一种测试设备制造技术

本实用新型专利技术属于晶体振荡器测试技术领域，公开一种测试设备，包括温箱和搬运装置，搬运装置包括第一测试架、第二测试架和联动机构，联动机构传动连接第一测试架与第二测试架，第一测试架和第二测试架用于放置晶体振荡器，联动机构能够切换第一测试架与第二测试架的工位。第一测试架和第二测试架上的晶体振荡器能够循环送入温箱，从而当一批晶体振荡器在温箱内测试时，用户能够将另一批晶体振荡器上料，上料和测试同步进行，提高了测试效率。提高了测试效率。提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种测试设备


[0001]本技术涉及晶体振荡器测试
，尤其涉及一种测试设备。

技术介绍

[0002]晶体振荡器需要放置到温箱测试设备中测试，现有技术中，测试设备一般为单工位测试晶体振荡器。加/取晶体振荡器时，需要将温箱断电，恢复到室温后，再打开温箱门，然后进行加/取晶体振荡器的操作，在这一过程中需要重复断电和通电，并且在上一批晶体振荡器测试完毕后，才能够加/取下一批晶体振荡器，导致测试效率低下。
[0003]基于上述现状，亟待我们设计一种测试设备来解决上述问题。

技术实现思路

[0004]本技术的一个目的在于：提供一种测试设备，能够同步上料和测试，提高了测试效率。
[0005]为达此目的，本技术采用以下技术方案：
[0006]一种测试设备，包括：
[0007]温箱，用于执行测试晶体振荡器的动作；
[0008]搬运装置，包括第一测试架、第二测试架和联动机构，所述联动机构传动连接所述第一测试架与所述第二测试架，所述第一测试架和所述第二测试架用于放置所述晶体振荡器，所述联动机构能够切换所述第一测试架与所述第二测试架的工位并将所述第一测试架和所述第二测试架上的所述晶体振荡器循环送入所述温箱内。
[0009]作为一种优选方案，所述搬运装置还包括电柜，所述电柜分别与所述第一测试架和所述第二测试架电连接，当所述第一测试架或者所述第二测试架进入所述温箱时，所述电柜封闭所述温箱的开口。
[0010]作为一种优选方案，所述电柜位于所述第一测试架与所述第二测试架的中间，所述联动机构包括：
[0011]旋转组件，所述电柜连接于所述旋转组件的执行端，所述旋转组件能够驱动所述电柜旋转以切换所述第一测试架与所述第二测试架的工位；
[0012]滑移组件，所述旋转组件连接于所述滑移组件的执行端，所述滑移组件能够驱动所述电柜沿靠近或者远离所述温箱的方向移动以将所述第一测试架或者所述第二测试架送入或者脱离所述温箱。
[0013]作为一种优选方案，所述旋转组件包括：
[0014]第一驱动件；
[0015]减速件，一端与所述电柜连接，另一端连接于所述第一驱动件的输出端，所述第一驱动件能够通过所述减速件驱动所述电柜旋转。
[0016]作为一种优选方案，所述滑移组件包括：
[0017]第二驱动件，所述旋转组件连接于所述第二驱动件的输出端；
[0018]底座，所述旋转组件沿靠近或者远离所述温箱的方向滑动连接于所述底座，所述第二驱动件能够驱动所述旋转组件和所述电柜在所述底座上移动。
[0019]作为一种优选方案，所述旋转组件和所述底座两者中的一者安装有沿靠近或者远离所述温箱的方向延伸的导轨，另一者安装有滑块，所述滑块滑动连接于所述导轨。
[0020]作为一种优选方案，所述底座的底部安装有滚轮。
[0021]作为一种优选方案，所述电柜的两侧设置有密封圈，所述密封圈能够密封所述电柜与所述温箱之间的间隙。
[0022]作为一种优选方案，所述第一测试架和/或所述第二测试架上安装有光电传感器，所述光电传感器与所述联动机构通讯连接。
[0023]作为一种优选方案，测试设备还包括控制台，所述控制台安装于所述温箱的侧壁，所述控制台能够控制所述温箱和/或所述联动机构。
[0024]本技术的有益效果为：提供一种测试设备，当第一测试架将晶体振荡器送入温箱内测试时，用户能够将另一批晶体振荡器放置于第二测试架上；然后联动机构切换第一测试架与第二测试架的工位，第二测试架将晶体振荡器送入温箱内测试，用户能够取下测试后的晶体振荡器并重新放置待测试的晶体振荡器于第一测试架上，上料和测试同步进行，提高了测试效率。
附图说明
[0025]下面根据附图和实施例对本技术作进一步详细说明。
[0026]图1为测试设备的结构示意图；
[0027]图2为搬运装置的第一视角结构示意图；
[0028]图3为搬运装置的第二视角结构示意图。
[0029]图1至图3中：
[0030]1、温箱；
[0031]2、搬运装置；21、第一测试架；22、第二测试架；23、联动机构；231、旋转组件；2311、第一驱动件；2312、减速件；2313、滑动板；2314、滑块；232、滑移组件；2321、第二驱动件；2322、底座；2323、导轨；24、电柜；25、滚轮；26、密封圈；
[0032]3、控制台。
具体实施方式
[0033]为使本技术解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面将结合附图对本技术实施例的技术方案作进一步的详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0034]在本技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理
解上述术语在本技术中的具体含义。
[0035]在本技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
[0036]下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本技术的技术方案。
[0037]如图1和图2所示，本实施例提供了一种测试设备，包括温箱1和搬运装置2，温箱1能够提供预设温度的环境来测试晶体振荡器，搬运装置2包括第一测试架21、第二测试架22和联动机构23，联动机构23传动连接第一测试架21与第二测试架22，第一测试架21和第二测试架22上能够分别放置晶体振荡器，联动机构23能够驱动第一测试架21和第二测试架22以切换第一测试架21与第二测试架22的工位。在测试晶体振荡器时，先将第一测试架21上放置待测试的晶体振荡器，第一测试架21将这一批晶体振荡器送入温箱1内测试，此时用户能够将另一批晶体振荡器放置于第二测试架22上；待第一测试架21上的晶体振荡器测试完成后，联动机构23切换第一测试架21与第二测试架22的工位，使第二测试架22将第二批晶体振荡器送入温箱1内测试，此时用户取下第一测试架21上测试完成的晶体振荡器并重新放置待测试的晶体振荡器于第一测试架21上，上料工序和测试工序本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试设备，其特征在于，包括：温箱(1)，用于执行测试晶体振荡器的动作；搬运装置(2)，包括第一测试架(21)、第二测试架(22)和联动机构(23)，所述联动机构(23)传动连接所述第一测试架(21)与所述第二测试架(22)，所述第一测试架(21)和所述第二测试架(22)用于放置所述晶体振荡器，所述联动机构(23)能够切换所述第一测试架(21)与所述第二测试架(22)的工位并将所述第一测试架(21)和所述第二测试架(22)上的所述晶体振荡器循环送入所述温箱(1)内。2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述搬运装置(2)还包括电柜(24)，所述电柜(24)分别与所述第一测试架(21)和所述第二测试架(22)电连接，当所述第一测试架(21)或者所述第二测试架(22)进入所述温箱(1)时，所述电柜(24)封闭所述温箱(1)的开口。3.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，所述电柜(24)位于所述第一测试架(21)与所述第二测试架(22)的中间，所述联动机构(23)包括：旋转组件(231)，所述电柜(24)连接于所述旋转组件(231)的执行端，所述旋转组件(231)能够驱动所述电柜(24)旋转以切换所述第一测试架(21)与所述第二测试架(22)的工位；滑移组件(232)，所述旋转组件(231)连接于所述滑移组件(232)的执行端，所述滑移组件(232)能够驱动所述电柜(24)沿靠近或者远离所述温箱(1)的方向移动以将所述第一测试架(21)或者所述第二测试架(22)送入或者脱离所述温箱(1)。4.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于，所述旋转组件(231)包括：第一驱动件(2...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗仲康，刘朝胜，张辉，
申请(专利权)人：广东大普通信技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：