基于短波红外成像的高温测温标定方法技术

本发明专利技术公开了基于短波红外成像的高温测温标定方法，涉及红外成像测温标定技术领域，包括以下步骤：S1：将待标定红外热成像设备以及测量黑体放入至测温标定箱中；该红外成像测温标定红外成像测温标定XX，通过在进行测温标定时，对测量黑体的温度进行调整，在进行测温标定时，对测温标定箱内部的环境温度进行调整，在进行测温标定时，对测温标定箱内部的环境湿度进行调整，对条件试验集中的各项不同条件进行试验，记录测量黑体的灰度值以及对应的条件试验集，根据记录的黑体灰度值以及对应的条件试验集生成该红外热成像设备对应的映射表，通过本方法进行的红外成像设备测温标定更为全面。为全面。为全面。

【技术实现步骤摘要】
基于短波红外成像的高温测温标定方法


[0001]本专利技术涉及红外成像测温标定
，具体为基于短波红外成像的高温测温标定方法。

技术介绍

[0002]红外热成像测温技术是一种非接触温度测量技术，其具有直观、准确、灵敏度高、快速、安全、可测定物体表面温度场分布等优点。目前，该技术在机器设备的状态监测、半导体元件和集成电路的质量筛选和故障诊断、石化设备的故障诊断、火灾探测、材料内部缺陷的无损监测、传热研究以及红外特征隐身评估等领域得到广泛应用。红外热像仪测温与目标自身辐射大小、环境温度、大气湿度等参数密切相关，在使用红外热像仪测温前，需要对红外热像仪进行测温标定。然而对红外热像仪进行测温标定时，不能对测试的环境温度以及环境湿度进行调整，从而使得红外热像仪测温标定不够精准，从而影响到红外热像仪进行红外热成像测温。

技术实现思路

[0003]针对现有技术的不足，本专利技术提供了基于短波红外成像的高温测温标定方法，解决了上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：基于短波红外成像的高温测温标定方法，包括以下步骤：
[0005]S1：将待标定红外热成像设备以及测量黑体放入至测温标定箱中；
[0006]S2：使用待标定红外热成像设备测量黑体的灰度值；
[0007]S3：记录测量黑体的灰度值以及对应的条件试验集；
[0008]S4：根据记录的黑体灰度值以及对应的条件试验集生成该红外热成像设备对应的映射表，完成红外热成像设备的测温标定；
[0009]所述S2使用待标定红外热成像设备测量黑体的灰度值的步骤包括：
[0010]S21：确定测温标定箱内的环境温度、环境湿度和黑体温度的标定温度，并根据环境温度、环境湿度和标定温度设定不同的条件试验集。
[0011]可选的，所述S21确定测温标定箱内的环境温度、环境湿度和黑体温度的标定温度，并根据环境温度、环境湿度和标定温度设定不同的条件试验集的步骤包括：S2101：在进行测温标定时，对测量黑体的温度进行调整；S2102：在进行测温标定时，对测温标定箱内部的环境温度进行调整；S2103：在进行测温标定时，对测温标定箱内部的环境湿度进行调整。
[0012]可选的，所述S21确定测温标定箱内的环境温度、环境湿度和黑体温度的标定温度，并根据环境温度、环境湿度和标定温度设定不同的条件试验集的步骤包括：S2201：将红外热成像设备的工作环境以及红外热成像设备输入至条件生成模型；S2202：条件生成模型生成测试时的环境温度、环境湿度以及黑体温度的标定温度；S2203：将生成的环境温度、环境湿度以及黑体温度的标定温度进行集合。
[0013]可选的，所述S4根据记录的黑体灰度值以及对应的条件试验集生成该红外热成像设备对应的映射表，完成红外热成像设备的测温标定的步骤包括：S41：将标定好的红外热成像设备以及测量黑体放入至检测箱中；S42：根据该红外热成像设备的映射表，对红外热成像设备的测温标定进行检测；S43：根据检测结果，判断该红外热成像设备的测温标定是否合格。
[0014]可选的，所述S2101在进行测温标定时，对测量黑体的温度进行调整的步骤中，通过黑体中设置的调温模块对黑体的温度进行调整，在对黑体的温度进行调整时，需要将黑体的温度调整至某一温度，然后将黑体的温度在此温度保持一段时间，然后再使用黑体进行红外成像设备的测温标定工作，所述S2102在进行测温标定时，对测温标定箱内部的环境温度进行调整的步骤中，通过测温标定箱内部设置的测温标定箱内部环境温度调整模块，对测温标定箱内部的环境温度进行调整，所述S2103在进行测温标定时，对测温标定箱内部的环境湿度进行调整的步骤中，通过测温标定箱内部设置的湿度调整模块对测温标定箱内部的环境湿度进行调整。
[0015]可选的，所述S2使用待标定红外热成像设备测量黑体的灰度值的步骤中，需要对条件试验集中的各项条件进行试验完成后，再进行映射表构建。
[0016]可选的，所述S43根据检测结果，判断该红外热成像设备的测温标定是否合格的步骤中，若检测结果与红外热成像设备的测温标定数据之间相差超过一定范围，则判定红外热成像设备的测温标定出现问题。
[0017]可选的，所述S41将标定好的红外热成像设备以及测量黑体放入至检测箱中的步骤中检测箱与测温标定箱中的结构相同，所具有的功能均相同，通过检测箱，能够实现环境温度、环境湿度以及黑体温度的标定温度的调整。
[0018]本专利技术提供了基于短波红外成像的高温测温标定方法，具备以下有益效果：
[0019]1、该红外成像测温标定红外成像测温标定XX，通过在进行测温标定时，对测量黑体的温度进行调整，在进行测温标定时，对测温标定箱内部的环境温度进行调整，在进行测温标定时，对测温标定箱内部的环境湿度进行调整，从而对条件试验集中的各项不同条件进行试验，记录测量黑体的灰度值以及对应的条件试验集，根据记录的黑体灰度值以及对应的条件试验集生成该红外热成像设备对应的映射表，使得通过本方法进行的红外成像设备测温标定更为全面。
[0020]2、该红外成像测温标定红外成像测温标定XX，通过将标定好的红外热成像设备以及测量黑体放入至检测箱中，然后通过所使用的条件试验集，对红外热成像设备的测温标定进行检测，然后将检测结果与该红外热成像设备的映射表进行比对分析，若检测结果与红外热成像设备的测温标定数据之间相差超过一定范围，则判定红外热成像设备的测温标定出现问题，若检测结果与红外热成像设备的测温标定数据之间相差属于允许的范围，则判定该红外热成像设备的测温标定准确，能够对该红外热成像设备的测温标定数据进行检测，对检测不合格的测温标定数据进行红外热成像设备重新测温标定，从而提高了本方法的测温标定准确率。
附图说明
[0021]图1为本专利技术方法结构示意图；
[0022]图2为本专利技术所述S2101在进行测温标定时，对测量黑体的温度进行调整的步骤图；
[0023]图3为本专利技术所述S4根据记录的黑体灰度值以及对应的条件试验集生成该红外热成像设备对应的映射表，完成红外热成像设备的测温标定的步骤图。
具体实施方式
[0024]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0025]请参阅图1至图3，本专利技术提供一种技术方案：基于短波红外成像的高温测温标定方法，包括以下步骤：
[0026]S1：将待标定红外热成像设备以及测量黑体放入至测温标定箱中；
[0027]S2：使用待标定红外热成像设备测量黑体的灰度值；
[0028]S3：记录测量黑体的灰度值以及对应的条件试验集；
[0029]S4：根据记录的黑体灰度值以及对应的条件试验集生成该红外热成像设备对应的映射表，完成红外热成像设备的测温标定；
[0030]S2使用待标定红外热成像设备测量黑体的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于短波红外成像的高温测温标定方法，其特征在于：包括以下步骤：S1：将待标定红外热成像设备以及测量黑体放入至测温标定箱中；S2：使用待标定红外热成像设备测量黑体的灰度值；S3：记录测量黑体的灰度值以及对应的条件试验集；S4：根据记录的黑体灰度值以及对应的条件试验集生成该红外热成像设备对应的映射表，完成红外热成像设备的测温标定；所述S2使用待标定红外热成像设备测量黑体的灰度值的步骤包括：S21：确定测温标定箱内的环境温度、环境湿度和黑体温度的标定温度，并根据环境温度、环境湿度和标定温度设定不同的条件试验集。2.根据权利要求1所述的基于短波红外成像的高温测温标定方法，其特征在于：所述S21确定测温标定箱内的环境温度、环境湿度和黑体温度的标定温度，并根据环境温度、环境湿度和标定温度设定不同的条件试验集的步骤包括：S2101：在进行测温标定时，对测量黑体的温度进行调整；S2102：在进行测温标定时，对测温标定箱内部的环境温度进行调整；S2103：在进行测温标定时，对测温标定箱内部的环境湿度进行调整。3.根据权利要求1所述的基于短波红外成像的高温测温标定方法，其特征在于：所述S21确定测温标定箱内的环境温度、环境湿度和黑体温度的标定温度，并根据环境温度、环境湿度和标定温度设定不同的条件试验集的步骤包括：S2201：将红外热成像设备的工作环境以及红外热成像设备输入至条件生成模型；S2202：条件生成模型生成测试时的环境温度、环境湿度以及黑体温度的标定温度；S2203：将生成的环境温度、环境湿度以及黑体温度的标定温度进行集合。4.根据权利要求1所述的基于短波红外成像的高温测温标定方法，其特征在于：所述S4根据记录的黑体灰度值以及对应的条件试验集生成该红外热成像设备对应的映射表，完成红外热成像设备的测温标定的步骤包括：S41：将标定好...

【专利技术属性】
技术研发人员：蹇毅，刘海，
申请(专利权)人：南通红森微视光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：