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本申请公开了一种芯片测试方法、系统、装置及非易失性存储介质。其中，该方法包括：确定多个测试机中的每个测试机对应的测试程序和分选机，其中，每个测试机唯一对应一个分选机，每个测试机和对应的分选机之间通过地址信息建立通信关系，多个测试机用于对同一...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。

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