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本公开的实施例涉及用于对半导体电路的剩余寿命建模的电路和技术。在一些示例中，一种方法包括经由电路执行电路功能；并评估电路的剩余寿命。此外，评估电路的剩余寿命可以包括：在电路的操作期间的一个时间段内测量一个或多个电路参数，以及基于在电路的操作...
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