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本发明公开了一种基于光学信息判断局部放电严重程度的方法，具体步骤包括光学信号获取并处理阶段和放电严重程度评估阶段，其中，光学信号获取和处理阶段步骤包括：(1)局部放电光学信号模拟实验；(2)光学探头接收光信号，由光纤传输光信号；(3)光电探...
该专利属于中国科学院电工研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院电工研究所授权不得商用。

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