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本发明属于光学测量技术领域，公开了一种光学材料光弹系数测量装置及测量方法，装置包括：光源、起偏器、第一调制器、加压装置、第二调制器、检偏器、探测器、信号处理单元和计算机；方法包括：光学材料样块放置在加压装置中，加压装置对样块施加压力，光源出...
该专利属于西安应用光学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过西安应用光学研究所授权不得商用。

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