本发明专利技术提供一种用于半导体装置的性能检测装置，属于半导体器件性能检测技术领域，该用于半导体装置的性能检测装置，包括检测机构，检测机构包括安装架，安装架上设置有对称分布的横向定位件，横向定位件上均对称且转动设置有圆柱状的纵向定位件。该用于半导体装置的性能检测装置，通过横向定位件以及在横向定位件上对称设置圆柱状的纵向定位件快速的对电源进行定位并完成电源与连接端的连接，且在定位连接的过程中，纵向定位件始终在电源与连接端连接之前先对电源进行定位并可以自动的对电源的位置状态进行调整，使后续电源与连接端可以快速顺利的连接在一起，有效提高了电源批量检测的效率以及检测过程的稳定性和顺利度。度。度。
【技术实现步骤摘要】
一种用于半导体装置的性能检测装置
[0001]本专利技术涉及半导体器件性能检测
，具体为一种用于半导体装置的性能检测装置。
技术介绍
[0002]半导体激光器是一种转换效率高、易于控制光电转换的器件，被广泛用于通讯医疗、国防军工等领域，其内的驱动电源是半导体激光器的核心组成部分，驱动电源性能的好坏直接影响着半导体激光器输出光功率的稳定性、激光质量以及激光器的使用寿命，因此，在半导体激光器电源批量化生产出来之后，会对电源的导电性能进行检测以剔除不合格的电源产品，而电源导电性能检测的方法主要会通过观察电源驱动下激光头的发射状态以及发出的激光的状态来判断。
[0003]现有的半导体激光器根据结构划分主要有两种，一种是驱动电源与激光头固定设置在一起的一体式半导体激光器，另外一种则是驱动电源与激光头独立分开的分体式激光器，在进行性能检测的过程中，前者只需要直接启动电源，即可进行测试，而后者则需要先接入激光头，然后才能进行检测。
[0004]目前，针对分体式半导体激光器性能的检测效率还有待提高，尤其是批量检测的效率，在检测的过程中，需要人工或者机械将半导体激光器的电源与激光头连接在一起，前者效率较低，而后者受到连接精度的影响，会降低连接的速度，进而降低了检测的效率。
技术实现思路
[0005]本专利技术提供用于半导体装置的性能检测装置，以解决相关技术中分体式半导体激光器性能检测效率低的问题。
[0006]本专利技术提供了一种用于半导体装置的性能检测装置，该用于半导体装置的性能检测装置，包括输送机构、检测机构，输送机构用于将电源以水平放置的状态送至检测工位，检测机构位于检测工位，且检测机构包括安装架，安装架上设置有对称分布的横向定位件，其中一个横向定位件上设置有连接端，连接端通过导线连接有激光头，激光头设置在安装架上，横向定位件上均对称且转动设置有圆柱状的纵向定位件，纵向定位件位于当前横向定位件靠近另一个横向定位件的一侧，在检测的过程中，当电源位于检测工位后，横向定位件分别从电源的两侧向电源所在移动直至连接端与电源连接，在此期间，纵向定位件同步随着横向定位件移动且纵向定位件始终在连接端与电源连接之前先行从电源的另外两侧对电源进行定位。
[0007]在一种可能实施的方式中，设置有连接端的所述横向定位件上弹性滑动连接有带接触面的定位辅助件，接触面上设置有供连接端活动的通孔，在横向定位件分别从电源的两侧向电源的方向移动直至连接端与电源连接的过程中，接触面先与电源接触，之后，随着横向定位件之间间距的缩小，连接端穿过通孔与电源连接，而在完成测试后，随着横向定位件之间间距的增大，连接端先与电源断开，之后，随着间距的持续增大，接触面与电源分离。
[0008]在一种可能实施的方式中，所述检测机构还包括主动控制件，主动控制件与纵向定位件一一对应并在横向定位件移动的过程中控制纵向定位件转动，主动控制件包括相互啮合的齿轮和齿条，齿轮与纵向定位件同轴且固定连接，齿条设置在安装架上且在横向定位件移动的方向上处于限位的状态。
[0009]在一种可能实施的方式中，所述输送机构包括输送带和区域限位组件，区域限位组件位于检测工位处，区域限位组件包括若干沿着输送方向均匀且水平分布的转轴，若干转轴构成一个水平的承接面，承接面贴靠在检测工位处的输送带的下方。
[0010]在一种可能实施的方式中，所述横向定位件上设置有用于调节其上对称设置的纵向定位件间距的间距调节机构，间距调节机构包括双向螺纹杆，双向螺纹杆上对称设置有滑动块，转动双向螺纹杆通过滑动块带动纵向定位件同步反向滑动。
[0011]在一种可能实施的方式中，设置有连接端的所述横向定位件包括纵向滑动部分和横向调节部分，横向调节部分滑动连接在纵向滑动部分上，定位辅助件和连接端均连接在横向调节部分上。
[0012]在一种可能实施的方式中，所述横向定位件同步运动，且二者通过齿轮齿条组件连动。
[0013]本专利技术实施例中的上述一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果之一：1、根据本专利技术实施例提供的一种用于半导体装置的性能检测装置，通过横向定位件以及在横向定位件上对称设置圆柱状的纵向定位件快速的对电源进行定位并完成电源与连接端的连接，且在定位连接的过程中，纵向定位件始终在电源与连接端连接之前先对电源进行定位并可以自动的对电源的位置状态进行调整，使后续电源与连接端可以快速顺利的连接在一起，有效提高了电源批量检测的效率以及检测过程的稳定性和顺利度，其次，结合定位辅助件对电源连接以及断开状态的控制，使电源在与连接端连接或者断开的过程中均先处于固定状态再进行连接或者断开，既提高了连接过程的稳定性和顺利度，又提高了断开过程的顺利度和稳定性，避免发生电源随着连接端移动而移动致使二者没能顺利分开的情况，同时便于后续检测过程顺利稳定性的进行。
[0014]2、根据本专利技术实施例提供的一种用于半导体装置的性能检测装置，通过通过主动控制件主动的控制纵向定位件转动，使纵向定位件快速顺利的对电源进行定位并自动的对电源位置状态进行调节，且整个过程无需增设驱动，整体结构也非常简单，具有较高的使用价值和经济价值，其次，在此基础上，可进一步通过提高横向定位件的滑动速度提高检测的效率。
[0015]3、根据本专利技术实施例提供的一种用于半导体装置的性能检测装置，通过输送带与区域限位组件的配合，在持续输送电源的过程中，为检测工位处的电源提供稳定的放置面，进一步提高电源放置位置的精度，便于检测过程快速顺利的进行。
[0016]4、根据本专利技术实施例提供的一种用于半导体装置的性能检测装置，通过间距调节机构对横向定位件上的纵向定位件之间的间距进行调节，使本专利技术在一定程度上可快速稳定的对不同尺寸的电源进行批量检测。
附图说明
[0017]图1是本专利技术实施例提供的一种用于半导体装置的性能检测装置的检测机构以及
输送机构的结构示意图。
[0018]图2是本专利技术实施例提供的一种用于半导体装置的性能检测装置的输送结构以及局部的检测机构的结构示意图。
[0019]图3是本专利技术实施例提供的一种用于半导体装置的性能检测装置的主动控制件的俯视结构示意图。
[0020]图4是本专利技术实施例提供的一种用于半导体装置的性能检测装置的横向定位件与纵向定位件的结构示意图。
[0021]图5是本专利技术实施例提供的一种用于半导体装置的性能检测装置的纵向定位件对不同放置状态下的电源进行位置状态调节的过程示意图。
[0022]图中：1、输送机构；2、检测机构；3、间距调节机构；101、输送带；102、区域限位组件；201、安装架；202、横向定位件；203、纵向定位件；204、连接端；205、主动控制件；206、定位辅助件；301、双向螺纹杆；302、滑动块。
具体实施方式
[0023]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术。但是本专利技术能够以很多本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于半导体装置的性能检测装置，其特征在于：包括输送机构（1），所述输送机构（1）用于将电源以水平放置的状态送至检测工位；检测机构（2），所述检测机构（2）位于检测工位，且检测机构（2）包括安装架（201），安装架（201）上设置有对称分布的横向定位件（202），其中一个横向定位件（202）上设置有连接端（204），连接端（204）通过导线连接有激光头，激光头设置在安装架（201）上，横向定位件（202）上均对称且转动设置有圆柱状的纵向定位件（203），纵向定位件（203）位于当前横向定位件（202）靠近另一个横向定位件（202）的一侧；在检测的过程中，当电源位于检测工位后，横向定位件（202）分别从电源的两侧向电源移动直至连接端（204）与电源连接，在此期间，纵向定位件（203）同步随着横向定位件（202）移动且纵向定位件（203）始终在连接端（204）与电源连接之前先行从电源的另外两侧对电源进行定位。2.根据权利要求1所述的一种用于半导体装置的性能检测装置，其特征在于：设置有连接端（204）的所述横向定位件（202）上弹性滑动连接有带接触面的定位辅助件（206），接触面上设置有供连接端（204）活动的通孔，在横向定位件（202）分别从电源的两侧向电源移动直至连接端（204）与电源连接的过程中，接触面先与电源接触，之后，随着横向定位件（202）之间间距的缩小，连接端（204）穿过通孔与电源连接，而在完成测试后，随着横向定位件（202）之间间距的增大，连接端（204）先与电源断开，之后，随着间距的持续增大，接触面与电源分离。3.根据权利要求1所述的一种用于半导体装置的性能检测装置，其特征在于：所述检测机构（2）还包...
【专利技术属性】
技术研发人员：宋海明，
申请(专利权)人：天津安联信科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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