本实用新型专利技术涉及硫化试验领域，特别是一种用于电子元件硫化试验装置，包括试验容器、支架和底座，所述支架置于试验容器内，所述底座可拆卸设置在支架上，所述支架包括多个安装架和支撑柱、所述多个安装架沿竖直方向平行间隔布置在支撑柱上使支架形成多层的安装空间，所述底座设置在安装架上并位于安装空间内，所述底座上形成有多个卡槽，所述卡槽沿着左右贯通底座且多个所述卡槽沿底座的延伸方向间隔布置。本实用新型专利技术通过支架固定底座，并通过底座上的卡槽放置待试验的测试小板，确保测试小板放置的稳定性，提高试验效率，保证试验结果的准确性。准确性。准确性。
【技术实现步骤摘要】
一种用于电子元件硫化试验装置
[0001]本技术涉及硫化试验领域，特别是一种用于电子元件硫化试验装置。
技术介绍
[0002]抗硫化片式厚膜固定电阻器在生产制造过程中，需要对产品进行抗硫化的试验，确定电阻器在经历硫粉挥发硫化相对变化程度，以保证产品的质量一致性及环境匹配性。且硫化实验需要承受一定的高温，并生成腐蚀性性气体，各个试验部件需要具有一定耐高温和耐腐蚀性。旧有试验方法是将产品焊接到测试小板上，再将测试小板放置在玻璃试验器皿镂空板上。此种试验方法存在试验效果不充分、浪费空间多、操作不便等缺点。且在电阻器进行硫化试验过程中，需要移动玻璃试验器皿，测试小板放置在玻璃试验试验器皿内不好固定，容易造成测试小板移动，造成测试小板叠加在一起，影响试验的可靠性及结果；且测试小板之间摩擦，容易产品发生脱落、划伤风险变大、接触不良，导致试验失效，从而造成试验失效风险变大。每次试验失效，需要重复进行，影响了试验效率。所以，传统方法存在极大的缺陷。
技术实现思路
[0003]本技术的主要目的是克服现有技术的缺点，提供一种通过支架固定底座，并通过底座上的卡槽放置待试验的测试小板，确保测试小板放置的稳定性，提高试验效率，保证试验结果的准确性的用于电子元件硫化试验装置。
[0004]本技术采用如下技术方案：
[0005]一种用于电子元件硫化试验装置，包括试验容器、支架和底座，所述支架置于试验容器内，所述底座可拆卸设置在支架上，所述支架包括多个安装架和支撑柱、所述多个安装架沿竖直方向平行间隔布置在支撑柱上使支架形成多层的安装空间，所述底座设置在安装架上并位于安装空间内，所述底座上形成有多个卡槽，所述卡槽沿着左右贯通底座且多个所述卡槽沿底座的延伸方向间隔布置。
[0006]进一步地，所述支架包括两个安装架、多根支撑柱和一个顶架，两所述安装架沿竖直方向平行间隔，多根所述支撑柱分别设置在所述安装架的四个角落处用于连接支撑所述安装架，所述顶架设置在支撑柱的顶端用于保持支架稳定。
[0007]进一步地，所述支撑柱包括柱体、连接螺柱和连接螺孔，所述连接螺柱设置在柱体一端，所述连接螺柱外周面上形成有外螺纹，所述连接螺孔开设在柱体的另一端，所述连接螺孔内设置有内螺纹。
[0008]进一步地，所述柱体的横截面为六边形。
[0009]进一步地，所述安装架上平行间隔设置有多个支撑杆，所述支撑杆上开设有安装螺孔，所述底座上开设有与安装螺孔相对应的安装通孔，所述底座通过螺栓穿过安装通孔并与安装螺孔螺纹连接固定在支撑杆上。
[0010]进一步地，所述试验容器为玻璃材质。
[0011]进一步地，所述底座为聚四氟乙烯材质。
[0012]进一步地，所述支架为不锈钢材质，且表面进行钝化处理，使所述支架的表面形成一层钝化膜。
[0013]由上述对本技术的描述可知，与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0014]第一、通过支架和可拆卸设置在支架上的底座，可稳定地放置待试验的测试小板，使测试小板在试验中不易跑动，减少与其它物体摩擦的风险，提高试验效率，确保试验结果的可靠性。
[0015]第二、试验为非破坏性试验，装置可以重复使用，支架通过顶架稳定结构，方便支架取出和放入试验容器内，且通过在柱体两侧的连接螺柱和连接螺孔，使支撑柱可以首尾连接，方便支架的组装和拆卸。
[0016]第三、试验容器为玻璃材质，具有良好的耐热性和耐腐蚀性；底座为聚四氟乙烯材质具有优良的化学稳定性、耐腐蚀性、密封性、电绝缘性和良好的抗老化耐力，对大多数化学药品和溶剂表现出惰性，能耐强酸强碱、水和各种有机溶剂。
[0017]第四、通过支架表面的钝化膜，把支架本体的金属与腐蚀介质完全隔开，放置支架在硫化环境中被腐蚀。
附图说明
[0018]图1是本技术的具体实施方式的部分结构示意图；
[0019]图2是本技术的具体实施方式的安装架的结构示意图；
[0020]图3是本技术的具体实施方式的支撑柱的结构示意图
[0021]图4是本技术的具体实施方式的底座的结构示意图。
[0022]图中：1.支架，10.安装架，100.支撑杆，11.支撑柱，110.柱体，111.连接螺柱，112.连接螺孔，12.顶架，2.底座，20.卡槽。
具体实施方式
[0023]以下通过具体实施方式对本技术作进一步的描述。
[0024]参照图1至图4，本技术的一种用于电子元件硫化试验装置，包括玻璃材质的试验容器、不锈钢材质的支架1和聚四氟乙烯材质的底座2，所述支架1置于试验容器内，所述底座2可拆卸设置在支架1上。所述支架1表面进行钝化处理，使所述支架1的表面生成一种非常薄的、致密的、覆盖性能良好的、能坚固地附在金属表面上的钝化膜。
[0025]所述支架1包括两个安装架10、多根支撑柱11和一个顶架12，两所述安装架10沿竖直方向平行间隔使支架1形成多层的安装空间，所述底座2设置在安装架10上并位于安装空间内，多根所述支撑柱11分别设置在所述安装架10的四个角落处用于连接支撑所述安装架10，所述顶架12设置在支撑柱11的顶端用于保持支架1稳定。
[0026]支撑柱11包括柱体110、连接螺柱111和连接螺孔112，所述柱体110的横截面为六边形，所述连接螺柱111设置在柱体110一端，所述连接螺柱111外周面上形成有外螺纹，所述连接螺孔112开设在柱体110的另一端，所述连接螺孔112内设置有内螺纹。设置在最底部的安装架10的四个角落上开设有螺孔，所述支撑柱11通过连接螺柱111和螺孔螺纹配合连接在最底部安装架10上，所述设置在中间的安装架10的四个角落上开设有通孔，支撑柱11
的连接螺柱111穿过通孔与下层的支撑柱11上的连接螺孔112相连，将中间的安装架10设置在底部安装架10的上方。
[0027]所述底座2上形成有多个卡槽20，所述卡槽20沿着左右贯通底座且多个所述卡槽20沿底座2的延伸方向间隔布置。所述安装架10上平行间隔设置有多个支撑杆100，所述支撑杆100上开设有安装螺孔，所述底座2上开设有与安装螺孔相对应的安装通孔，所述底座2通过螺栓穿过安装通孔并与安装螺孔螺纹连接固定在支撑杆100上。
[0028]继续参照图1至图4，本技术使用时，通过连接螺柱111和设置在支架1底部的安装架10上开设的螺孔配合，在设置在支架1底部的安装架10的四个角落的位置安装支撑柱11，通过螺栓将底座2安装在底部的安装架10上。将中间的安装架10放置在底部的支撑柱11的顶端，新的支撑柱11的连接螺柱111穿过中间的安装架10上的通孔与下层的支撑柱11上的连接螺孔112相连，将中间的安装架10设置在底部安装架10的上方，在中间安装架10上安装底座2，并将顶架12安装在支架1最顶部。
[0029]在底座2的卡槽20上放置待试验的测试小板，将支架1连同待试验的测试小板整个放置在试验容器内进行试验。支架1表本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于电子元件硫化试验装置，其特征在于：包括试验容器、支架和底座，所述支架置于试验容器内，所述底座可拆卸设置在支架上，所述支架包括多个安装架和支撑柱、所述多个安装架沿竖直方向平行间隔布置在支撑柱上使支架形成多层的安装空间，所述底座设置在安装架上并位于安装空间内，所述底座上形成有多个卡槽，所述卡槽沿着左右贯通底座且多个所述卡槽沿底座的延伸方向间隔布置。2.根据权利要求1所述的一种用于电子元件硫化试验装置，其特征在于：所述支架包括两个安装架、多根支撑柱和一个顶架，两所述安装架沿竖直方向平行间隔，多根所述支撑柱分别设置在所述安装架的四个角落处用于连接支撑所述安装架，所述顶架设置在支撑柱的顶端用于保持支架稳定。3.根据权利要求1所述的一种用于电子元件硫化试验装置，其特征在于：所述支撑柱包括柱体、连接螺柱和连接螺孔，所述连接螺柱设置在柱体一端，所述连...
【专利技术属性】
技术研发人员：林泽清，严勇，唐加能，蔡雄雄，林碧海，
申请(专利权)人：福建毫米电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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