用于对半导体电路的剩余寿命建模的电路和技术制造技术

本公开的实施例涉及用于对半导体电路的剩余寿命建模的电路和技术。在一些示例中，一种方法包括经由电路执行电路功能；并评估电路的剩余寿命。此外，评估电路的剩余寿命可以包括：在电路的操作期间的一个时间段内测量一个或多个电路参数，以及基于在电路的操作期间的该时间段内的一个或多个被测量的电路参数来评估电路的剩余寿命。评估电路的剩余寿命。评估电路的剩余寿命。

【技术实现步骤摘要】
用于对半导体电路的剩余寿命建模的电路和技术


[0001]本公开涉及半导体电路，并且更具体地，涉及用于在使用期间评估和管理半导体电路的电路和技术。

技术介绍

[0002]半导体电路被用于多种电路应用中，以便执行多种电路功能中的任一种。不幸的是，半导体电路会随着时间而老化。例如，变旧、环境暴露、压力或其他条件可能会导致不期望的半导体老化和可能的电路故障。施加于半导体电路的应力条件的大小在不同情况下具有很大差别。结果，半导体电路的实际工作寿命可能是不可预测的。
[0003]在许多情形中，半导体电路可以被设计成在其中将要安装电路的系统(例如，车辆)的寿命期间容许最坏情况的任务分布(profile，也被称作概况)。只有一小部分电路将实际暴露在最坏情况的任务分布。因此，许多半导体电路相对于它们的实际任务分布而被过度设计，这会增加与半导体电路相关的生产成本。

技术实现思路

[0004]本公开描述了用于评估电路中的老化效应、对电路的剩余寿命进行建模以及可能地在电路中的未来问题(由于老化)发生之前预测问题的技术和电路。所描述的电路和技术可本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路，包括：功能单元，被配置为执行电路功能；以及寿命模型单元，被配置为评估所述电路的剩余寿命，其中所述寿命模型单元被配置为：在所述电路的操作期间的一个时间段内测量一个或多个电路参数，以及基于在所述电路的操作期间的所述时间段内的被测量的一个或多个电路参数来评估所述电路的所述剩余寿命。2.根据权利要求1所述的电路，其中所述寿命模型单元被配置为：在所述电路的操作期间的第一时间段内测量所述一个或多个电路参数；在第二时间段内推断所述被测量的一个或多个一个或多个电路参数；以及基于在所述第二时间段内对所述被测量的一个或多个一个或多个电路参数的推断来评估所述电路的所述剩余寿命。3.根据权利要求1所述的电路，其中所述被测量的一个或多个电路参数包括温度测量。4.根据权利要求1所述的电路，其中所述被测量的一个或多个电路参数包括活动度量测量。5.根据权利要求4所述的电路，其中所述活动度量测量包括对电路活动的一种或多种计数。6.根据权利要求1所述的电路，其中所述寿命模型单元被配置为：在第一时间段内测量多个不同电路位置中的所述一个或多个电路参数；在第二时间段内推断所述不同电路位置中的被测量的一个或多个一个或多个电路参数；以及基于在所述不同电路位置中的所述被测量的一个或多个一个或多个电路参数的推断来评估所述电路的所述剩余寿命。7.根据权利要求1所述的电路，其中所述一个或多个被测量的电路参数包括频率测量。8.根据权利要求1所述的电路，其中所述一个或多个被测量的电路参数包括温度测量、活动度量测量和频率测量。9.根据权利要求1所述的电路，其中所述寿命模型单元被配置为响应于识别出所述剩余寿命的评估小于阈值而输出警报。10.根据权利要求1所述的电路，其中所述寿命模型单元被配置为响应于识别出所述剩余寿命的评估小于阈值而禁用所述电路的至少一部分。11.根据权利要求1所述的电路，其中所述寿命模型单元被配置为响应于识别出所述剩余寿命的评估小于阈值而禁用更大系统的与所述电路相关联的至少一部分。12.根据权利要求1所述的电路，其中所述时间段包括所述电路的寿命。13.根据权利要求1所述的电路，其中功能单元包括选自由以下各项组成的组的一个或多个电路单元：负载驱动器电路；逻辑电路；电机驱动器；振荡器电路；电平移位器电路；
相移电路；锁相环电路；模数转换器电路...

【专利技术属性】
技术研发人员：T，
申请(专利权)人：英飞凌科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：