【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及,属于半导体器件、集成电路 封装引线材料
技术介绍
众所周知,在IC封装中,Si片半导体元件上形成的电极垫片与引线框架之 间要靠引线来连接,这种焊线通常是直径20 50Pin的微细线。对于焊线的选 择,从导电性和耐腐蚀性考虑用Au线最好,但从材料成本和与芯片基体连接的 相容性上考虑,用Al线或Al-l%Si合金线又更合适。在这种直径20 5(^m微细Al焊线的拉伸加工中,减少断头次数,提高其 拉伸特性是很重要的,它对生产效率、拉伸成本等有着极大的影响。线材的表面状况与微细线的拉伸特性有很大的关联,如果表面有缺陷的话, 将导致拉伸润滑性变坏,在随后的拉伸和退火中,线表面会沿拉伸方向出现伤 痕和小孔。由此可见,表面上出现缺陷对微细丝拉伸会产生极不利的影响,它 回增加断线次数,降低工作效率。
技术实现思路
针对上述现有技术,本专利技术提供了一种制造键合微细Al焊线的方法,其通 过化学抛光来达到消除线材表面缺陷的目的,使断线次数减少,大大提高了工 作效率。本专利技术是通过以下技术方案实现的一种键合微细Al悍线的制造方法,步骤为先将Al-l。/。S ...
【技术保护点】
一种键合微细Al焊线的制造方法,其特征在于,步骤为:先将Al-1%Si合金线坯用合金模拉至¢1.0mm,然后用60℃、20%浓度的NaOH溶液处理5-10秒,然后用水清洗,之后用化学抛光液进行化学抛光,化学抛光后再用水冲洗,热风干燥,最后用收线轴收取即可。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:门广才,
申请(专利权)人:聊城北科电子信息材料有限公司,
类型:发明
国别省市:37[中国|山东]
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