一种准直器调试方法、设备、调试设备和存储介质技术

本发明专利技术公开了一种准直器调试方法、设备、调试设备和存储介质。包括：第一调试组件，包括：第一移动基座，能够在调试台面上沿第一水平方向来回移动；第二移动基座，能够沿垂直方向来回摆动；第三移动基座，能够第二水平方向来回摆动，第二水平方向垂直于第一水平方向；第一夹持部，用于夹持第一准直器；第二调试组件，包括：第四移动基座，能够在调试台面上沿第一水平方向来回移动；第五移动基座，能够沿第二水平方向来回移动；第六移动基座，能够沿垂直方向来回移动；第二夹持部，用于夹持第二准直器；探测器，用于连接第一准直器和第二准直器，以调试出第一准直器和第二准直器的插损值。本发明专利技术能够有效提升调试的效率和成功率。本发明专利技术能够有效提升调试的效率和成功率。本发明专利技术能够有效提升调试的效率和成功率。

【技术实现步骤摘要】
一种准直器调试方法、设备、调试设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及光学
，尤其涉及一种准直器调试方法、设备、调试设备和存储介质。

技术介绍

[0002]传统的准直器装配是用调整架在上下和左右两个维度固定顶点进行摆动，来将第一准直器与第二准直器进行耦合，利用光功率计进行在线监控，监测准直器插入损耗值的变化至最小时，上胶、固化。
[0003]用此种方法生产准直器效率较低，且误差较大，可能会将合格品误判为不合格。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对上述问题，提出了一种准直器调试方法、设备、调试设备和存储介质，能够有效提升对准直器耦合时的效率和成功率。
[0005]一种准直器调试设备，包括：
[0006]调试台面；
[0007]第一调试组件，设置于所述调试台面上，包括：
[0008]第一移动基座，位于所述调试台面上，能够在所述调试台面上沿第一水平方向来回移动；
[0009]第二移动基座，位于所述第一移动基座远离所述调试台面的一端，能够沿垂直方向来回摆动；
[0010]第三移动基座，位于所述第二移动基座远离所述第一移动基座的一端，能够第二水平方向来回摆动，所述第二水平方向垂直于所述第一水平方向；
[0011]第一夹持部，位于所述第三移动基座远离所述第二移动基座的一端，用于夹持第一准直器；
[0012]第二调试组件，设置于所述调试台面上，与所述第一调试组件相对设置；包括：
[0013]第四移动基座，位于所述调试台面上，能够在所述调试台面上沿所述第一水平方向来回移动；
[0014]第五移动基座，位于所述第四移动基座远离所述调试台面的一端，能够沿所述第二水平方向来回移动；
[0015]第六移动基座，位于所述第五移动基座远离所述第四移动基座的一端，能够沿所述垂直方向来回移动；
[0016]第二夹持部，位于所述第六移动基座远离所述第五移动基座的一端，用于夹持第二准直器；
[0017]探测器，用于连接所述第一准直器和所述第二准直器，以调试出所述第一准直器和所述第二准直器的插损值。
[0018]其中，所述第一准直器所在的平面为八度斜面，所述第二准直器所在的平面为八
度斜面；
[0019]且所述第一准直器所在的平面与所述第二准直器所在平面平行。
[0020]一种准直器调试方法，应用于如上所述的准直器调试设备，包括如下步骤：
[0021]检测到第一准直器和所述第二准直器安装完成后，驱动所述第二移动座和所述第三移动座按照依次按照第一预设规则进行第一摆动，以使得所述第一准直器按照回形轨迹进行移动；
[0022]检测所述第一准直器和所述第二准直器的插损值是否超过第一预设阈值；
[0023]若所述插损值未超过所述第一预设阈值，则驱动所述第一移动座、所述第四移动座、所述第五移动座和所述第六移动座依次按照第二预设规则进行移动；
[0024]检测所述第一准直器和所述第二准直器的插损值是否超过第二预设阈值，所述第二预设阈值的绝对值小于所述第一预设阈值的绝对值；
[0025]若所述插损值未超过所述第二预设阈值，则判定所述第一准直器和所述第二准直器耦合成功。
[0026]其中，所述调试所述第一准直器和所述第二准直器的插损值是否超过第一预设阈值的步骤之后，包括：
[0027]若所述插损值超过所述第一预设阈值，则判定所述第一准直器和所述第二准直器耦合失败。
[0028]其中，安安判定所述第一准直器和所述第二准直器耦合失败的步骤，包括：
[0029]获取所述第二移动座和所述第三移动座的当前摆动角度，当所述当前摆动角度大于或等于最大摆动角度时，若所述插损值超过所述第一预设阈值，则判定所述第一准直器和所述第二准直器耦合失败。
[0030]其中，所述调试所述第一准直器和所述第二准直器的插损值是否超过第二预设阈值的步骤之后，包括：
[0031]若驱动所述第一移动座、所述第四移动座、所述第五移动座和所述第六移动座依次按照所述第二预设规则进行移动预设维度后，所述插损值一直超过所述第二预设阈值，则驱动所述第二移动座和所述第三移动座按照第三预设规则进行第三摆动，以使得所述第一准直器按照回形轨迹进行移动，所述第三摆动的摆动角度小于所述第一摆动的摆动角度；
[0032]检测所述第一准直器和所述第二准直器的插损值是否超过所述第二预设阈值；
[0033]若所述插损值未超过所述第二预设阈值，则判定所述第一准直器和所述第二准直器耦合成功。
[0034]其中，所述驱动所述第二移动座和所述第三移动座按照依次按照第一预设规则进行第一摆动的步骤之后，包括：
[0035]获取历史耦合成功的位置数据，基于所述历史耦合成功的位置数据获取耦合成功概率超过预设概率阈值的第一耦合位置，驱动所述第二移动座和所述第三移动座依次摆动，以使得所述第一准直器位于所述第一耦合位置。
[0036]其中，所述驱动所述第二移动座和所述第三移动座按照依次按照第一预设规则进行第一摆动的步骤之后，包括：
[0037]采用五点法进行光路分析，获取耦合成功概率超过预设概率阈值的第二耦合位
置，驱动所述第二移动座和所述第三移动座依次摆动，以使得所述第一准直器位于所述第二耦合位置。
[0038]一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行如上所述方法的步骤。
[0039]一种调试设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如上所述方法的步骤。
[0040]采用本专利技术实施例，具有如下有益效果：
[0041]在本实施例中准直器调试设备中各个移动基座分别可以上下移动、左右移动、前后移动、上下摆动、左右摆动，可以通过按照预设规则驱动这些移动基座进行运动，从而使得第一准直器和第二准直器成功耦合，设置更多的移动基座，在更多个轴向可以进行调节，能够更加方便的找到两个准直器耦合成功的位置，提升调试的效率和成功率。
附图说明
[0042]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0043]其中：
[0044]图1是本专利技术提供的准直器调试设备的一实施例的结构示意图；
[0045]图2是本专利技术提供的准直器调试方法的第一实施例的流程示意图；
[0046]图3是本专利技术提供的第一准直器的移动轨迹的示意图；
[0047]图4是本专利技术提供的耦合成功的位置数据的示意图；
[0048]图5是本专利技术提供的五点法光路分析的示意图；
[0049]图6是本专利技术提供的调试设备的一实施例的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种准直器调试设备，其特征在于，包括：调试台面；第一调试组件，设置于所述调试台面上，包括：第一移动基座，位于所述调试台面上，能够在所述调试台面上沿第一水平方向来回移动；第二移动基座，位于所述第一移动基座远离所述调试台面的一端，能够沿垂直方向来回摆动；第三移动基座，位于所述第二移动基座远离所述第一移动基座的一端，能够第二水平方向来回摆动，所述第二水平方向垂直于所述第一水平方向；第一夹持部，位于所述第三移动基座远离所述第二移动基座的一端，用于夹持第一准直器；第二调试组件，设置于所述调试台面上，与所述第一调试组件相对设置；包括：第四移动基座，位于所述调试台面上，能够在所述调试台面上沿所述第一水平方向来回移动；第五移动基座，位于所述第四移动基座远离所述调试台面的一端，能够沿所述第二水平方向来回移动；第六移动基座，位于所述第五移动基座远离所述第四移动基座的一端，能够沿所述垂直方向来回移动；第二夹持部，位于所述第六移动基座远离所述第五移动基座的一端，用于夹持第二准直器；探测器，用于连接所述第一准直器和所述第二准直器，以调试出所述第一准直器和所述第二准直器的插损值。2.根据权利要求1所述的准直器调试设备，其特征在于，所述第一准直器所在的平面为八度斜面，所述第二准直器所在的平面为八度斜面；且所述第一准直器所在的平面与所述第二准直器所在平面平行。3.一种准直器调试方法，其特征在于，应用于如权利要求1所述的准直器调试设备，包括如下步骤：检测到第一准直器和所述第二准直器安装完成后，驱动所述第二移动座和所述第三移动座按照依次按照第一预设规则进行第一摆动，以使得所述第一准直器按照回形轨迹进行移动；检测所述第一准直器和所述第二准直器的插损值是否超过第一预设阈值；若所述插损值未超过所述第一预设阈值，则驱动所述第一移动座、所述第四移动座、所述第五移动座和所述第六移动座依次按照第二预设规则进行移动；检测所述第一准直器和所述第二准直器的插损值是否超过第二预设阈值，所述第二预设阈值的绝对值小于所述第一预设阈值的绝对值；若所述插损值未超过所述第二预设阈值，则判定所述第一准直器和所述第二准直器耦合成功。4.根据权利要求3所述的准直器调试方法，其特征在于，所述调试所述第一准直器和所述第二准直器的插损值是否超过第一预设阈值的步骤之后...

【专利技术属性】
技术研发人员：程志勇，陈有林，马俊，白帅，
申请(专利权)人：昂纳科技深圳集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：