GIS交接试验操作隔离开关检测金属微粒的方法及系统技术方案

一种GIS交接试验操作隔离开关检测金属微粒的方法及系统，包括：基于GIS设备仿真电路模型，根据不同的VFTO幅值确定交接试验所需的测试电压；对GIS设备进行常规耐压试验、老练试验和耐压试验过程；在不同的VFTO幅值优选值下，重复进行隔离开关操作若干次，并记录操作期间GIS设备内的特高频局部放电信号；其中，能够激起金属微粒的VFTO幅值优选值为1.6p.u.；根据所记录的特高频局部放电信号，判断待测GIS设备中是否存在金属颗粒缺陷。本发明专利技术在不损害设备绝缘的情况下激起气室的金属微粒，实现局部放电信号的监测，进而提高GIS自由金属颗粒缺陷的检测率。陷的检测率。陷的检测率。

【技术实现步骤摘要】
GIS交接试验操作隔离开关检测金属微粒的方法及系统


[0001]本专利技术属于电气设备试验
，具体而言，涉及一种GIS交接试验操作隔离开关检测金属微粒的方法及系统。

技术介绍

[0002]目前，我国特高压交流输电系统已全部应用气体绝缘金属封闭开关设备(Gas Insulated Switchgear，GIS)设备，但是从多年的运行经验来看，GIS设备绝缘故障无法避免。
[0003]国内外研究表明，自由金属微粒引起GIS设备的绝缘故障率最高。GIS在生产、运输、安装和运行的过程中由于振动、摩擦、机械机构动作等将不可避免的产生金属微粒，金属微粒在电场作用下可能发生各种各样的运动，从而导致绝缘子沿面闪络甚至间隙击穿，严重影响GIS设备的绝缘强度。
[0004]现有技术中，对GIS中自由金属颗粒的检测主要依靠局部放电的信号测量，特高频(Ultra High Frequency)检测法抗干扰能力强、灵敏度高，能较准确的检测GIS内部绝缘缺陷。国内外对GIS中运动金属微粒的局部放电现象进行研究，得到自由金属微粒缺陷的特征图谱，利用图谱本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种GIS交接试验操作隔离开关检测金属微粒的方法，其特征在于，包括：步骤1，基于GIS设备仿真电路模型，根据不同的VFTO幅值确定交接试验所需的测试电压；步骤2，对GIS设备进行常规耐压试验、老练试验和耐压试验过程；步骤3，在不同的VFTO幅值优选值下，重复进行隔离开关操作若干次，并记录操作期间GIS设备内的特高频局部放电信号；其中，能够激起金属微粒的VFTO幅值优选值为1.6p.u.；步骤4，重复执行步骤3后，根据所记录的特高频局部放电信号，判断待测GIS设备中是否存在金属颗粒缺陷。2.根据权利要求1所述的GIS交接试验操作隔离开关检测金属微粒的方法，其特征在于，步骤1包括：步骤1.1，利用电磁暂态等效方法对GIS设备进行建模，得到GIS设备仿真电路模型；步骤1.2，基于实验数据确定VFTO幅值的概率模型，根据概率模型确定能够激起金属微粒的VFTO幅值优选值为1.6p.u.；步骤1.3，基于GIS设备仿真电路模型，根据VFTO幅值优选值确定对应的测试电压。3.根据权利要求2所述的GIS交接试验操作隔离开关检测金属微粒的方法，其特征在于，VFTO幅值在1.0p.u.至2.2p.u.之间呈现正态分布，VFTO幅值优选值的范围为1.4～1.8p.u.。4.根据权利要求1所述的GIS交接试验操作隔离开关检测金属微粒的方法，其特征在于，步骤3中，每两次操作之间停留3至5s；当前操作完成后，待电压稳定后再进行下一次操作；其中，稳定后的电压波动不超过测试电压的
±
5％。5.根据权利要求4所述的GIS交接试验操作隔离开关检测金属微粒的方法，其特征在于，步骤3包括：步骤3.1，VFTO幅值优选值为1.0p.u.时，将测试电压调为后，重复进行隔离开关操作若干次，并记录操作期间的绝缘盆子部位的特高频局部放电信号；其中，U
max
为线电压的最大值；步骤3.2，VFTO幅值优选值为1.2p.u.时，将测试电压调为后，重复进行隔离开关操作若干次，并记录操作期间的绝缘盆子部位的特高频局部放电信号；步骤3.3，VFTO幅值优选值为1.6p.u.时，将测试电压调为U
max
后，重复进行隔离开关操作若干次，并记录操作期间的绝缘盆子部位的...

【专利技术属性】
技术研发人员：詹振宇，詹子龙，辛伟峰，陈泰羽，马德英，付海金，许学伟，郭磊，马云瑞，王胜辉，马康，
申请(专利权)人：国网河南省电力公司电力科学研究院，
类型：发明
国别省市：