【技术实现步骤摘要】
光学材料光弹系数测量装置及测量方法
[0001]本专利技术属于光学测量
,尤其涉及光学材料光弹系数测量
,具体为一种光学材料光弹系数测量装置及测量方法。
技术介绍
[0002]光学材料是构成光学系统和光学元件的基础,光弹系数是光学材料的基本性能参数,也是高压下光学系统设计的基础,反映了光学材料在受到外力的作用下材料折射率的变化情况。近年来,随着快速精确打击技术的发展,高空高速红外导引头、光学窗口的光学设计和成像性能检验已成为目前一个亟待解决的问题。风洞试验条件严苛、高超声速气流难以稳定持续,而靶试试验成本高、环境复杂,对影响高压条件下光学系统成像质量的光学材料参数——光弹系数进行准确测量,是提高光学系统设计质量、实现光学系统成像性能评估的有效解决办法。
[0003]国外已经在高压条件下光学材料性能参数测量方面做了较多工作,也获得了许多常见的光学材料光弹系数数据,但是对外公开很少,而且不同批次和不同种类的光学材料性能参数之间会存在较大差别。国内通常仅对常规实验室条件下光学材料的参数进行测量和校准,仍缺少高压 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光学材料光弹系数测量装置,其特征在于,包括:光源(1),沿光源(1)出射光束方向依次同轴设置起偏器(2)、第一调制器(3)、加压装置(4)、第二调制器(5)、检偏器(6)和探测器(7),其中光学材料样块放置于加压装置(4)中,探测器(7)通过信号处理单元(12)与计算机(13)连接;所述第一调制器(3)和第二调制器(5)与信号处理单元(12)连接;所述光源(1)发出的光束通过起偏器(2),并经由第一调制器(3)调制后进入样块,通过加压装置(4)对样块施加均匀压力,并将压力值传输到计算机(13),经样块后的透射光依次通过第二调制器(5)和检偏器(6)后进入探测器(7),探测器(7)接收光信号后转换成电信号,电信号通过信号处理单元(12)后传输到计算机(13),计算机(13)计算得到样块在该压力下对应的光延迟量,改变加压装置(4)施加的压力并重复上述步骤,根据样块在不同压力下对应的光延迟量,计算得到该光学材料样块的光弹系数。2.如权利要求1所述的光学材料光弹系数测量装置,其特征在于,所述光源(1)包含可见光、近红外及中、远红外波段。3.如权利要求2所述的光学材料光弹系数测量装置,其特征在于,所述加压装置(4)包括底板,底板上设置四条导轨,相邻的两条导轨垂直,相对的两条导轨共线;每条导轨上设置两个滑块,一个滑块上固定一个力传感器,力传感器上安装一个夹头,另一个滑块上固定一个螺栓座,螺栓座上设螺纹孔,螺栓穿过螺纹孔的端部连接弹簧一端,弹簧另一端连接力传感器,力传感器通过USB接线连接计算机(13);四个夹头之间放置样块,旋转螺栓挤压弹簧,推动力传感器及夹头对样块侧面施加压力,力传感器获取实时压力数值,压力数据经USB接线传输到计算机(13)后进行显示。4.如权利要求3所述的光学材料光弹系数测量装置,其特征在于,安装所述螺栓座的滑块,其上设置有锁紧定位组件,用于对该滑块进行定位。5.如权利要求4所述的光学材料光弹系数测量装置,其特征在于,所述信号处理单元(12)包括放大电路(8)、第一锁相放大器(9)、第二锁相放大器(10)和数据采集卡(11),放大电路(8)通过第一锁相放大器(9)、第二锁相放大器(10)与数据采集卡(11)连接,放大电路(8)输出两路信号分别通过第一锁相放大器(9)、第二锁相放大器(10)提取放大特定频率的电信号后,经由数据采集卡...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘卫平,王雷,许荣国,贾云峰,顾高菲,
申请(专利权)人:西安应用光学研究所,
类型:发明
国别省市:
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