检测方法、检测装置、检测设备和计算机可读存储介质制造方法及图纸

本申请公开一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。检测方法包括获取原始图像；基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像；根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，所述预设模型根据多个模板图像生成，多个所述模板图像根据所述轮询框遍历无缺陷的预设样本图像获取。如此，在检测时无需人工参与，只需输入原始图像，然后结合预设模型即可自动实现缺陷检测。模型即可自动实现缺陷检测。模型即可自动实现缺陷检测。

【技术实现步骤摘要】
检测方法、检测装置、检测设备和计算机可读存储介质


[0001]本申请涉及检测
，更具体而言，涉及一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]为了严格把控工厂生产的产品的质量，工厂在将产品生产出来后，都需要对生产出来的产品进行缺陷检测。常常采用的方法是通过人工对产品进行缺陷检测，而人工检测容易出现缺陷漏检的情况。

技术实现思路

[0003]本申请实施方式提供一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质，以此解决人工检测容易出现缺陷漏检的情况。
[0004]本申请实施方式的检测方法包括获取原始图像；基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像；根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，所述预设模型根据多个模板图像生成，多个所述模板图像根据所述轮询框遍历无缺陷的预设样本图像获取。
[0005]本申请实施方式的检测装置包括第一获取模块、第二获取模块和第一确定模块。所述第一获取模块用于获取原始图像；所述第二获取模块用于基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像；所述第一确定模块用于根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，所述预设模型根据多个模板图像生成，多个所述模板图像根据所述轮询框遍历无缺陷的预设样本图像获取。
[0006]本申请实施方式的检测设备包括处理器。所述处理器用于获取原始图像；基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像；根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，所述预设模型根据多个模板图像生成，多个所述模板图像根据所述轮询框遍历无缺陷的预设样本图像获取。
[0007]本申请实施方式的计算机可读存储介质包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行所述检测方法。所述检测方法包括获取原始图像；基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像；根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，所述预设模型根据多个模板图像生成，多个所述模板图像根据所述轮询框遍历无缺陷的预设样本图像获取。
[0008]本申请实施方式的检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质，首先通过轮询框遍历无缺陷的预设样本图像，来获取多个模板图像，并基于多个模板图像生成预设模型，然后通过相机拍摄待测件从而获取原始图像，并通过轮询框遍历整个原始图像来得到多个待测图像，最后将可能存在缺陷的待测图像输入，以根据预设模型对待测图像进行缺陷检测，从而在检测时无需人工参与，只需输入原始图像，然后结合预设模型即可自动实现缺陷检测。
[0009]本申请的实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实施方式的实践了解到。
附图说明
[0010]本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0011]图1是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；
[0012]图2是本申请某些实施方式的检测方法的场景示意图；
[0013]图3是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；
[0014]图4是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；
[0015]图5是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；
[0016]图6是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；
[0017]图7是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；
[0018]图8是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；
[0019]图9是本申请某些实施方式的检测方法的场景示意图；
[0020]图10是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；
[0021]图11是本申请某些实施方式的检测装置的模块示意图；
[0022]图12是本申请某些实施方式的非易失性计算机可读存储介质和处理器的连接状态示意图。
具体实施方式
[0023]下面详细描述本申请的实施方式，实施方式的示例在附图中示出，其中，相同或类似的标号自始至终表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本申请的实施方式，而不能理解为对本申请的实施方式的限制。
[0024]请参阅图1至图2，本申请实施方式提供一种检测方法，检测方法包括：
[0025]步骤011：获取原始图像。
[0026]可选地，原始图像可通过相机30拍摄待测件200得到。
[0027]具体地，检测设备100包括相机30和处理器40。相机30用于拍摄原始图像。在需要检测时，通过处理器40控制相机30拍摄待测件200，从而获取原始图像。需要说明的，技术人员可以通过设置通过电子设备(手机或者平板)向处理器40发送控制信息，通过处理器40控制相机30拍摄待测件200的原始图像。
[0028]可选地，原始图像中可包括待测件200的部分缺陷(如漏涂缺陷、凹凸缺陷、墨点缺陷和刀丝缺陷)。
[0029]步骤012：基于预设的轮询框遍历原始图像，以获取多个待测图像。
[0030]其中，轮询框的尺寸是提前预设好的，技术人员可根据实际的应用情况进行设置。轮询框用于轮询原始图像。
[0031]具体地，在获取到原始图像的情况下，处理器40基于预设的轮询框对原始图像进行轮询，直到遍历整个原始图像，从而获取多个待测图像。如预设的轮询框的尺寸为2乘2，
原始图像的尺寸为8乘8，即原始图像中包含了64个像素，则此时在轮询框遍历整个原始图像后，可以获取到16个待测图像，每个待测图像中包含4个像素。
[0032]步骤013：根据多个待测图像的像素值及预设模型，确定待测图像是否包含缺陷，预设模型根据多个模板图像生成，多个模板图像根据轮询框遍历无缺陷的预设样本图像获取。
[0033]其中，预设样本图像为通过相机30拍摄无缺陷的待测件200得到的图像。
[0034]具体地，通过轮询框遍历无缺陷的预设样本图像，来获取多个模板图像，并基于多个模板图像生成预设模型。在获取到多个待测图像的情况下，处理器40根据预设模型对多个待测图像进行检测，此时处理器40基于多个待测图像的像素值和预设模型，检测每个待测图像中是否包含缺陷(如刀丝缺陷)。如通过轮询框遍历原始图像得到了16个待测图像，此时处理器40会根据预设模型检测16个待测图像，从而确定每个待测图像中是否包含缺陷。
[0035]可选地，在确定待测图像中包含缺陷的情况下，向技术人员发送提示信息，以告知技术人员待测图像中存在缺陷。需要说明的是提示信息可包括缺陷的类型(如针孔缺陷)和缺陷面积(如漏涂缺陷的缺陷面积为0.4平方毫米)。
[0036]本申请的检测方法，首先通过轮询框遍历无缺陷的预设样本图像，来获取多个模板图像，并基于多个模板图像生成预设模型，然本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测方法，其特征在于，包括：获取原始图像；基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像；根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，所述预设模型根据多个模板图像生成，多个所述模板图像根据所述轮询框遍历无缺陷的预设样本图像获取。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述预设模型为正态分布模型。3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，标准差为多个所述模板图像的像素值均值的标准差，所述检测方法还包括：根据所述样本均值、所述标准差及所述标准差的预设系数，确定缺陷范围。4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述正态分布模型包括样本均值和标准差，所述样本均值为多个所述模板图像的像素值均值的均值，所述根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，包括：计算所述待测图像的像素值均值；在所述像素值均值位于所述缺陷范围内的情况下，确定所述待测图像包含缺陷。5.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述样本均值为多个所述模板图像的梯度均值的均值，所述标准差为多个所述模板图像的梯度均值的标准差，所述基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像，包括：计算所述原始图像的每个像素的梯度，以生成梯度图像；基于预设的轮询框遍历所述梯度图像，以获取多个所述待测图像；所述根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，包括：计算所述待测图像的梯度均值；在所述梯度均值位于所述缺陷范围内的情况下，确定所述待测图像包含缺陷。6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像，包括：基于所述轮询框和预设步长遍历所述原始图像...

【专利技术属性】
技术研发人员：陆佳磊，李宝同，包振健，
申请(专利权)人：凌云光技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：