一种针对元器件的仿真测试方法及装置制造方法及图纸

本说明书公开了一种针对元器件的仿真测试方法及装置，可以获取仿真信息，仿真信息用于表示需要仿真的集成器件的结构，而后，可以根据该仿真信息，确定需要在该集成器件中仿真的元器件，作为目标元器件。继而，执行预设的仿真程序，并通过仿真程序中所包含的匹配命令字段，根据预设的元器件匹配规则，从预设的元器件类库中，匹配出目标元器件所对应的元器件类，再根据目标元器件对应的元器件类，得到目标元器件对应的实例，以及，通过仿真程序中所包含的调用命令字段，调用至少一个目标元器件对应的实例中的预设计算方法，并输出至少一个目标元器件的仿真计算量，以实现针对集成器件的仿真测试，从而提高了集成器件仿真的效率。从而提高了集成器件仿真的效率。从而提高了集成器件仿真的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种针对元器件的仿真测试方法及装置


[0001]本说明书涉及仿真模拟
，尤其涉及一种针对元器件的仿真测试方法及装置。

技术介绍

[0002]仿真模拟，是指通过数学模型来对实际物理行为进行模拟的方法。传统的验证电路、机械的方法需要频繁的更改元器件的参数，搭建实际的模块。这样做的弊端提升了验证成本，且比较繁琐。仿真软件的出现，大大提升了验证效率，同时减少了验证成本，其中比较著名的仿真软件包括spice、matlab、AMEsim等。
[0003]在现有技术中，可以通过编写一整套程序实现对集成器件(如集成电路、半导体等)的仿真，在程序中需要编写集成器件中所有元器件所涉及的计算逻辑，但是，这种方式，效率与灵活性均较低。若是针对已经仿真出的集成器件新增元器件，或修改元器件相关的计算逻辑，则需要修改整个程序。在实际中，各类半导体和集成器件也很难避免元器件的改动，若经常性地对程序进行修改，也容易出现问题。
[0004]因此，如何提高对集成器件进行仿真的效率，则是一个亟待解决的问题。

技术实现思路

[0005]本说明书提供一种针对元器件的仿真测试方法及装置，以部分的解决现有技术存在的上述问题。
[0006]本说明书采用下述技术方案：
[0007]本说明书提供了一种针对元器件的仿真测试方法，包括：
[0008]获取仿真信息，所述仿真信息用于表示需要仿真的集成器件的结构；
[0009]根据所述仿真信息，确定需要在所述集成器件中仿真的元器件，作为目标元器件；
[0010]执行预设的仿真程序，并通过所述仿真程序中所包含的匹配命令字段，高根据预设的元器件匹配规则，从预设的元器件类库中，匹配出所述目标元器件所对应的元器件类，所述元器件匹配规则用于表示元器件与元器件类之间的对应关系；
[0011]根据所述目标元器件对应的元器件类，得到所述目标元器件对应的实例；
[0012]通过所述仿真程序中所包含的调用命令字段，调用至少一个目标元器件对应的实例中的预设计算方法，并输出所述至少一个目标元器件的仿真计算量，以实现针对所述集成器件的仿真测试。
[0013]可选地，根据所述目标元器件对应的元器件类，得到所述目标元器件对应的实例，具体包括：
[0014]从线程管理容器中获取所述目标元器件对应的元器件类的实例；
[0015]若所述线程管理容器中不存在所述目标元器件中任意元器件对应的元器件类的实例，基于Java反射，生成所述任意元器件对应的元器件类的实例，并将生成的所述任意元器件对应的实例传入到所述线程管理容器中。
[0016]可选地，每个元器件对应的元器件类继承通用类，所述通用类用于表示元器件的通用属性，所述元器件类为所述通用类的子类，每个元器件对应的元器件类用于表示该元器件对应的独有计算方式。
[0017]可选地，所述元器件匹配规则为通过map类型的数据表示出的：元器件与元器件类之间的对应关系。
[0018]可选地，通过所述仿真程序中所包含的调用命令字段，调用至少一个目标元器件对应的实例中的预设计算方法，并输出所述至少一个目标元器件的仿真计算量，具体包括：
[0019]针对每个目标元器件，确定用户针对该目标元器件选取出的需求输出量；
[0020]调用针对该目标元器件的需求输出量的预设计算方法，以输出所述需求输出量。
[0021]可选地，所述元器件包括电感、电容、电阻、电源中的至少一种。
[0022]本说明书提供了一种针对元器件的仿真测试装置，包括：
[0023]获取模块，用于获取仿真信息，所述仿真信息用于表示需要仿真的集成器件的结构；
[0024]确定模块，用于根据所述仿真信息，确定需要在所述集成器件中仿真的元器件，作为目标元器件；
[0025]匹配模块，用于执行预设的仿真程序，并通过所述仿真程序中所包含的匹配命令字段，高根据预设的元器件匹配规则，从预设的元器件类库中，匹配出所述目标元器件所对应的元器件类，所述元器件匹配规则用于表示元器件与元器件类之间的对应关系；
[0026]实例模块，用于根据所述目标元器件对应的元器件类，得到所述目标元器件对应的实例；
[0027]输出模块，用于通过所述仿真程序中所包含的调用命令字段，调用至少一个目标元器件对应的实例中的预设计算方法，并输出所述至少一个目标元器件的仿真计算量，以实现针对所述集成器件的仿真测试。
[0028]可选地，所述实例模块具体用于，从线程管理容器中获取所述目标元器件对应的元器件类的实例；若所述线程管理容器中不存在所述目标元器件中任意元器件对应的元器件类的实例，基于Java反射，生成所述任意元器件对应的元器件类的实例，并将生成的所述任意元器件对应的实例传入到所述线程管理容器中。
[0029]可选地，每个元器件对应的元器件类继承通用类，所述通用类用于表示元器件的通用属性，所述元器件类为所述通用类的子类，每个元器件对应的元器件类用于表示该元器件对应的独有计算方式。
[0030]可选地，元器件匹配规则为通过map类型的数据表示出的：元器件与元器件类之间的对应关系。
[0031]可选地，所述输出模块具体用于，针对每个目标元器件，确定用户针对该目标元器件选取出的需求输出量；调用针对该目标元器件的需求输出量的预设计算方法，以输出所述需求输出量。
[0032]可选地，所述元器件包括电感、电容、电阻、电源中的至少一种。
[0033]本说明书提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述针对元器件的仿真测试方法。
[0034]本说明书提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处
理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述针对元器件的仿真测试方法。
[0035]本说明书采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果：
[0036]从上述针对元器件的仿真测试方法中可以看出，可以获取仿真信息，仿真信息用于表示需要仿真的集成器件的结构，而后，可以根据该仿真信息，确定需要在该集成器件中仿真的元器件，作为目标元器件。继而，执行预设的仿真程序，并通过仿真程序中所包含的匹配命令字段，根据预设的元器件匹配规则，从预设的元器件类库中，匹配出目标元器件所对应的元器件类，元器件匹配规则用于表示元器件与元器件类之间的对应关系，再根据目标元器件对应的元器件类，得到目标元器件对应的实例，以及，通过仿真程序中所包含的调用命令字段，调用至少一个目标元器件对应的实例中的预设计算方法，并输出至少一个目标元器件的仿真计算量，以实现针对集成器件的仿真测试。
[0037]从上述内容中可以看出，本说明书提供的针对元器件的仿真测试方法可以，预先构建出每个元器件对应的元器件类class，作为元器件类库，在用户需要仿真集成器件时，可以根据用户提供的仿真信息，确定出需要仿真的集成器件包含的元器件，从而直接确定出所需的元器件类，得本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种针对元器件的仿真测试方法，其特征在于，包括：获取仿真信息，所述仿真信息用于表示需要仿真的集成器件的结构；根据所述仿真信息，确定需要在所述集成器件中仿真的元器件，作为目标元器件；执行预设的仿真程序，并通过所述仿真程序中所包含的匹配命令字段，根据预设的元器件匹配规则，从预设的元器件类库中，匹配出所述目标元器件所对应的元器件类，所述元器件匹配规则用于表示元器件与元器件类之间的对应关系；根据所述目标元器件对应的元器件类，得到所述目标元器件对应的实例；通过所述仿真程序中所包含的调用命令字段，调用至少一个目标元器件对应的实例中的预设计算方法，并输出所述至少一个目标元器件的仿真计算量，以实现针对所述集成器件的仿真测试。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述目标元器件对应的元器件类，得到所述目标元器件对应的实例，具体包括：从线程管理容器中获取所述目标元器件对应的元器件类的实例；若所述线程管理容器中不存在所述目标元器件中任意元器件对应的元器件类的实例，基于Java反射，生成所述任意元器件对应的元器件类的实例，并将生成的所述任意元器件对应的实例传入到所述线程管理容器中。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，每个元器件对应的元器件类继承通用类，所述通用类用于表示元器件的通用属性，所述元器件类为所述通用类的子类，每个元器件对应的元器件类用于表示该元器件对应的独有计算方式。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述元器件匹配规则为通过map类型的数据表示出的：元器件与元器件类之间的对应关系。5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，通过所述仿真程序中所包含的调用命令字段，调用至少一个目标元器件对应的实例中的预设计算方法，并输出所述至少一个目标元器件的仿真计算量，具体包括：针对每个目标元器件，确定用户针对该目标元器件选取出的需求输出量；调用针对该目标元器件的需求输出量的预设计算方法，以输出所述需求输出量。6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述元器件包括电感、电容、电阻、电源中的至少一种。7.一种针对元器件的仿真测试装置，其特征在于，包括：获取模块，用于获取仿真信息，所述仿真信息用于表示需要仿真的集成器...

【专利技术属性】
技术研发人员：高秋，曹昱，汪华泽，曹永乐，王铭，蓝恺，
申请(专利权)人：之江实验室，
类型：发明
国别省市：