【技术实现步骤摘要】
分时偏振成像方法及系统、工业检测装置
[0001]本申请涉及机器视觉及工业检测领域,特别是涉及分时偏振成像方法及系统、工业检测装置。
技术介绍
[0002]光波的偏振态是丰富的信息来源,例如辐射光、反射光、透射光和散射光的偏振态承载着大量的宝贵信息,对它们的测量具有十分重要的意义。偏振测量术和椭偏测量术已经广泛地应用在物理、化学、光学、电子、金属、生物和医学等领域,可用于机器视觉、工业检测与测量等领域。
[0003]常用的偏振测量方法有如下几种:
[0004]1、分时偏振成像
[0005]分时型偏振成像系统(division of time polarimeter,DoTP),通过引入动态元件来采集不同时刻下不同偏振方向的强度图像然后反解出偏振信息。最简单的就是通过旋转偏振片进行图像采集,但这种旋转来得到不同偏振方向的图像会产生很大的误差,使得成像精度下降,而且手动或者机械运动也会造成光束的漂移,速度也较慢。
[0006]2、同时偏振成像系统
[0007]与分时偏振成像相比,同时偏振成 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种分时偏振成像方法,其特征在于,包括偏振成像过程,所述偏振成像过程包括步骤:S220,光源(100)发出光线,经第一线偏振片(200)形成第一线偏振光,入射至液晶面板(300);S230,液晶面板控制器(400)控制所述液晶面板(300)显示一个标定图像,所述液晶面板(300)基于所述标定图像将所述第一线偏振光转为调节偏振光,入射至被摄物体(700);S240,所述被摄物体(700)对所述调节偏振光产生反射光线或透射光线,入射至第二线偏振片(500)形成第二线偏振光;S250,所述第二线偏振光入射至摄像机(600),所述摄像机(600)拍摄与所述标定图像的第二线偏振光相对应的偏振图像;S260,判断对应所述第一线偏振片(200)与所述第二线偏振片(500)处于90度、45度及0度的三个标定图像是否均已拍摄得到所述偏振图像,否则继续执行步骤S230;S270,根据三个偏振图像,计算得到所述被摄物体(700)在每个像素点的偏振参数。2.根据权利要求1所述分时偏振成像方法,其特征在于,所述偏振成像过程之前,所述分时偏振成像方法还包括偏振方向标定过程;所述偏振方向标定过程包括步骤:S110,光源(100)、第一线偏振片(200)、液晶面板(300)及第二线偏振片(500)平行放置;S120,所述光源(100)发出光线,经所述第一线偏振片(200)形成第一线偏振光,入射至所述液晶面板(300);S130,液晶面板控制器(400)控制所述液晶面板(300)的液晶偏转方向,将所述第一线偏振光转为偏振方向受控的调节偏振光,入射至所述第二线偏振片(500);S140,所述调节偏振光经所述第二线偏振片(500)形成第二线偏振光,入射至摄像机(600);S150,所述摄像机(600)拍摄所述第二线偏振光得到系列图像,以其中最暗的一幅图像作为第一标定图像以呈现所述第一线偏振片(200)与所述第二线偏振片(500)处于90度的状态,最亮的一幅图像作为第二标定图像以呈现所述第一线偏振片(200)与所述第二线偏振片(500)处于0度的状态,最暗及最亮的中间值的一幅图像作为第三标定图像以呈现所述第一线偏振片(200)与所述第二线偏振片(500)处于45度的状态。3.根据权利要求2所述分时偏振成像方法,其特征在于,步骤S110中,所述第一线偏振片(200)与所述第二线偏振片(500)保持相同线偏振方向;及/或,步骤S130中,液晶面板控制器(400)向所述液晶面板(300)写入控制图像且由所述液晶...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨仕基,阳纯旭,
申请(专利权)人:深圳市泰沃德技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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