芯片测试方法、系统、装置及电子设备制造方法及图纸

本申请公开了一种芯片测试方法、系统、装置及非易失性存储介质。其中，该方法包括：确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机，其中，每个测试机唯一对应一个分选机，每个测试机和对应的分选机之间通过地址信息建立通信关系，多个测试机用于对同一待测试芯片集合进行测试；发送每个测试机加载的测试程序至对应的分选机，其中，分选机用于指示芯片抓取设备从待测试芯片集合中抓取与测试程序对应的待测试芯片，并将待测试芯片放置到分选机中；控制多个测试机依据测试程序对待测试芯片集合中的待测试芯片并行测试。本申请解决了由于分选机的工位数量有限，以及芯片测试程序开发困难，造成的芯片测试效率不高、测试复杂度低的技术问题。度低的技术问题。度低的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试方法、系统、装置及电子设备


[0001]本申请涉及半导体测试
，具体而言，涉及一种芯片测试方法、系统、装置及电子设备。

技术介绍

[0002]生产过程中，在进行芯片的测试时，需要将待测试芯片放置在分选机(Handler)的机台上进行测试，每颗芯片的位置对应着分选机上的一个工位(site)，每一个工位都需要一片放置芯片的空间以及对应的硬件链路，因此，一台分选机的测试工位的数量总是有限的。
[0003]同时，芯片的测试是基于测试机(Tester)上加载的测试程序来进行的，一颗芯片的测试标准和结果依赖于一个测试程序的开发，而测试程序在开发的过程中一个测试程序(flow)一般是由一个工程师维护，因此，将多个flow组成一个更庞大的测试程序十分困难，这就造成了芯片凭一套测试程序的复杂度不会太高，无法实现对高复杂度芯片的高质量复杂测试。
[0004]综上，由于分选机的工位数量有限，以及芯片测试程序开发困难，造成芯片测试效率不高、测试复杂度低的技术问题。
[0005]针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机，其中，所述每个测试机唯一对应一个所述分选机，所述每个测试机和对应的所述分选机之间通过地址信息建立通信关系，所述多个测试机用于对同一待测试芯片集合进行测试；发送所述每个测试机加载的所述测试程序至对应的所述分选机，其中，所述分选机用于指示芯片抓取设备从所述待测试芯片集合中抓取与所述测试程序对应的待测试芯片，并将所述待测试芯片放置到所述分选机中；控制所述多个测试机依据所述测试程序对所述待测试芯片集合中的待测试芯片并行测试。2.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述每个测试机和对应的所述分选机之间的通信过程的管理方式包括以下至少之一：指针群，数组或容器。3.根据权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述指针群中包括所述每个测试机对应的指针，在所述管理方式为指针群的情况下，所述确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机的步骤之后，所述芯片测试方法还包括：建立每个测试机对应的指针，其中，所述指针用于管理所述每个测试机与对应的所述分选机之间的通信过程；确定所述每个测试机的地址信息，以及对应的所述分选机的地址信息，其中，所述地址信息的信息类型包括以下至少之一：端口信息，通信地址；依据所述每个测试机的地址信息和对应的所述分选机的地址信息，确定所述每个测试机和对应的所述分选机之间的映射关系。4.根据权利要求3所述的芯片测试方法，其特征在于，所述发送所述每个测试机加载的所述测试程序至对应的所述分选机的步骤，包括：确定所述每个测试机对应的所述测试程序；控制所述每个测试机对应的指针将所述测试程序的标识信息发送至对应的所述分选机。5.根据权利要求3所述的芯片测试方法，其特征在于，所述控制所述多个测试机依据所述测试程序对所述待测试芯片集合中的待测试芯片进行测试的步骤，包括：判断所述指针是否获取到所述分选机生成的测试启动信号；若是，则控制所述指针从所述分选机中获取测试位置信息，其中，所述测试位置信息包括所述待测试芯片所在的测试工位的位置信息；控制所述指针发送所述测试位置信息至所述测试机，并指示所述测试机对所述待测试芯片执行所述待测试程序；在所述测试机执行完成所述待测试程序后，通过所述指针获取所述测试机执行完成所述待测试程序后生成的测试结果，并通过所述指针将所述测试结果发送至所述分选机中。6.根据权利要求3所述的芯片测试方法，其特征在于，所述控制所述多个测试机依据所述测试程...

【专利技术属性】
技术研发人员：董雨晴，林令森，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：