光电信号测量装置、方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光电信号测量装置、方法，涉及光电信号测量技术领域。装置包括：斩波器，通过斩波片对目标光束进行调制，输出透射光和反射光；第一、二光电倍增管，分别设置在透射光、反射光的光路上，分别对透射光、反射光进行光电转换，其中第一光电倍增管位于放置测试样品的样品台远离斩波器的一端；电机，带动斩波片转动，并通过电机编码器输出编码值；信号处理板，采集透射光和反射光对应的电信号，并根据编码值和斩波片的数量得到第一、二参考信号，以及利用第一、二参考信号分别对两电信号进行混频，根据混频得到的未放置测试样品和放置测试样品时得到的第一、二复信号计算测试样品的透射率或反射率。由此，提高光电信号测量精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光电信号测量，尤其涉及一种光电信号测量装置、方法。

技术介绍

1、相关技术中，为了实现光电信号测量，会使用光电开关测量斩波器的频率，但是光电开关自身的光会对测量造成干扰，使得光电信号测量的精度较低。

技术实现思路

1、本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的一个目的在于提出一种光电信号测量装置，以实现高精度的测量。

2、本专利技术的第二个目的在于提出一种光电信号测量方法。

3、为达到上述目的，本专利技术第一方面实施例提出了一种光电信号测量装置，包括：斩波器，被配置为通过斩波片对目标光束进行调制，输出透射光和反射光；第一光电倍增管，设置在所述透射光的光路上，且位于样品台远离所述斩波器的一端，被配置为对所述透射光进行光电转换，其中，所述样品台用于放置测试样品；第二光电倍增管，设置在所述反射光的光路上，被配置为对所述反射光进行光电转换；电机，被配置为带动所述斩波片转动，并通过电机编码器输出编码值；信号处理板，被配置为采集所述透射光和所述反射本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光电信号测量装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的光电信号测量装置，其特征在于，所述信号处理板包括：

3.根据权利要求2所述的光电信号测量装置，其特征在于，所述第一采集模块与所述第二采集模块的结构相同，所述第一采集模块包括：

4.根据权利要求2所述的光电信号测量装置，其特征在于，所述处理芯片包括：

5.根据权利要求4所述的光电信号测量装置，其特征在于，所述参考信号产生模块包括：

6.根据权利要求4所述的光电信号测量装置，其特征在于，所述透射光处理模块与所述反射光处理模块的结构相同，所述透射光处理模块包括：...

【技术特征摘要】

1.一种光电信号测量装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的光电信号测量装置，其特征在于，所述信号处理板包括：

3.根据权利要求2所述的光电信号测量装置，其特征在于，所述第一采集模块与所述第二采集模块的结构相同，所述第一采集模块包括：

4.根据权利要求2所述的光电信号测量装置，其特征在于，所述处理芯片包括：

5.根据权利要求4所述的光电信号测量装置，其特征在于，所述参考信号产生模块包括：

6.根据权利要求4所述的光电信号测量装置，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱纯纯，习建博，李朝阳，汪俊，陶峰，孙彬，
申请(专利权)人：安徽创谱仪器科技有限公司，
类型：发明
国别省市：