一种用于电子产品的尺寸检验治具制造技术

本发明专利技术公开了一种用于电子产品的尺寸检验治具，包括：治具底座、上限尺寸管控检测块、下限尺寸管控检测块。通过上述方式，本发明专利技术一种用于电子产品的尺寸检验治具，通过上限尺寸管控检测块和下限尺寸管控检测块，可以直接快速、精准的检验产品的关键尺寸，可有效的利用治具的高效、防错作用来杜绝人员操作的偏差，可有效的保证生产品质，降低组装不到位的风险，从而也可以节约成本，提高生产效率。提高生产效率。提高生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于电子产品的尺寸检验治具


[0001]本专利技术涉及电子工业装配
，特别是涉及一种用于电子产品的尺寸检验治具。

技术介绍

[0002]在一些电子产品的生产过程中，需要对其进行外壳组装等操作。但是由于组装时会对产品的一些关键尺寸有所要求，所以早对此类产品装配前，需要将一些关键尺寸进行量测，防止因为尺寸偏差或者来料不良导致组装不合格，严重的影响产品性能和外观。
[0003]目前，进料检验员一般根据客户提供的图纸，直接对需要装配的元件进行手动量测，但是此种方法会导致以下问题：1.因为需要每个尺寸都需要分别量测，操作困难，效率极低；2.经常有量测数据有偏差的问题，无法标准化作业，生产品质无法保证；3.对客户的图纸理解不足，容易错检。

技术实现思路

[0004]本专利技术主要解决的技术问题是提供一种用于电子产品的尺寸检验治具，具有可靠性能高、定位精确、结构简单等优点，同时在电子工业装配的应用及普及上有着广泛的市场前景。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术采用的一个技术方案是：提供一种用于电子产品的尺寸检本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于电子产品的尺寸检验治具，其特征在于，包括：治具底座、上限尺寸管控检测块、下限尺寸管控检测块，用于检测产品组装通槽长宽的最大尺寸的所述上限尺寸管控检测块活动设置于所述治具底座上，用于检测产品组装通槽长宽的最小尺寸的所述下限尺寸管控检测块一体或活动设置于所述上限尺寸管控检测块上，所述上限尺寸管控检测块的长度大于所述下限尺寸管控检测块的长度、所述上限尺寸管控检测块的宽度大于所述下限尺寸管控检测块的宽度，当下限尺寸管控检测块能够通过产品的待检测位置且上限尺寸管控检测块无法通过，则该位置的尺寸满足管控上下限要求。2.根据权利要求1所述的一种用于电子产品的尺寸检验治具，其特征在于，所述治具底座上设置有用于抓握的手持部。3.根据权利要求2所述的一种用于电子产品的尺寸检验治具，其特征在于，所述手持部包括把手、握槽。4.根据权利要求1所述的一种用于电子产品的尺寸检验治具，其特征在于，所述治具底座通过卡扣、螺丝或滑动卡槽与所述上限尺寸管控检测块可拆卸连接。5.根据权利要求4所述的一种用于电子产品的尺寸检验治具，其特征在于，滑动卡槽设置于治具底座的顶面或者上限尺寸管控检测块的底面，且所述滑动卡槽与位于上限尺寸管控检测块底面或者治具...

【专利技术属性】
技术研发人员：王聪，
申请(专利权)人：伟创力电子技术苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：