一种基于光学信息判断局部放电严重程度的方法技术

本发明专利技术公开了一种基于光学信息判断局部放电严重程度的方法，具体步骤包括光学信号获取并处理阶段和放电严重程度评估阶段，其中，光学信号获取和处理阶段步骤包括：(1)局部放电光学信号模拟实验；(2)光学探头接收光信号，由光纤传输光信号；(3)光电探测器接收光纤传输的信号；(4)采集卡或采集软件获取信号并处理。此外，放电严重程度评估阶段步骤包括：(1)光学参量获取与阈值分析；(2)放电严重程度判断。断。断。

【技术实现步骤摘要】
一种基于光学信息判断局部放电严重程度的方法


[0001]本专利技术涉及气体绝缘电气设备局部放电领域，具体涉及一种基于光学信息判断局部放电严重程度的方法。

技术介绍

[0002]气体绝缘电气设备因结构紧凑、占地面积小、检修周期长以及安全可靠性高等优点受到越来越多的应用，电气设备的安全运行影响着整个电力系统的稳定。然而，在实际生产生活中设备不可避免的会产生一些缺陷，如生产或安装过程中产生的细小划痕，残留的杂质等，这些缺陷会造成局部放电，进一步发展为绝缘故障，危害电气设备的运行。
[0003]根据放电产生的物理和化学现象，如超声波、光辐射、电磁波辐射、热效应和分解气体等，电气设备的放电故障检测技术可分为电学测法和非电学测法两类。电测法主要包括脉冲电流法和特高频法；非电测法主要包括超声波法、分解气体法和光学检测法等。电测法受到的电磁干扰情况较严重，超声波法仅对近距离效果好且易受噪声干扰，而分解气体法响应较慢，光学检测法可对放电点进行实时监测，受到环境噪声干扰小。
[0004]放电产生的光信号蕴含丰富的信息，可根据不同放电状态下光信号的差本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于光学信息判断局部放电严重程度的方法，其特征在于，包括如下步骤：S1：进行局部放电模拟实验；S2：利用光电探测器获取光信号；S3：对光学参量特征进行选择；S4：判断放电严重程度判断。2.根据权利要求1所述的一种基于光学信息判断局部放电严重程度的方法，其特征在于，所述S1中的局部放电模拟实验用于模拟电气设备一般缺陷，包括针板电晕放电、悬浮放电、沿面放电，用于异常放电光信号的产生。3.根据权利要求1所述的一种基于光学信息判断局部放电严重程度的方法，其特征在于，所述S2中，采用光电倍增管作为接收光信号的光电器件，具有较高灵敏度和较高的量子效率。4.根据权利要求1所述的一种基于光学信息判断局部放电严重程度的方法，其特征在于，所述S3和S4中，对光学信息进行综合分析与处理，对获取的信号构造向量，选择特征参量作为判断标志，对放电严重程度进行判别，光学参量的选择基于所获检测信号的处理结果，对不同的统计结果进行分析，从众多结果中选择有利于区分放电严重程度和放电类型的参数，构造特征向量，结合二维或多维空间的分布，判断放电信息。5.根据权利要求1所述的一种基于光学信息判断局部放电严重程度的方法，其特征在于，所述S4中，对放电严重程度的判断，结合光学参量的选择，通过logistic回归分析确定原始信号的阈值，结合不同气压条件下数据，计算信号信噪比和均方根，通过信号信噪比和均方根的计算与分析，找出光学特征参量和放电严重程度之间的关联性，实现通过光学信息判断放电严...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤贝贝，韩冬，邱宗甲，李康，张国强，
申请(专利权)人：中国科学院电工研究所，
类型：发明
国别省市：