测试装置及其控制方法、批量热敏器件测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种测试装置及其控制方法、批量热敏器件测试方法，测试装置上设置有驱动组件、加热组件、采样件和采样件固定放置板；采样件固定放置板用于放置N个待测件，N大于等于1，包括以下步骤：S100、测试装置获取到第一指令时，控制驱动组件开始工作，以使驱动组件带动采样件固定放置板移动至第一位置，以使采样件与采样件固定放置板上的N个待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。S200、控制加热组件工作，以对采样件固定放置板上的多个待测件辐射热能；S300、经采样件获取N个待测件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数；S400、根据至少一个检测参数，确定N个待测件的工作性能并进行提示。本发明专利技术提高了对批量待测件的测试效率。测试效率。测试效率。

【技术实现步骤摘要】
测试装置及其控制方法、批量热敏器件测试方法


[0001]本专利技术涉及测试设备
，特别涉及一种测试装置及其控制方法、批量热敏器件测试方法。

技术介绍

[0002]在工厂大批量生产热敏器件的过程中，难免存在一些热敏器件的感应灵敏度低，性能差的现象，因此在热敏器件出厂之前，需要对每个热敏器件进行优劣检测。而现有的热敏器件由模拟热敏器件逐渐转型到数字化热敏器件，数字化热敏器件的波动性区别于模拟热敏器件，工作人员需要对应研发一种关于数字化热敏器件的批量测试设备以对热敏器件进行优劣检测。然而，市场上大部分数字探头测试设备只能单次测试单个热敏器件的内部热敏模块，无法对大批量热敏器件同时进行测试，从而导致大批量热敏器件的测试效率降低。

技术实现思路

本专利技术的主要目的是提出一种测试装置及其控制方法、批量热敏器件测试方法，旨在提高对批量热敏器件的测试效率。
[0003]为此，本专利技术提出一种一种测试装置控制方法，所述测试装置上设置有驱动组件、加热组件、采样件和采样件固定放置板；所述采样件固定放置板用于放置N个待测件，N大于等于1，包括以下步骤：步骤S100、测试装置获取到第一指令时，控制所述驱动组件开始工作，以使所述驱动组件带动所述采样件固定放置板移动至第一位置，以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的N个所述待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；步骤S200、控制所述加热组件工作，以对所述采样件固定放置板上的N个待测件辐射热能；步骤S300、经所述采样件获取N个待测件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数；步骤S400、根据至少一个所述检测参数，确定N个待测件的工作性能并进行提示。
[0004]可选地，所述以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的N个所述待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态的步骤具体为：步骤S110、控制所述驱动组件带动所述采样件移动，以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的N个待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。
[0005]可选地，所述步骤S100还包括：步骤S120、控制所述驱动组件带动所述加热组件移动，以使所述加热组件与所述采样件固定放置板上的N个待测件的热敏模块处于预设接触状态。
[0006]可选地，在所述步骤S200和所述步骤S300之间，所述测试装置控制方法还包括：步骤S500、所述采样件在预设时间内获取到所述N个待测件的采样接口凸出部分
输出的响应时，确认所述加热组件与所述N个待测件的内部热敏模块处于预设接触状态和所述采样件与所述N个待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；步骤S600、所述采样件在预设时间内无法获取所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认所述加热组件与所述N个待测件的内部热敏模块处于非预设接触状态和/或所述采样件与所述N个待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态，并控制所述驱动组件带动所述采样件固定放置板从所述第一位置移动至第二位置。
[0007]可选地，所述测试装置还包括遮挡组件，所述遮挡组件设置于所述加热组件和所述采样件固定放置板之间，所述控制所述加热组件工作，以对所述采样件固定放置板上的多个待测件辐射热能的步骤具体为：步骤S210、控制所述加热组件工作；步骤S220、控制所述遮挡组件动作，以使所述加热组件对所述采样件固定放置板上未被所述遮挡组件遮挡的位置辐射热能。
[0008]可选地，所述遮挡组件包括第一遮挡件和第二遮挡件，所述第一遮挡件与所述第二遮挡件沿高度方向上下对应设置，所述控制所述遮挡组件动作的步骤具体为：控制所述第一遮挡件以第一预设频率在第一动作状态和第二动作状态之间交替切换，以及控制所述第二遮挡件处于所述第一动作状态；其中，所述第一动作状态为全打开，所述第二动作状态为全遮挡；所述步骤S300具体为：步骤S310、在所述第一遮挡件处于所述第一动作状态时，或所述第二动作状态时，经所述采样件获取所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数以确定N个待测件的受热均匀程度参数。
[0009]可选地，所述遮挡组件包括第一遮挡件和第二遮挡件，所述第一遮挡件与所述第二遮挡件沿高度方向上下对应设置，所述控制所述遮挡组件动作的步骤具体为：控制所述第一遮挡件以第一预设频率在第一动作状态和第二动作状态之间交替切换，以及控制所述第二遮挡件处于第三动作状态；其中，所述第一动作状态为全打开，所述第二动作状态为全遮挡，所述第三动作状态为半遮挡；所述步骤S300具体为：步骤S320、在所述第一遮挡件处于所述第一动作状态时，或所述第二动作状态时，经所述采样件获取所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数以确定N个待测件的受热响应强度参数。
[0010]可选地，所述遮挡组件包括第一遮挡件和第二遮挡件，所述第一遮挡件与所述第二遮挡件沿高度方向上下对应设置，所述控制所述遮挡组件动作的步骤具体为：控制所述第一遮挡件处于第二动作状态，以及控制所述第二遮挡件处于所述第一动作状态；其中，所述第一动作状态为全打开，所述第二动作状态为全遮挡；所述步骤S300具体为：步骤S330、在所述第一遮挡件处于所述第二动作状态时，经所述采样件获取所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数以确定N个待测件的受热稳定性程度参数。
[0011]可选地，如以上内容所述的测试装置控制方法，在所述步骤S200之前，所述测试装置控制方法还包括：
控制所述驱动组件带动所述加热组件移动，以使所述加热组件与所述采样件固定放置板上的N个待测件的热敏模块紧贴。
[0012]可选地，如以上内容所述的测试装置控制方法，在步骤S400之前，所述测试装置控制方法还包括：步骤S100、所述测试装置获取到第二指令时，控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述采样件固定放置板从所述第一位置移动至第二位置；其中，在所述采样件固定放置板处于第二位置时，所述采样件固定放置板上的N个待测件的采样接口凸与采样件处于第二接触状态。
[0013]可选地，如以上内容所述的测试装置控制方法，所述测试装置控制方法还包括：步骤S700、控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述加热组件和所述采样件移动，直至所述加热组件与所述N个待测件的内部热敏模块处于第二接触状态。
[0014]本专利技术还提出一种测试装置，所述测试装置包括：测试装置主体，所述测试装置主体上设置有用于放置N个待测件的采样件固定放置板；加热组件，所述加热组件设置于所述测试装置内；驱动组件，所述驱动组件设置于所述测试装置内；采样件，所述采样件设置于所述测试装置内；所述驱动组件，用于带动所述采样件固定放置板移动至第一位置；电控组件，所述电控组件获取到第一指令时，控制所述驱动组件开始工作，以使所述驱动组件带动所述采样件固定放置板移动至第一位置，以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的N个所述待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；控制所述加热组件工作，以对所述采样件固定放置板上的多个待测件辐射热能；经所述采样件获取N个待测件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数；所述电控组件获取到第二指令本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置控制方法，所述测试装置上设置有驱动组件、加热组件、采样件和采样件固定放置板；所述采样件固定放置板用于放置N个待测件，N大于等于1，其特征在于，包括以下步骤：步骤S100、测试装置获取到第一指令时，控制所述驱动组件开始工作，以使所述驱动组件带动所述采样件固定放置板移动至第一位置，以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的N个所述待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；步骤S200、控制所述加热组件工作，以对所述采样件固定放置板上的N个待测件辐射热能；步骤S300、经所述采样件获取N个待测件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数；步骤S400、根据至少一个所述检测参数，确定N个待测件的工作性能并进行提示。2.如权利要求1所述的测试装置控制方法，其特征在于，所述以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的N个所述待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态的步骤具体为：步骤S110、控制所述驱动组件带动所述采样件移动，以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的N个待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。3.如权利要求2所述的测试装置控制方法，其特征在于，所述步骤S100还包括：步骤S120、控制所述驱动组件带动所述加热组件移动，以使所述加热组件与所述采样件固定放置板上的N个待测件的热敏模块处于预设接触状态。4.如权利要求3所述的测试装置控制方法，其特征在于，在所述步骤S200和所述步骤S300之间，所述测试装置控制方法还包括：步骤S500、所述采样件在预设时间内获取到所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认所述加热组件与所述N个待测件的内部热敏模块处于预设接触状态和所述采样件与所述N个待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；步骤S600、所述采样件在预设时间内无法获取所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认所述加热组件与所述N个待测件的内部热敏模块处于非预设接触状态和/或所述采样件与所述N个待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态，并控制所述驱动组件带动所述采样件固定放置板从所述第一位置移动至第二位置。5.如权利要求1所述的测试装置控制方法，其特征在于，所述测试装置还包括遮挡组件，所述遮挡组件设置于所述加热组件和所述采样件固定放置板之间，所述控制所述加热组件工作，以对所述采样件固定放置板上的多个待测件辐射热能的步骤具体为：步骤S210、控制所述加热组件工作；步骤S220、控制所述遮挡组件动作，以使所述加热组件对所述采样件固定放置板上未被所述遮挡组件遮挡的位置辐射热能。6.如权利要求5所述的测试装置控制方法，其特征在于，所述遮挡组件包括第一遮挡件和第二遮挡件，所述第一遮挡件与所述第二遮挡件沿高度方向上下对应设置，所述控制所述遮挡组件动作的步骤具体为：控制所述第一遮挡件以第一预设频率在第一动作状态和第二动作状态之间交替切换，以及控制所述第二遮挡件处于所述第一动作状态；其中，所述第一动作状态为全打开，所述
第二动作状态为全遮挡；所述步骤S300具体为：步骤S310、在所述第一遮挡件处于所述第一动作状态时，或所述第二动作状态时，经所述采样件获取所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数以确定N个待测件的受热均匀程度参数。7.如权利要求5所述的测试装置控制方法，其特征在于，所述遮挡组件包括第一遮挡件和第二遮挡件，所述第一遮挡件与所述第二遮挡件沿高度方向上下对应设置，所述控制所述遮挡组件动作的步骤具体为：控制所述第一遮挡件以第一预设频率在第一动作状态和第二动作状态之间交替切换，以及控制所述第二遮挡件处于第三动作状态；其中，所述第一动作状态为全打开，所述第二动作状态为全遮挡，所述第三动作状态为半遮挡；所述步骤S300具体为：步骤S320、在所述第一遮挡件处于所述第一动作状态时，或所述第二动作状态时，经所述采样件获取所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数以确定N个待测件的受热响应强度参数。8.如权利要求5所述的测试装置控制方法，其特征在于，所述遮挡组件包括第一遮挡件和第二遮挡件，所述第一遮挡件与所述第二遮挡件沿高度方向上下对应设置，所述控制所述遮挡组件动作的步骤具体为：控制所述第一遮挡件处于第二动作状态，以及控制所述第二遮挡件处于第一动作状态；其中，所述第一动作状态为全打开，所述第二动作状态为全遮挡；所述步骤S300具体为：步骤S330、在所述第一遮挡件处于所述第二动作状态时，经所述采样件获取所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数以确定N个待测件的受热稳定性程度参数。9.如权利要求1
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8任一项所述的测试装置控制方法，其特征在于，在所述步骤S200之前，所述测试装置控制方法还包括：控制所述驱动组件带动所述加热组件移动，以使所述加热组件与所述采样件固定放置板上的N个待测件的热敏模块紧贴。10.如权利要求1
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8任一项所述的测试装置控制方法，其特征在于，在步骤S400之前，所述测试装置控制方法还包括：步骤S100、所述测试装置获取到第二指令时，控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述采样件固定放置板从所述第一位置移动至第二位置；其中，在所述采样件固定放置板处于第二位置时，所述采样件固定放置板上的N个待测件的采样接口凸与采样件处于第二接触状态。11.如权利要求1
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8任一项所述的测试装置控制方法，其特征在于，所述测试装置控制方法还包括：步骤S700、控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述加热组件和所述采样件移动，直至所述加热组件与所述N个待测件的内部热敏模块处于第二接触状态。12.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：测试装置主体，所述测试装置主体上设置有用于放置N个待测件的采样件...

【专利技术属性】
技术研发人员：王琪，张宙，叶频，
申请(专利权)人：苏州英瑞传感技术有限公司，
类型：发明
国别省市：