一种基于Johansson弯晶的XAFS谱仪制造技术

本发明专利技术公开了一种基于Johansson弯晶的XAFS谱仪，包括光源、待测样品、狭缝、探测器和Johannsson弯晶；所述Johansson弯晶的衍射面的半径为R，且Johansson弯晶的衍射面与半径为R的罗兰圆弯曲重合；光源的出射点A位于罗兰圆的圆周上；出射光线被Johansson弯晶反射后在罗兰圆的平面焦点B处聚焦；在平面焦点B处放置待测样品，待测样品的后方设置有狭缝；被Johansson弯晶反射后在平面焦点B处聚焦；平面焦点B处聚焦的光束穿过待测样品后通过位于其后侧的狭缝，经过狭缝后的光束由探测器探测得到光束的光谱。本发明专利技术的基于Johansson弯晶的XAFS谱仪，具有提高集光效率和能谱分辨率、能获得高信噪比的吸收光谱信号等优点。获得高信噪比的吸收光谱信号等优点。获得高信噪比的吸收光谱信号等优点。

【技术实现步骤摘要】
一种基于Johansson弯晶的XAFS谱仪


[0001]本专利技术涉及弯晶谱仪，特别是涉及一种基于Johansson弯晶的XAFS谱仪。

技术介绍

[0002]弯晶谱仪作为托卡马克等离子体温度和旋转速度的重要测量手段，由于不依赖于中性束注入，尤其适合开展低或者无外部动量注入如射频波驱动等离子体旋转等托卡马克前沿物理问题。因此，在EAST、KSTAR、ALCATOR C
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Mod和WEST等国内外多个重要托卡马克装置上配备或者正在发展的诊断手段，也是将来国际热核聚变实验堆ITER上的重要诊断。随着EAST等离子体参数的不断提升，对弯晶谱仪性能有了更高的要求。
[0003]聚焦型弯晶谱仪一般有三种：即Johann型、Johansson型和Von Hamos型。Johann型弯晶，将晶体的衍射面弯曲成曲率半径为2R的圆柱面，弯晶与半径为R的罗兰圆相切，光源1位于罗兰圆上，X射线被弯晶衍射后聚焦在罗兰圆上。Johansson弯晶是将曲率半径为2R的弯晶进行研磨与半径为R的罗兰圆相吻合。在Von Hamos型弯晶谱仪中，将晶体本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于Johansson弯晶的XAFS谱仪，其特征在于，包括光源(1)、待测样品(2)、狭缝(3)、探测器(4)和Johannsson弯晶(5)；所述Johansson弯晶(5)的衍射面的半径为R，且Johansson弯晶(5)的衍射面与半径为R的罗兰圆(6)弯曲重合；光源(1)的出射点A位于罗兰圆(6)的圆周上；出射光线被Johansson弯晶(5)反射后在罗兰圆(6)的平面焦点B处聚焦；在平面焦点B处放置待测样品(2)，待测样品(2)的后方设置有狭缝(3)；被Johansson弯晶(5)反射后在平面焦点B处聚焦；平面焦点B处聚焦的光束穿过待测样品(2)后通过位于其后侧的狭缝(3)，经过狭缝(3)后的光束由探测器(4)探测得到光束的光谱。2.根据权利要求1所述的基于Johansson弯晶的XAFS谱仪，其特征在于，所述光源(1)发射的出射光线为X射线。3.根据权利要求2所述的基于Johansson弯晶的XAFS谱仪，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：申锦，王军政，邢立娜，朱宁，
申请(专利权)人：安徽创谱仪器科技有限公司，
类型：发明
国别省市：