一种台式XAFS测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种台式XAFS测试装置，涉及X射线测试领域，包括X射线源系统，其用于提供4~20keV的宽波段大立体角发散X射线；单色器，其用于将X射线源系统发出的宽波段X射线进行单色化；X射线探测器系统，其用于对单色器单色后的X射线光子进行计数；罗兰圆运动调节机构，其用于分别控制X射线源系统、单色器和X射线探测器系统的位置与姿态；该台式XAFS测试装置，保证在不同的能量都能实现尽量高的能量分辨率，X射线源系统发出的全发散X射线经过单色器单色聚焦到罗兰圆上的对称点上，被X射线探测器系统接收，通过调节X射线入射单色器的入射角度，即可得到连续不同能量的X射线。即可得到连续不同能量的X射线。即可得到连续不同能量的X射线。

【技术实现步骤摘要】
一种台式XAFS测试装置


[0001]本专利技术涉及X射线测试技术，具体涉及一种台式XAFS测试装置。

技术介绍

[0002]X射线吸收谱可以获得物质局域几何结构和电子结构信息，且具有元素选择性，可以对固态、液体态、气态各种物相下的样品进行探测，而且可以获得各种原位条件下结构演化信息，在化学化工、能源材料、催化、环境科学等各种高新
有广泛的应用。
[0003]然而X射线吸收谱的测试几乎完全需要依赖于同步辐射这样的大科学装置，大科学装置有限的实验时间和受限的空间位置远远无法满足来自于科学、工程以及其他
对X射线吸收谱技术的需求，台式X射线吸收谱测试装置可以满足日益增长的科研、工业生产中的X射线吸收谱测试需求，但是，现有台式X射线吸收谱仪器光通量不足，运动控制机构复杂，难以保证长时间运行的稳定性，为此，本方案提出了一种台式XAFS测试装置。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种台式XAFS测试装置，以解决现有技术中的上述不足之处。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种台式XAFS测试装置，其特征在于，包括X射线源系统，其用于提供4~20keV的宽波段大立体角发散X射线；单色器，其用于将X射线源系统发出的宽波段X射线进行单色化；X射线探测器系统，其用于对单色器单色后的X射线光子进行计数，得到X射线吸收谱；罗兰圆运动调节机构，其用于分别控制X射线源系统、单色器和X射线探测器系统的位置与姿态，所述X射线源系统的出光口和探测器对准单色器，且所述X射线源系统和探测器对称设置在单色器法线的两侧。2.根据权利要求1所述的一种台式XAFS测试装置，其特征在于，所述X射线源系统包括X射线管、水冷恒温装置和高压系统，所述X射线管出光口通过Be窗进行密封。3.根据权利要求1所述的一种台式XAFS测试装置，其特征在于，所述单色器采用单晶Si片和单晶Ge片，所述单晶片弯曲曲率半径等于罗兰圆直径的球面。4.根据权利要求1所述的一种台式XAFS测试装置，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：余灿，梅丙宝，柳守杰，胡善玮，肖海龙，
申请(专利权)人：安徽吸收谱仪器设备有限公司，
类型：发明
国别省市：