一种各向异性材料对称轴检测系统、方法及设备技术方案

本发明专利技术公开了一种各向异性材料对称轴检测系统、方法及设备，该系统包括：用于放置待检测的各向异性材料的样品的放置平台，超声检测仪，脉冲信号发生器和示波器；其中，超声检测仪的探头通过半固态耦合剂耦合在样品的一个平行面上，探头轴线垂直与平行面；采用同轴电缆将脉冲信号发生器的激励接口与探头连接，脉冲信号发生器的输出接口与示波器连接。通过采用超声直发横波，利用其在各向异性材料中的双折射现象而实现，当波形在特定时间段内达到低谷时，记录探头的接头方向；将探头的接头方向确定为待检测的各向异性材料的样品的对称轴方向。克服了传统检测各向异性材料对称轴时只能采用破坏式的问题。采用破坏式的问题。采用破坏式的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种各向异性材料对称轴检测系统、方法及设备


[0001]本专利技术涉及材料检测
，特别是涉及一种各向异性材料对称轴检测系统、方法及设备。

技术介绍

[0002]各向异性材料，是指在不同的方向，其物理、化学性质表现出不同特征的材料。若要检测获得各向异性材料的对称轴方向，通常采用破坏或变形的方式来测量，即需要破坏材料或者使其形变，只能进行取样测试，因此，对待检测的各向异性材料进行了损坏。

技术实现思路

[0003]针对于上述问题，本专利技术提供一种各向异性材料对称轴检测系统、方法及设备，实现对各向异性材料的无损检测。
[0004]为了实现上述目的，本专利技术提供了如下技术方案：
[0005]一种各向异性材料对称轴检测系统，所述系统包括：
[0006]用于放置待检测的各向异性材料的样品的放置平台，超声检测仪，脉冲信号发生器和示波器；其中，所述超声检测仪的探头通过半固态耦合剂耦合在所述样品的一个平行面上，所述探头轴线垂直与所述平行面；采用同轴电缆将所述脉冲信号发生器的激励接口与所述探头连接，所述脉冲信号发生本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种各向异性材料对称轴检测系统，其特征在于，所述系统包括：用于放置待检测的各向异性材料的样品的放置平台，超声检测仪，脉冲信号发生器和示波器；其中，所述超声检测仪的探头通过半固态耦合剂耦合在所述样品的一个平行面上，所述探头轴线垂直与所述平行面；采用同轴电缆将所述脉冲信号发生器的激励接口与所述探头连接，所述脉冲信号发生器的输出接口与所述示波器连接。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述超声检测仪的探头包括第一探头和第二探头，将所述第一探头和所述第二探头分别耦合在所述样品对应的两个平行面上，其中，所述样品具有两个平行面，所述第一探头和所述第二探头垂直于对应的平行面，且所述第一探头和所述第二探头的轴线重合。3.一种各向异性材料对称轴检测方法，其特征在于，所述方法应用于如权利要求1至2中任一项所述的各向异性材料对称轴检测系统，所述方法包括：分别设置所述脉冲信号发生器和所述示波器的工作模式；控制所述探头沿轴线旋转，并采集所述示波器上的波形；当所述波形在特定时间段内达到低谷时，记录所述探头的接头方向；将所述探头的接头方向确定为待检测的各向异性材料的样品的对称轴方向。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述分别设置所述脉冲信号发生器和所述示波器的工作模式，包括：将所述脉冲信号发生器的工作模式设置为自发自收；调整所述示波器的延时和显示范围，将调整后的示波器的状态确定为所述示波器的当前工作模式。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述当所述波形在特定时间段内达到...

【专利技术属性】
技术研发人员：王晓，贾崇林，韩波，马新翔，
申请(专利权)人：中国航发北京航空材料研究院，
类型：发明
国别省市：