一种抗氧化钯铜丝复绕检测方法、装置及系统制造方法及图纸

本申请公开了一种抗氧化钯铜丝复绕检测方法、装置及系统，通过获取通过摄像头拍摄的钯铜丝复绕图像，将所述复绕图像与预存复绕图像进行比对，以判断所述钯铜丝是否断开，若所述钯铜丝断开，则停止设备运转、并发出断开报警，能够实时监控钯铜丝复绕工况，在钯铜丝复绕出现断开异常时，能够及时停止设备运转，并发出断开异常报警、通知工作人员进行处理，能够有效解决因钯铜丝断开引起的生产效率下降、复绕产品不合格等问题，能够有效降低钯铜丝的生产成本。生产成本。生产成本。

【技术实现步骤摘要】
一种抗氧化钯铜丝复绕检测方法、装置及系统


[0001]本申请涉及半导体器件
，尤其涉及一种抗氧化钯铜丝复绕检测方法、装置及系统。

技术介绍

[0002]随着半导体行业的快速发展，黄金价格的不断上涨，键合金丝在半导体封装的成本构成中所占比例愈来愈大，不断小型化和复杂化的IC封装及日益发展的LED封装行业在对键合丝特性提出新的要求的同时，对成本的控制也日益迫切。键合钯铜丝因其具有比键合金丝更高的强度和刚度、更优良的电热和机械性能、更慢的金属间化合物的生长速度，成为键合金丝材料的理想替代品。
[0003]钯铜丝由于表面增加了一层钯镀层或复合镀层，既克服了键合纯铜丝易氧化的问题，又提高了丝的接合性，具有高强度与刚性、更优良的电热性能和机械性能，多用于半导体IC封装与集成电路封装。
[0004]在钯铜丝生产时需将钯铜丝复绕在线盘上，然而在复绕过程中经常会出现钯铜丝断开、复绕间距不合理、钯铜丝粗细度不符合要求等情况，由此导致生产进度减慢、产品报废率增加及生产成本增加的问题。

技术实现思路

[0005]本申请实施例提供一种抗氧化钯铜丝复绕检测方法、装置及系统，以有效解决现有的钯铜丝复绕过程中经常会出现钯铜丝断开、复绕间距不合理、钯铜丝粗细度不符合要求等问题。
[0006]第一个方面，本申请提供了一种抗氧化钯铜丝复绕检测方法，包括
[0007]获取通过摄像头拍摄的钯铜丝复绕图像；
[0008]将所述复绕图像与预存复绕图像进行比对，以判断所述钯铜丝是否断开；
[0009]若所述钯铜丝断开，则停止设备运转、并发出断开报警，所述设备是用于对所述钯铜丝进行复绕的装置。
[0010]在一些实施例中，所述获取通过摄像头拍摄的钯铜丝复绕图像，还包括：
[0011]将所述复绕图像上传至云服务器；
[0012]所述若所述钯铜丝断开，则停止设备运转、并发出断开报警，还包括：
[0013]将所述断开的数据上传至云服务器。
[0014]在一些实施例中，所述若所述钯铜丝断开，则停止设备运转、运转并发出断开报警，还包括：
[0015]获取通过摄像头拍摄的线盘更换图像及工作人员远离设备的场景图像；
[0016]若基于所述线盘更换图像确定线盘更换完成，且基于所述场景图像确定工作人员已远离设备，则启动设备进行复绕工作。
[0017]在一些实施例中，所述抗氧化钯铜丝复绕检测方法，还包括：
[0018]获取通过摄像头拍摄的复绕一层的第一图像数据；
[0019]将所述第一图像数据与预存第一标准图像数据进行比对，以判断所述钯铜丝的复绕间距是否异常；
[0020]若所述钯铜丝的复绕间距异常，则停止设备运转、并发出间距异常报警。
[0021]在一些实施例中，所述抗氧化钯铜丝复绕检测方法，还包括：
[0022]若所述钯铜丝的复绕间距不存在异常，则获取通过激光传感器检测的钯铜丝层间距离；
[0023]将所述层间距离与预设层间距离范围进行比对，以判断所述钯铜丝的层间距离；
[0024]若所述钯铜丝的层间距离伪正常，则调整复绕线盘直至所述钯铜丝的层间距离正常。
[0025]在一些实施例中，所述抗氧化钯铜丝复绕检测方法，还包括：
[0026]获取通过激光传感器检测的所述设备的供给线轴至第一张力滑轮的第一钯铜丝数据；
[0027]获取通过激光传感器检测的所述设备的第一张力滑轮至收线线轴的第二钯铜丝数据；
[0028]将所述第一钯铜丝数据、所述第二钯铜丝数据与预存钯铜丝数据范围进行比对，以判断所述钯铜丝是否存在粗细度异常及产生所述粗细度异常的位置；
[0029]若所述钯铜丝的粗细度异常，则停止设备运转、并发出粗细度异常报警。
[0030]在一些实施例中，所述若所述钯铜丝的粗细度异常，则停止设备运转、并发出粗细度异常报警，还包括：
[0031]发送所述粗细度异常报警至工作台；
[0032]更换所述第一张力滑轮；
[0033]获取所述第一张力滑轮更换状态信息及设备附近工作人员信息；
[0034]若所述第一张力滑轮更换完成且所述设备附近无工作人员，则启动设备进行复绕工作。
[0035]在一些实施例中，所述获取所述第一张力滑轮更换状态信息及设备附近工作人员信息，具体为：
[0036]通过红外线传感器及摄像头获取所述第一张力滑轮更换状态信息及设备附近工作人员信息。
[0037]在一些实施例中，所述抗氧化钯铜丝复绕检测方法，还包括：
[0038]获取通过功率传感器检测的所述设备的当前工作功率；
[0039]将所述当前工作功率与正常工作功率进行比对，以判断所述设备是否存在功率异常；
[0040]若所述设备的当前工作功率异常，则调整所述当前工作功率至所述正常功率。
[0041]在一些实施例中，所述若所述设备的当前工作功率异常，则调整所述当前工作功率至所述正常功率之后，还包括：
[0042]判断调整至所述正常功率后的所述钯铜丝的粗细度是否存在异常；
[0043]若所述粗细度异常，则停止设备运转、并发出粗细度异常报警。
[0044]第二方面，本申请提供了一种抗氧化钯铜丝复绕检测装置，包括：
[0045]完整度检测模块，用于检测所述钯铜丝是否存在断开异常；
[0046]间距检测模块，用于检测所述钯铜丝是否存在层间距离异常；
[0047]粗细度检测模块，用于检测所述钯铜丝是否存在粗细度异常；
[0048]功率检测模块，用于检测所述设备是否存在功率异常，并将所述当前工作功率调整至正常工作频率；以及
[0049]结果展示模块，用于展示检测的结果。
[0050]第三方面，本申请提供了一种电子设备，包括：
[0051]处理器和存储器；
[0052]所述处理器通过调用所述存储器存储的程序或指令，用于执行如第一方面中任一实施例所述方法的步骤。
[0053]第四方面，本申请提供了一种抗氧化钯铜丝复绕检测系统，包括摄像头、激光传感器、复绕机以及如第三方面中的所述电子设备。
[0054]本申请提供了一种抗氧化钯铜丝复绕检测方法、装置及系统，通过获取通过摄像头拍摄的钯铜丝复绕图像，将所述复绕图像与预存复绕图像进行比对，以判断所述钯铜丝是否断开，若所述钯铜丝断开，则停止设备运转、并发出断开报警，能够实时监控钯铜丝复绕工况，在钯铜丝复绕出现断开异常时，能够及时停止设备运转，并发出断开异常警报、通知工作人员进行处理，能够有效降低因钯铜丝断开引起的生产效率下降、复绕产品不合格等问题，能够有效降低钯铜丝生产产生异常的成本。
附图说明
[0055]下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。
[0056]图1为本申请一实施例提供的抗氧化钯铜丝复绕检测方法的流程图；
[0057本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种抗氧化钯铜丝复绕检测方法，其特征在于，包括：获取通过摄像头拍摄的钯铜丝复绕图像；将所述复绕图像与预存复绕图像进行比对，以判断所述钯铜丝是否断开；若所述钯铜丝断开，则停止设备运转、并发出断开报警，所述设备是用于对所述钯铜丝进行复绕的装置。2.根据权利要求1所述的抗氧化钯铜丝复绕检测方法，其特征在于，所述获取通过摄像头拍摄的钯铜丝复绕图像，还包括：将所述复绕图像上传至云服务器；所述若所述钯铜丝断开，则停止设备运转、并发出断开报警，还包括：将所述断开的数据上传至云服务器。3.根据权利要求1或2所述的抗氧化钯铜丝复绕检测方法，其特征在于，所述若所述钯铜丝断开，则停止设备运转、运转并发出断开报警，还包括：获取通过摄像头拍摄的线盘更换图像及工作人员远离设备的场景图像；若基于所述线盘更换图像确定线盘更换完成，且基于所述场景图像确定工作人员已远离设备，则启动设备进行复绕工作。4.根据权利要求1所述的抗氧化钯铜丝复绕检测方法，其特征在于，还包括：获取通过摄像头拍摄的复绕一层的第一图像数据；将所述第一图像数据与预存第一标准图像数据进行比对，以判断所述钯铜丝的复绕间距是否异常；若所述钯铜丝的复绕间距异常，则停止设备运转、并发出间距异常报警。5.根据权利要求4所述的抗氧化钯铜丝复绕检测方法，其特征在于，还包括：若所述钯铜丝的复绕间距不存在异常，则获取通过激光传感器检测的钯铜丝层间距离；将所述层间距离与预设层间距离范围进行比对，以判断所述钯铜丝的层间距离；若所述钯铜丝的层间距离伪正常，则调整复绕线盘直至所述钯铜丝的层间距离正常。6.根据权利要求1
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5任一项所述的抗氧化钯铜丝复绕检测方法，其特征在于，还...

【专利技术属性】
技术研发人员：李盛伟，李妍琼，
申请(专利权)人：深圳中宝集团有限公司，
类型：发明
国别省市：