本公开实施例中提供了一种时序优化方法，包括：对所述集成电路进行静态时序分析，并获取所述集成电路中的待处理路径；基于所述待处理路径确定待处理线网，所述待处理线网包括出现在所述待处理路径上的线网；对每条所述待处理线网中的负载进行负载隔离，所述负载隔离包括对所述待处理线网中的负载进行负载分类处理，分类结果包括关键负载和非关键负载，在所述非关键负载周围添加缓冲单元；所述负载分类处理包括尝试不同的负载标记方案、估算每种标记结果的时延变化情况、取其中的最优方案对负载进行分类。通过本公开的处理方案，可以提高在关键路径上的时序收敛效率。在关键路径上的时序收敛效率。在关键路径上的时序收敛效率。
【技术实现步骤摘要】
一种时序优化方法、装置和电子设备
[0001]本专利技术涉及集成电路领域，具体涉及一种基于负载屏蔽的时序优化方法，更具体地涉及一种基于负载屏蔽的时序优化方法、装置和电子设备。
技术介绍
[0002]时序是集成电路中的一个关键要素，只有满足时序要求时，集成电路才可以正常工作，而在超大规模集成电路物理设计自动化领域中，时序的优化尤为重要。
[0003]优化时序特性的一个重要方法就是关键路径上扇出数目的降低，传统的扇出优化针对的都是电路中存在的高扇出问题，如拥有几十、几百，甚至更多负载数目线网，通常都是通过聚类算法，通过一些约束作为分类的依据(如位置信息、线网上的电容电阻等)，将负载分成几组，并分别增加新的缓冲来驱动，达到降低高扇出的效果。这种高扇出优化通常是全局优化，考虑的是电路中扇出较高的线网，并不会考虑当前线网所在的时序路径。显然，对于关键路径上的扇出优化，收益要高于非关键路径的扇出优化。
[0004]基于此，传统扇出优化的方法存在关键路径上时序收敛效率低的问题，需要一种可以高效的对电路时序特性进行优化的方法。
技术实现思路
[0005]有鉴于此，本公开实施例提供一种基于负载屏蔽的时序优化方法，至少部分解决现有技术中存在的问题。
[0006]根据本公开实施例的一个方面，提供了一种应用于集成电路的时序优化方法，包括：
[0007]对所述集成电路进行静态时序分析，并获取所述集成电路中的待处理路径；
[0008]基于所述待处理路径确定待处理线网，所述待处理线网包括出现在所述待处理路径上的线网；
[0009]对每条所述待处理线网中的负载进行负载隔离处理，所述负载隔离处理包括
[0010]对所述待处理线网中的负载进行负载分类处理，分类结果包括关键负载和非关键负载，
[0011]在所述非关键负载周围添加缓冲单元。
[0012]根据本公开实施例的一种具体实现方式，所述对所述待处理线网中的负载进行负载分类处理还包括：
[0013]初始化标记方案，包括获取待处理线网中的所有负载的时序裕量，并将时序裕量最小的所述负载标记为关键负载，其他标记为非关键负载，
[0014]估算当前标记方案中，在所述非关键负载周围添加所述缓冲单元之后，所述待处理线网中驱动单元到各个负载的时延变化情况，并记录所述时延变化情况；
[0015]更新标记方案，包括将当前标记的非关键负载中，时序裕量最小的所述负载的标记更改为关键负载，重复进行此步骤，直至所述待处理线网中的所有所述负载的标记结果
都为关键负载；
[0016]比较每个标记方案中记录的时延变化情况，基于其中时延变化情况最小时的缓冲单元添加情况，在所述非关键负载周围添加缓冲单元。
[0017]根据本公开实施例的一种具体实现方式，所述对每条所述待处理线网中的负载进行负载隔离处理之前还包括：
[0018]获取所述待处理线网出现在所述待处理路径上的次数；
[0019]基于所述待处理线网出现在所述待处理路径上的次数，对所述待处理线网进行排序；
[0020]基于排序结果，确定对每条所述待处理线网中的负载进行负载隔离处理的顺序。
[0021]根据本公开实施例的一种具体实现方式，所述对所述待处理线网中的负载进行排序包括：
[0022]获取所述待处理线网中每个负载所在路径上的时序裕量；
[0023]基于所述每个负载所在路径上的时序裕量对所述负载进行有小到大的排序，所述负载的时序裕量越小，排序越靠前。
[0024]根据本公开实施例的一种具体实现方式，所述在估算当前标记方案中，在所述非关键负载周围添加所述缓冲单元之前包括：
[0025]计算所述线网的驱动单元与非关键负载的最小生成树，包括以驱动单元的坐标作为根节点位置，所述非关键负载的坐标为叶子节点位置，构建曼哈顿距离最小生成树；
[0026]将所述最小生成树的斯坦纳点作为候选位置，以确定添加所述待处理线网中缓冲单元的位置。
[0027]根据本公开实施例的一种具体实现方式，所述在非关键负载周围添加缓冲单元还包括：
[0028]对所述非关键负载进行基于坐标位置的不同数目的聚类，所述聚类的数目小于4；
[0029]比较不同数目聚类方案的轮廓系数，并将轮廓系数最小的方案作为最优数目聚类方案。
[0030]根据本公开实施例的一种具体实现方式，所述在非关键负载周围添加缓冲单元过程中还包括：
[0031]遍历使用工艺库中不同类型的缓冲单元的添加结果，包括
[0032]对于每一种不同缓冲单元类型的尝试，首先根据对应所述非关键负载以及所述缓冲单元需要放置的位置，估算所述缓冲单元添加后的时延变化；
[0033]选取缓冲单元添加后时延变化最小的缓冲单元类型，作为在所述非关键负载周围添加的缓冲单元类型。
[0034]根据本公开实施例的一种具体实现方式，所述对每条所述待处理线网中的负载进行负载隔离处理还包括：
[0035]对处理后的所述电路进行时序更新；
[0036]对进行时序更新后的电路进行静态时序分析处理，得到处理结果。
[0037]第二方面，本公开实施例提供了一种时序优化装置，包括根据本公开第一方面或其任一实现方式所述的时序优化方法。
[0038]第三方面，本公开实施例提供了一种电子设备，包括根据本公开第一方面或其任
一实现方式所述的时序优化方法或者包括根据本公开第二方面所述的时序优化装置。
[0039]本公开实施例中提供了一种时序优化方法，包括：对所述集成电路进行静态时序分析，并获取所述集成电路中的待处理路径；基于所述待处理路径确定待处理线网，所述待处理线网包括出现在所述待处理路径上的线网；对每条所述待处理线网中的负载进行负载隔离处理，所述负载隔离处理包括对所述待处理线网中的负载进行分类，分类结果包括关键负载和非关键负载，在所述非关键负载周围添加缓冲单元；所述负载分类处理包括尝试不同的负载标记方案、估算每种标记结果的时延变化情况、取其中的最优方案对负载进行分类。通过本公开的处理方案，可以提高在关键路径上的时序收敛效率，且时序优化效果更加显著。
附图说明
[0040]为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0041]图1为本公开实施例提供的一种时序优化方法的流程示意图；
[0042]图2为本公开实施例提供的另一种时序优化方法的流程示意图；
[0043]图3为本公开实施例提供的时序优化方法的缓冲单元聚类示意图。
具体实施方式
[0044]下面结合附图对本公开实施例进行详细描述。
[0045]以下通过特定的具体实例说明本公开的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种应用于集成电路的时序优化方法，其特征在于，包括：对所述集成电路进行静态时序分析，并获取所述集成电路中的待处理路径；基于所述待处理路径确定待处理线网，所述待处理线网包括出现在所述待处理路径上的线网；对每条所述待处理线网中的负载进行负载隔离处理，所述负载隔离处理包括对所述待处理线网中的负载进行负载分类处理，分类结果包括关键负载和非关键负载，在所述非关键负载周围添加缓冲单元。2.根据权利要求1所述的时序优化方法，其特征在于，所述对所述待处理线网中的负载进行负载分类处理还包括：初始化标记方案，包括获取待处理线网中的所有负载的时序裕量，并将时序裕量最小的所述负载标记为关键负载，其他标记为非关键负载，估算当前标记方案中，在所述非关键负载周围添加所述缓冲单元之后，所述待处理线网中驱动单元到各个负载的时延变化情况，并记录所述时延变化情况；更新标记方案，包括将当前标记的非关键负载中，时序裕量最小的所述负载的标记更改为关键负载，重复进行此步骤，直至所述待处理线网中的所有所述负载的标记结果都为关键负载；比较每个标记方案中记录的时延变化情况，基于其中时延变化情况最小时的缓冲单元添加情况，在所述非关键负载周围添加缓冲单元。3.根据权利要求1所述的时序优化方法，其特征在于，所述对每条所述待处理线网中的负载进行负载隔离处理之前还包括：获取所述待处理线网出现在所述待处理路径上的次数；基于所述待处理线网出现在所述待处理路径上的次数，对所述待处理线网进行排序；基于排序结果，确定对每条所述待处理线网中的负载进行负载隔离处理的顺序。4.根据权利要求2所述的时序优化方法，其特征在于，所述对所述待处理线网中的负载进行排序包括：获取所述待处理线网中每个负载所在路径上的时序裕量；基于所述每个负载所在路径上的时序裕量...
【专利技术属性】
技术研发人员：杜彬，
申请(专利权)人：上海立芯软件科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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