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本发明提供一种用于半导体装置的性能检测装置，属于半导体器件性能检测技术领域，该用于半导体装置的性能检测装置，包括检测机构，检测机构包括安装架，安装架上设置有对称分布的横向定位件，横向定位件上均对称且转动设置有圆柱状的纵向定位件。该用于半导体...
该专利属于天津安联信科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天津安联信科技有限公司授权不得商用。

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