得到高密度氧化铝坯体;步骤4:将步骤3制得的高密度氧化铝坯体进行高温烧结,制得氧化铝靶材;所述步骤4具体为:在常压烧结炉中的承烧板上铺一层烧结后的氧化铝砂,将步骤3制得的高密度氧化铝坯体放置在氧化铝砂上,以0.5

1℃/min的升温速率,升温至1000℃,且在升温过程中,每升高200℃保温2

4h;升至1000℃后保温2

4h,再以0.01

0.3℃/min的速率升温至1500

1600℃,且在升温过程中,每升高30

200℃保温2

10h;步骤4处于空气气氛下进行。2.根据权利要求1所述的氧化铝靶材的制备方法,其特征在于,所述步骤1具体为:将氧化铝原料加入到砂磨机中,且砂磨过程所使用的锆球直径为0.3

0.5mm;在加入氧化铝原料的同时,向砂磨机内加入相对氧化铝原料含量的5%

10%的聚乙烯醇溶液,所述聚乙烯醇溶液中,聚乙烯醇的含量为10%

15%,结束砂磨后进行喷雾干燥,干燥进口温度180

200℃,出口70

100℃,制得D90<0.5um氧化铝粉末。3.根据权利要求1所述的氧化铝靶材的制备方法,其特征在于,所述步骤2具体为:将步骤1制得的氧化铝粉末装入模具中,设置压力≥16000KN进行机械压制,将机械压制后的坯体进行边角打磨,随后真空包装;所述边角打磨的边角半径R为0.5

1mm。4.根据权利要求1所述的氧化铝靶材的制备方法,其特征在于,所述步骤3具体为:将步骤2制得的包装后的氧化铝坯体以10

20MPa/min的升压速率升至200MPa

300MPa压力下进行冷等静压5

10min,随后,以30

50MPa/min的降压速率降压至压力为0MPa,且在降压过程中,压力每降低50MPa时,保压静置1min...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘文杰高日旭余芳邵学亮童培云
申请(专利权)人:先导薄膜材料广东有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1