基底起伏特征确定方法技术

技术编号:37718818 阅读:13 留言:0更新日期:2023-06-02 00:16
本申请的实施例提供了一种基底起伏特征确定方法,涉及地质勘探技术领域,该方法包括:通过布设在待测地理区域的多个测点位置处的传感器,采集得到多个测点位置分别对应的电特性值的时间序列;对多个测点位置分别对应的电特性值的时间序列进行处理,以得到待测地理区域的地电断面图;从地电断面图中读取待测地理区域地层中多个不同预选位置点的电阻率数据,作为多个待处理数据;利用预设聚类算法对多个待处理数据进行聚类处理,得到用于表征待测地理区域的基底起伏特征的地层分类结果;该方法能够较为准确地确定沉积盆地的基底起伏特征,为圈定砂岩型铀矿的成矿有利区提供有价值的参考依据。参考依据。参考依据。

【技术实现步骤摘要】
基底起伏特征确定方法


[0001]本申请涉及地质勘探
,具体涉及一种基底起伏特征确定方法。

技术介绍

[0002]在砂岩型铀矿勘查中,出露地表的基底可为铀成矿提供铀源,而深部基底的起伏形态则影响着上覆地层的沉积建造和地下水的流动方向,进而影响铀的聚集和产出位置。故准确探测出沉积盆地的基底起伏特征可为圈定砂岩型铀矿的成矿有利区提供重要的依据。
[0003]目前,现有技术中对于砂岩型铀矿的勘查方法中,确定地层结构特征多是通过粗略估计的方法,未能准确确定沉积盆地的基底起伏特征,且受到探测条件的限制,难以同时兼顾探测较深地质区域和较浅地质区域的地质信息。

技术实现思路

[0004]鉴于上述问题,本申请实施例提供了一种基底起伏特征确定方法,以至少部分解决上述技术问题。
[0005]根据本申请的实施例的基底起伏特征确定方法包括:
[0006]通过布设在待测地理区域的多个测点位置处的传感器,采集得到多个测点位置分别对应的电特性值的时间序列;
[0007]对多个测点位置分别对应的电特性值的时间序列进行处理,以得到待测地理区域的地电断面图,其中地电断面图用于表征待测地理区域地层中对应不同剖面位置处电阻率随深度分布的情况;
[0008]从地电断面图中读取待测地理区域地层中多个不同预选位置点的电阻率数据,作为多个待处理数据;
[0009]利用预设聚类算法对多个待处理数据进行聚类处理,得到用于表征待测地理区域的基底起伏特征的地层分类结果。
[0010]根据本申请的实施例,上述基底起伏特征确定方法中,通过利用预设聚类算法待测地理区域地层中多位置点的电阻率执行聚类,可得到待测地理区域基于电阻率特性的地层分类结果,用于表征待测地理区域的基底起伏特征,相比于现有技术中通过粗略估计确定地层结构特性的方法,本申请实施例的方法以实测数据为依据进行数据分析,得出的结果更加客观,能够较为准确地确定沉积盆地的基底起伏特征,为圈定砂岩型铀矿的成矿有利区提供有价值的参考依据。
附图说明
[0011]图1为根据本申请的实施例的基底起伏特征确定方法的流程图。
具体实施方式
[0012]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例的附图,对本申请的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例是本申请的一个实施例,而不是全部的实施例。基于所描述的本申请的实施例,本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
[0013]需要说明的是,除非另外定义,本申请使用的技术术语或者科学术语应当为本申请所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。若全文中涉及“第一”、“第二”等描述,则该“第一”、“第二”等描述仅用于区别类似的对象,而不能理解为指示或暗示其相对重要性、先后次序或者隐含指明所指示的技术特征的数量,应该理解为“第一”、“第二”等描述的数据在适当情况下可以互换。若全文中出现“和/或”,其含义为包括三个并列方案,以“A和/或B”为例,包括A方案,或B方案,或A和B同时满足的方案。
[0014]目前,相关技术中对于砂岩型铀矿的勘查方法中,确定地层结构特征多是通过粗略估计的方法,未能准确确定沉积盆地的基底起伏特征,且受到探测条件的限制,难以同时兼顾探测较深地质区域和较浅地质区域的地质信息。例如,砂岩型铀矿勘查常用的勘探方法主要有音频大地电磁测深法(AMT)、可控源音频大地电磁测深法(CSAMT)和大地电磁测深法(MT)。其中AMT和CSAMT所使用的频率范围在n
×
10
‑1~n
×
103Hz之间,探测深度在1000m以内,主要用于探测相对较浅的地质体。MT所使用的频率范围在n
×
10
‑4~n
×
102Hz,其探测深度较深,但在浅部存在一定范围的探测盲区。因此,有必要设计一种基于较宽频率的探测方法,并基于探测结果进行处理,用于准确确定沉积盆地基底起伏特征,为圈定砂岩型铀矿的成矿有利区提供依据。
[0015]图1为根据本申请的实施例的基底起伏特征确定方法的流程图,如图1所示,根据本申请的实施例的基底起伏特征确定方法包括操作S201~操作S204。
[0016]在操作S201,通过布设在待测地理区域的多个测点位置处的传感器,采集得到多个测点位置分别对应的电特性值的时间序列。其中,待测地理区域可以是待勘探的沉积盆地类型的某一地理位置,本申请实施例的方法旨在对待测地理区域进行探测,以确定其沉积盆地的基底起伏特征。
[0017]本申请实施例中采用大地电磁测深法,具体使用一种较宽频率范围内的电磁波对待测地理区域进行探测,便于同时兼顾探测较深地质区域和较浅地质区域的地质信息。在进行探测前,首先在预先确定的多个测点位置处布设传感器,例如可以是在多个测点位置处采用十字布极方式布设电、磁传感器采集对应测点位置上分别以电压mV和磁场强度nT表现的电磁特性值的时间序列。
[0018]在操作S202,对多个测点位置分别对应的电特性值的时间序列进行处理,以得到待测地理区域的地电断面图,其中地电断面图用于表征待测地理区域地层中对应不同剖面位置处电阻率随深度分布的情况。
[0019]具体地,对多个测点位置分别对应的电特性值的时间序列进行处理,以得到待测地理区域的地电断面图可包括:
[0020]首先,对多个测点位置分别对应的电特性值的时间序列进行转换处理,以得到多个测点位置分别对应的视电阻率和阻抗相位曲线。例如可以是对采集得到的电特性值的时间序列进行傅里叶变换及ROBUST运算,剔除“飞点”,得到对应测点位置的视电阻率及阻抗
相位曲线。
[0021]然后,对多个测点位置分别对应的视电阻率和阻抗相位曲线进行反演处理,以得到待测地理区域的地电断面图。其中,多个测点位置分布在探测电磁波测线上,可对每条探测电磁波测线上的视电阻率和阻抗相位进行反演,得到以剖面距为横坐标,深度为纵坐标的地电断面图,地电断面图可表示待测地理区域地层中对应不同剖面位置处电阻率随深度分布的情况。
[0022]在操作S203,从地电断面图中读取待测地理区域地层中多个不同预选位置点的电阻率数据,作为多个待处理数据。
[0023]在操作S204,利用预设聚类算法对多个待处理数据进行聚类处理,得到用于表征待测地理区域的基底起伏特征的地层分类结果。预设聚类算法例如可以采用K

means聚类算法,执行该聚类处理的过程中,通过预先确定类别数量,以待测地理区域地层中多个不同预选位置点的电阻率作为基础数据执行聚类,根据聚类得到的每个类簇与待测地理区域地层中的一组预选位置点集合关联,如此,可以得到待测地理区域基于电阻率特性的地层分类结果,每一类代表一种地层,同一地层中的电阻率较为接近。
[0024]根据本申请的实施例,上述方法中通过利用预设聚类算法待测地理区域地层中多位置点的电阻率执行聚类,可得到待测地理区域本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基底起伏特征确定方法,其特征在于,包括:通过布设在待测地理区域的多个测点位置处的传感器,采集得到多个测点位置分别对应的电特性值的时间序列;对所述多个测点位置分别对应的电特性值的时间序列进行处理,以得到所述待测地理区域的地电断面图,其中所述地电断面图用于表征待测地理区域地层中对应不同剖面位置处电阻率随深度分布的情况;从所述地电断面图中读取所述待测地理区域地层中多个不同预选位置点的电阻率数据,作为多个待处理数据;利用预设聚类算法对所述多个待处理数据进行聚类处理,得到用于表征所述待测地理区域的基底起伏特征的地层分类结果。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,利用预设聚类算法对所述多个待处理数据进行聚类处理包括:确定待测地理区域的地层类别总数量;利用预设聚类算法确定目标距离判别阈值和多个目标聚类中心,其中,所述多个目标聚类中心的数量等于所述地层类别总数量,所述多个目标聚类中心表示待测地理区域地层中多个目标位置点的电阻率数据,所述目标距离判别阈值用于对待处理数据和目标聚类中心之间的电阻率差值进行判别;根据多个目标聚类中心和目标距离判别阈值将所述多个待处理数据聚类为多个目标数据集合,其中各目标数据集合中的待处理数据分别与待测地理区域地层中的一组预选位置点集合关联;根据与多个目标数据集合关联的多组预选位置点集合,得到所述待测地理区域的所述地层分类结果。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,利用预设聚类算法确定目标距离判别阈值和多个目标聚类中心包括:利用预设聚类算法确定当前次距离判别阈值和多个当前次聚类中心,其中多个当前次聚类中心的数量等于所述地层类别总数量;在基于当前次距离判别阈值和多个当前次聚类中心对所述多个待处理数据完成当前次聚类的情况下,迭代执行基于当前次聚类结果确定下一次距离判别阈值和多个下一次聚类中心的操作,直至预设终止条件,得到最终确定的目标距离判别阈值和多个目标聚类中心。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,基于当前次聚类结果确定下一次距离判别阈值和多个下一次聚类中心包括:基于当前次聚类结果,分别计算各个当前数据集合中的待处理数据的均值,作为多个下一次聚类中心;基于当前次聚类结果,分别计算各个当前数据集合中待处理数据与各当前次聚类中心之间的电阻率差值;根据各个当前数据集合中...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡跃彬汪硕段书新刘祜胡渤
申请(专利权)人:核工业北京地质研究院
类型:发明
国别省市:

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