一种氧过量铁磁性ZrO2薄膜的制备方法技术

技术编号:37858095 阅读:34 留言:0更新日期:2023-06-15 20:48
本发明专利技术提供了一种氧过量铁磁性ZrO2薄膜的制备方法,将衬底置入磁控溅射设备中,开机抽真空,而后Ar离子轰击金属锆靶材进行预溅射;通入反应气体O2,对衬底进行ZrO2薄膜的溅射制备;将制备的ZrO2薄膜样品转入离子注入室,对ZrO2薄膜进行O离子的注入,最终制备得到Zr:O比失衡且O过量的ZrO2铁磁性薄膜。本发明专利技术溅射以金属锆为靶材的ZrO2薄膜的制备,工艺简单,可控操作性强;对所制备ZrO2薄膜进行O离子定量注入,最终达到薄膜中的O过量,使其向铁磁性转变,整个过程不会引入其他杂质。整个过程不会引入其他杂质。

【技术实现步骤摘要】
一种氧过量铁磁性ZrO2薄膜的制备方法


[0001]本专利技术涉及了一种氧过量铁磁性ZrO2薄膜的制备方法,属于薄膜的制备


技术介绍

[0002]传统的铁磁性电子材料都是在半导体的基础上引入掺杂材料,从而在主材料上引入自旋,达到改变材料物理性能,金属掺杂是目前研究较多的掺杂元素,利用自身非金属材料的过量来改变其磁性功能不是很多见,ZrO2便是一种利用本身的Zr:O的变化可进行磁性改变的材料。现有铁磁性ZrO2薄膜的制备方法,主要是对ZrO2靶材进行掺杂得到的。现有方法制备的铁磁性ZrO2薄膜,由于制备过程中掺杂靶材的掺杂量是固定的,其铁磁性的大小也是固定的。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是提供一种氧过量铁磁性ZrO2薄膜的制备方法,其首先使用传统的溅射方法,进行符合化学计量比的ZrO2薄膜的制备,而后再配合O离子的定量注入,达到薄膜中的O过量,从而进一步改变薄膜的磁性。
[0004]一种氧过量铁磁性ZrO2薄膜的制备方法,其特征在于包括以下步骤:1).对衬底材料进行常规超声波清洗;2).将衬底置入本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种氧过量铁磁性ZrO2薄膜的制备方法,其特征在于包括以下步骤:对衬底材料进行常规超声波清洗;将衬底置入磁控溅射设备中,开机抽真空,而后用Ar离子轰击金属锆靶材进行预溅射,达到去除靶材表面氧化物和杂质的目的,当真空度达到一定值时,预溅射完毕;通入反应气体O2,并设定工艺参数,对衬底进行ZrO2薄膜的溅射制备;溅射ZrO2薄膜完毕后,将ZrO2薄膜样品转入离子注入室,对制备的ZrO2薄膜进行O离子的注入...

【专利技术属性】
技术研发人员:沈洪雪彭塞奥李刚姚婷婷
申请(专利权)人:中建材玻璃新材料研究院集团有限公司
类型:发明
国别省市:

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