【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及同步辐射，具体来说，涉及一种方便调整的x射线谱测试装置。
技术介绍
1、x射线吸收精细结构（xafs）谱可以获得物质局域几何结构和电子结构信息，且具有元素选择性，可以对固态、液体态、气态各种物相下的样品进行探测，而且可以获得各种原位条件下结构演化信息，在化学化工、能源材料、催化、环境科学等各种高新
有广泛的应用。
2、x射线发射谱（xes）本质上是一种荧光过程，入射光子将1s轨道上电子激发留下了空穴而使得原子处于激发状态，高壳层的电子退激发填补低芯能级的空穴而随之产生荧光信号。在入射光能量一定的情况下，荧光信号强度随能量变化的谱线即为xes。xes谱图中包含了丰富的电子结构信息，例如3p-1s退激发产生的kβ1,3以及其卫星峰kβ′可以反映出重要离子的自旋排列状态；由于过渡金属的4p电子轨道往往参与成键，4p-1s退激发产生的kβ2,5以及其卫星峰kβ″反映了重要的化学键信息。xes方法在物质局域结构和电子结构的研究中可以给出一些重要的信息。相对于其它x射线的研究方法，其有几个独特的优势：a).包含自旋信...
【技术保护点】
1.一种方便调整的X射线谱测试装置，包括光源机构、探测机构（3）和单色器机构（5），三者位于一个罗兰圆上；所述的光源机构发出射线；所述的单色器机构（5）将宽波段射线进行单色化；所述的探测机构（3）对单色后的射线光子进行计数；
2.根据权利要求1所述的一种方便调整的X射线谱测试装置，其特征在于，所述的光源切换机构（2）包括光源移动机构（21），沿所述光源移动机构（21）的长度方向，多个光源在光源移动机构（21）上运动；在所述光源移动机构（21）上，设置有射线发射位，当光源切换完成后，至少一个光源位于射线发射位处。
3.根据权利要求2所述的一种方便...
【技术特征摘要】
1.一种方便调整的x射线谱测试装置，包括光源机构、探测机构（3）和单色器机构（5），三者位于一个罗兰圆上；所述的光源机构发出射线；所述的单色器机构（5）将宽波段射线进行单色化；所述的探测机构（3）对单色后的射线光子进行计数；
2.根据权利要求1所述的一种方便调整的x射线谱测试装置，其特征在于，所述的光源切换机构（2）包括光源移动机构（21），沿所述光源移动机构（21）的长度方向，多个光源在光源移动机构（21）上运动；在所述光源移动机构（21）上，设置有射线发射位，当光源切换完成后，至少一个光源位于射线发射位处。
3.根据权利要求2所述的一种方便调整的x射线谱测试装置，其特征在于，所述的光源切换机构（2）包括光源固定板（27），所述的多个光源安装在光源固定板（27）上，所述光源固定板（27）沿光源移动机构（21）的长度方向移动。
4.根据权利要求3所述的一种方便调整的x射线谱测试装置，其特征在于，所述的光源通过安装架安装在光源固定板（27）上，至少一个安装架包括第二光源底板（291），所述的第二光源底板（291）侧边设置加强件（292），所述的加强件（292）对第二光源底板（291）进行加固；所述的第二光源底板（291）侧边设置底板突起（293），所述第二光源底板（291）通过底板突起（293）与第二光源固定件（271）连接，所述的第二光源固定件（271）将光源固定在第二光源底板（291）上；所述第二光源固定件（271）与光源固定板（27）连接。
5.根据权利要求3所述的一种方便调整的x射线谱测试装置，其特征在于，在多个光源的安装架中，至少一个安装架包括第一光源底板（87），在所述第一光源底板（87）相对的两侧边分别设置狭缝固定板（84）和立柱（85），在所述狭缝固定板（84）和立柱（85）之间，设置遮光板（86），所述的狭缝固定板（84）、立柱（85）和遮光板（86）形成一个放置空间；在所述放置空间中设置样品支架（83），所述样品支架（83）的角度可调；在所述样品支架（83）远离遮光板（86）的一侧，光源...
【专利技术属性】
技术研发人员：聂峰，柳守杰，余灿，梅丙宝，肖海龙，
申请(专利权)人：安徽吸收谱仪器设备有限公司，
类型：发明
国别省市：
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