陀螺仪测量系统角振动校准设备及方法技术方案

本发明专利技术涉及一种陀螺仪测量系统角振动校准设备及方法。陀螺仪测量系统角振动校准设备包括角振动校准装置以及数据采集系统。角振动校准装置上设置有伺服控制组件、角度检测组件、主轴和连接件，伺服控制组件与主轴驱动连接以驱动主轴转动，角度检测组件用于对主轴的转动角度进行检测，连接件固定安装在主轴上；数据采集系统分别与伺服控制组件和角度检测组件通讯连接，数据采集系统用于接受角度检测组件传递的信号并计算得到陀螺仪测量系统的当前角振动频率和幅值与标准角振动频率和幅值之间的差值，并将差值传递至伺服控制组件以对主轴的转动方向进行控制。本发明专利技术可以实现对陀螺仪测量系统进行实时动态校准。陀螺仪测量系统进行实时动态校准。陀螺仪测量系统进行实时动态校准。

【技术实现步骤摘要】
陀螺仪测量系统角振动校准设备及方法


[0001]本专利技术属于仪器设备校准
，具体涉及一种陀螺仪测量系统角振动校准设备及方法。

技术介绍

[0002]陀螺仪测量系统主要用于各种陀螺仪标定、设备运动仿真和加速度试验等，其量值准确与否直接关系到相关产品性能检测结果的准确性，角振动特性决定了陀螺仪测量系统的动态检测能力。
[0003]陀螺仪测量系统角振动参数的校准目前主要采用自校准方式进行，为真实反应陀螺仪测量系统角振动特性，需要对陀螺仪测量系统进行实时动态校准。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种陀螺仪测量系统角振动校准装置及方法，实现了对陀螺仪测量系统进行实时动态校准。
[0005]为了实现上述目的，根据本申请的一个方面，提供了一种陀螺仪测量系统角振动校准设备，所述陀螺仪测量系统角振动校准设备包括：
[0006]角振动校准装置，所述角振动校准装置上设置有伺服控制组件、角度检测组件、主轴和连接件，所述伺服控制组件与所述主轴驱动连接以驱动所述主轴转动，所述角度检测组件用于对所述主轴的转动角度进行检测，所述连接件固定安装在所述主轴上，以用于与待校准的陀螺仪测量系统连接；
[0007]数据采集系统，所述数据采集系统分别与所述伺服控制组件和所述角度检测组件通讯连接，所述数据采集系统用于接受所述角度检测组件传递的信号并计算得到所述陀螺仪测量系统的当前角振动频率和幅值与标准角振动频率和幅值之间的差值，并将所述差值传递至所述伺服控制组件以对所述主轴的转动方向进行控制。
[0008]进一步地，所述角度检测组件包括光栅、反光镜、干涉镜以及激光干涉仪，所述光栅设置于所述主轴上，所述反光镜设置于所述角振动校准装置上并位于所述主轴的端部，所述干涉镜设置于所述反光镜和所述激光干涉仪之间，且所述反光镜、所述干涉镜以及所述激光干涉仪位于同一水平线上。
[0009]进一步地，所述陀螺仪测量系统角振动校准设备还包括底座，所述底座用于固定安装所述干涉镜。
[0010]进一步地，所述底座为磁力表座。
[0011]进一步地，所述陀螺仪测量系统角振动校准设备包括支撑架，所述支撑架用于支撑所述激光干涉仪。
[0012]进一步地，所述支撑架为三脚架。
[0013]进一步地，所述连接件为法兰盘。
[0014]另一方面，本专利技术还提供了一种陀螺仪测量系统角振动校准方法，所述陀螺仪测
量系统角振动校准方法采用上述的陀螺仪测量系统角振动校准设备执行，所述陀螺仪测量系统角振动校准方法包括：
[0015]步骤S1：将所述角振动校准装置通过连接件固定安装在陀螺仪测量系统上；
[0016]步骤S2：设置所述陀螺仪测量系统的角振动频率和幅值，控制所述陀螺仪测量系统摆动以带动所述主轴转动；
[0017]步骤S3：利用角度检测组件对所述主轴的转动角度进行检测并将检测信号传递至数据采集系统；
[0018]步骤S4：利用所述数据采集系统计算得到所述陀螺仪测量系统的当前角振动频率和幅值与标准角振动频率和幅值之间的差值，并将所述差值传递至所述伺服控制组件以对所述主轴的转动方向进行控制进而对所述陀螺仪测量系统进行校准。
[0019]进一步地，在所述步骤S2之后以及所述步骤S3之前还包括：通过所述数据采集系统设置所需采样频率以及采样点数，并控制所述陀螺仪测量系统摆动以带动主轴转动。
[0020]进一步地，完成步骤S4之后，重复步骤S2至步骤S4，设置所述陀螺仪测量系统不同角振动频率和幅值，完成对不同角振动频率和幅值的校准。
[0021]应用本专利技术的技术方案，将角振动校准装置通过法兰盘固定安装在待校准的陀螺仪测量系统上，此后，将数据采集系统分别与伺服控制组件和角度检测组件通讯连接。校准过程中，设置陀螺仪测量系统的角振动频率和幅值并控制陀螺仪测量系统进行摆动以带动主轴转动，此时，利用角度检测组件对主轴转动的角度进行检测，并将该检测信号传递至数据采集系统，利用该数据采集系统计算得到陀螺仪测量系统的当前角振动频率和幅值与标准角振动频率和幅值之间的差值，并将差值传递至伺服控制组件以对主轴的转动方向进行控制从而对陀螺仪测量系统进行校准。
[0022]与现有技术相比，本申请至少有以下有益效果：(1)本申请具有结构简单和实现方便的优点，能够实现角振动校准装置的快速安装和调整。(2)本申请利用角振动校准装置可直接进行陀螺仪测量系统角振动特性校准，其校准状态与使用状态完全一致，完全满足校准需求。(3)本申请提高了陀螺仪测量系统校准的可靠性，提高了校准效率。
附图说明
[0023]构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本专利技术的进一步理解，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：
[0024]图1是本申请实施例公开的陀螺仪测量系统角振动校准方法的流程图；
[0025]图2是本申请实施例公开的陀螺仪测量系统角振动校准设备的结构示意图。
[0026]附图标记说明：
[0027]10、伺服控制组件；20、光栅；21、反光镜；22、干涉镜；23、激光干涉仪；30、主轴；40、连接件；50、数据采集系统；60、底座；70、支撑架；80、陀螺仪测量系统。
具体实施方式
[0028]以下结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步详细说明，根据下面说明和权利要求书，本专利技术的优点和特征将更清楚。需要说明的是，附图均采用非常简化的形式且均适用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本专利技术实施例的目的。
[0029]需要说明的是，为了清楚地说明本专利技术的内容，本专利技术特举多个实施例以进一步阐释本专利技术的不同实现方式，其中，该多个实施例是列举式而非穷举式。此外，为了说明的简洁，前实施例中已提及的内容往往在后实施例中予以省略，因此，后实施例中未提及的内容可相应参考前实施例。
[0030]参见图1和图2所示，根据本申请的实施例，提供了一种陀螺仪测量系统角振动校准设备，该陀螺仪测量系统角振动校准设备包括角振动校准装置以及数据采集系统50。其中，角振动校准装置上设置有伺服控制组件10、角度检测组件、主轴30和连接件40，该伺服控制组件10与主轴30驱动连接以驱动主轴30转动，该角度检测组件用于对主轴30的转动角度进行检测，连接件40固定安装在主轴30上，以用于与待校准的陀螺仪测量系统80连接；数据采集系统50分别与伺服控制组件10和角度检测组件通讯连接，该数据采集系统50用于接受角度检测组件传递的信号并计算得到陀螺仪测量系统80的当前角振动频率和幅值与标准角振动频率和幅值之间的差值，并将差值传递至伺服控制组件10以对主轴30的转动方向进行控制。
[0031]实际使用陀螺仪测量系统角振动校准设备时，将角振动校准装置通过连接件40固定安装在待校准的陀螺仪测量系统80上，此后，将数据采集系统50分别与伺服控制组件10和角度检测组件通讯连接。如此，便能进行校准工作，结构简单，便于实现。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种陀螺仪测量系统角振动校准设备，其特征在于，包括：角振动校准装置，所述角振动校准装置上设置有伺服控制组件(10)、角度检测组件、主轴(30)和连接件(40)，所述伺服控制组件(10)与所述主轴(30)驱动连接以驱动所述主轴(30)转动，所述角度检测组件用于对所述主轴(30)的转动角度进行检测，所述连接件(40)固定安装在所述主轴(30)上，以用于与待校准的陀螺仪测量系统(80)连接；数据采集系统(50)，所述数据采集系统(50)分别与所述伺服控制组件(10)和所述角度检测组件通讯连接，所述数据采集系统(50)用于接受所述角度检测组件传递的信号并计算得到所述陀螺仪测量系统(80)的当前角振动频率和幅值与标准角振动频率和幅值之间的差值，并将所述差值传递至所述伺服控制组件(10)以对所述主轴(30)的转动方向进行控制。2.根据权利要求1所述的陀螺仪测量系统角振动校准设备，其特征在于，所述角度检测组件包括光栅(20)、反光镜(21)、干涉镜(22)以及激光干涉仪(23)，所述光栅(20)设置于所述主轴(30)上，所述反光镜(21)设置于所述角振动校准装置上并位于所述主轴(30)的端部，所述干涉镜(22)设置于所述反光镜(21)和所述激光干涉仪(23)之间，且所述反光镜(21)、所述干涉镜(22)以及所述激光干涉仪(23)位于同一水平线上。3.根据权利要求2所述的陀螺仪测量系统角振动校准设备，其特征在于，所述陀螺仪测量系统角振动校准设备还包括底座(60)，所述底座(60)用于固定安装所述干涉镜(22)。4.根据权利要求3所述的陀螺仪测量系统角振动校准设备，其特征在于，所述底座(60)为磁力表座。5.根据权利要求2所述的陀螺仪测量系统角振动校准设备，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：黎安兵，张军，
申请(专利权)人：贵州航天计量测试技术研究所，
类型：发明
国别省市：