【技术实现步骤摘要】
一种基于氟化聚合物电介质的有机场效应晶体管制备方法
[0001]本专利技术涉及微电子材料及器件
,具体涉及一种基于氟化聚合物电介质的有机场效应晶体管制备方法。
技术介绍
[0002]随着半导体技术以及制备工艺的发展,半导体芯片的面积越来越小,市场对半导体器件的性能要求越来越高,如何提高器件的性能,减小器件的功耗成为了目前电子工艺界急需要解决的重要问题。
[0003]近年来,随着对输运机制的深入研究,发现场效应晶体管的性能和很多因素紧密相关,包括栅压、器件结构、温度、外界辐射等。迁移率是有机场效应晶体管的一个重要性能参数,其反映了电荷的输运能力,迁移率越高,电荷越容易在器件中传输,进而器件工作效率更高。有机场效应晶体管中影响迁移率的因素包括接触电阻、有机半导体/介电层界面处的粗糙度及偶极子、有机薄膜和栅电介质中的电荷俘获以及相关的库仑散射,其中对载流子的输运影响较大的当属半导体/电介质层界面的物理化学特性,这是因为在载流子在沟道输运的过程中,受介电/半导体层的界面处存在的大量陷阱、位错影响(载流子输运普遍分布在靠 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于氟化聚合物电介质的有机场效应晶体管制备方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1:选择玻璃片作为衬底(1)并清洗;步骤S2:源漏电极(2)的制备:在清洗后的衬底(1)上真空蒸镀镍层和金层作为源漏电极(2),镍层与衬底(1)直接接触,金层在镍层之上;步骤S3:半导体层(3)的制备:将CYTOP原液旋涂铺满在制备有源漏电极(2)的衬底(1)上,然后在200℃纯氮气环境下加热退火1h形成半导体层(3);步骤S4:介电层(4)的制备:将介电层溶液旋涂铺满在步骤S3得到的半导体层(3)上方表面,在80
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200℃下加热退火处理,形成介电层(4);步骤S5:栅极(5)的制备:利用不锈钢掩模版在步骤S4得到的介电层(4)上方蒸镀铝层作为栅极(5)。2.根据权利要求1所述的一种基于氟化聚合物电介质的有机场效应晶体管制备方法,其特征在于,步骤S2中所制备得到的镍层的厚度为5nm,金层的厚度为38nm。3.根据权利要求1所述的一种基于氟化聚合物电介质的有机场效应晶体管制备方法,其特征在于,所述步骤S3中,半导体...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐勇,窦存花,戴晓菡,严宇,孙华斌,于志浩,吴洁,朱力,杨光安,
申请(专利权)人:南京邮电大学,
类型:发明
国别省市:
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