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本发明公开了一种用于电子产品的尺寸检验治具，包括：治具底座、上限尺寸管控检测块、下限尺寸管控检测块。通过上述方式，本发明一种用于电子产品的尺寸检验治具，通过上限尺寸管控检测块和下限尺寸管控检测块，可以直接快速、精准的检验产品的关键尺寸，可有...
该专利属于伟创力电子技术（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过伟创力电子技术（苏州）有限公司授权不得商用。

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