一种芯片数据易失性的测试方法技术

本发明专利技术提供一种芯片数据易失性的测试方法，包括对芯片配置棋盘格背景或配置反棋盘格背景的同时配置Bootloader背景，使得棋盘格背景或反棋盘格背景与Bootloader背景结合成为一个全新的背景，该背景极大地简化了测试步骤，避免出错，保证flash区域的质量和可靠性，可以满足测试覆盖面，又优化了测试流程，在需要复测时，无需从头开始进行重测，使得其无需切换背景，仅需要对出现测试错误的步骤进行重测即可，节约了省略步骤测试花费的时间。节约了省略步骤测试花费的时间。节约了省略步骤测试花费的时间。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片数据易失性的测试方法


[0001]本专利技术涉及半导体
，特别涉及一种芯片数据易失性的测试方法。

技术介绍

[0002]Bootloader(引导加载程序)是嵌入式系统在加电后执行的第一段代码，在它完成CPU和相关硬件的初始化之后，会将相关应用程序装载到内存中，并启动操作系统运行。目前，很多种类的芯片在出货前都需要配置客户特殊要求的Bootloader背景。
[0003]由于90nm结构的特性，芯片需要测试棋盘格背景/反棋盘格背景下的数据翻转性能。而这个跟芯片出货所需配置的特殊Bootloader背景中的数值配置相冲突。
[0004]由于cell结构与90nm结构不同，使得90nm结构的测试流程与0.18μm/0.11μm等制程的芯片测试流程上有很大区别，测试时间成倍增加。目前在CP(chip probing)测试过程中先测试了棋盘格/反棋盘格，并在烘烤后用于数据翻转测试，同时还需要进行特殊Bootloader配置，频繁切换背景，导致测试时间过长。如果此时出现测试问题，需要从头开始进行重测，导致费用成倍增加。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片数据易失性的测试方法，其特征在于，包括：对芯片配置棋盘格背景或配置反棋盘格背景的同时配置Bootloader背景。2.如权利要求1所述的芯片数据易失性的测试方法，其特征在于，对芯片配置棋盘格背景的同时配置Bootloader背景具体包括：对所述芯片进行电性测试，并配置第一背景，所述第一背景包括棋盘格区域和Bootloader区域；检查所述棋盘格区域和Bootloader区域。3.如权利要求2所述的芯片数据易失性的测试方法，其特征在于，对芯片进行电性测试，并配置第一背景具体包括：提供待测试的所述芯片；对待测试的所述芯片进行模拟参数设定、对所述芯片进行功能验证；配置所述第一背景。4.如权利要求3所述的芯片数据易失性的测试方法，其特征在于，所述待测试的芯片包括flash区域，在对所述芯片进行功能验证时，对所述flash区域进行功能验证。5.如权利要求2所述的芯片数据易失性的测试方法，其特征在于，检查所述棋盘格区域和Bootloader区域包括：检查所述棋盘格区域和Bootloader区域；在烘烤后用于数据翻...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨其燕，吴蒙瑶，任栋梁，
申请(专利权)人：上海华虹宏力半导体制造有限公司，
类型：发明
国别省市：