用于WCDMA系统同频多小区下行的参数测量方法技术方案

技术编号:3787277 阅读:261 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种用于WCDMA系统同频多小区下行的参数测量方法:对待测量集依次循环,循环因子i=1~N,N为待测量集的元素个数,依次得到Ec,i和Io,i,根据得到的Ec,i和Io,i,计算Ec,j/Io。本方法克服了传统PCPICH信道Ec/Io参数测量方法无法应用于频率偏差较大环境的缺点,针对同频多小区基站间存在的频率偏差,利用快速傅立叶变化,将解扰后的数据变换到频域,在频域准确有效地进行PCPICH的Ec/Io的参数测量,克服了大频率偏差情况下累积相偏造成时域累加结果出现误差的缺陷。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
用于WCDMA系统同频多小区下行的参数测量方法,其特征在于包括以下步骤: 步骤一:对待测量集依次循环下述过程,循环因子i=1~N,N为待测量集的元素个数,依次得到Ec,i和Io,i: (1)WCDMA基站在PCPICH上发送的数 据为其使用的扰码SC与+1/-1的乘积,扰码SC以帧为周期,在解扰模块进行解扰之后,PCPICH承载的是频率为频偏的单音信号,用待测量集第i个元素生成相应的扰码SC,并对一帧数据进行解扰,得到Dsc,i=〈dsci1,dsci2,…,dsci38400〉; (2)在按窗长累加模块,按照窗长W对Dsc,i进行累加,得到Asc,i=〈asci1,as...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:施英
申请(专利权)人:京信通信系统中国有限公司
类型:发明
国别省市:81[中国|广州]

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