【技术实现步骤摘要】
本申请实施例涉及电子电路，尤其涉及一种频率测量方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、频率是电子产品正常工作的基础。通过测量电子产品的频率，可以确定其工作频率是否符合设计要求。如果频率偏离设定范围，可能会导致电子产品性能下降，甚至损坏。
2、在现有技术中，由于频率在做温度补偿时会存在占空比的变化，之前的测试方法是通过一个更快的基准频率来计数待测频率的高电平个数，从而测量出待测品的工作频率，该测试方法存在测试结果不准的情况。
技术实现思路
1、本申请提供一种频率测量方法、装置、电子设备及存储介质，可以有效地提高频率测量的准确度，从而可以准确地判断出待测产品是否合格。
2、第一方面，本申请实施例提供了一种频率测量方法，所述方法包括：
3、接收测量人员发送的测量指令；
4、响应于所述测量指令通过时钟芯片获取所述待测产品在预先设定的充足的测量时长内的脉冲宽度调制pwm脉冲方波；
5、对所述pwm脉冲方波进行分析，得到所述待测产品的频率测量结果。
6、第二方面，本申请实施例还提供了一种频率测量装置，所述装置包括：接收模块、获取模块和分析模块；其中，
7、所述接收模块，用于接收测量人员发送的测量指令；
8、所述获取模块，用于响应于所述测量指令通过时钟芯片获取所述待测产品在预先设定的充足的测量时长内的pwm脉冲方波；
9、所述分析模块，用于对所述pwm脉冲方波进行分析，得到所述待测
10、第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括：
11、一个或多个处理器；
12、存储器，用于存储一个或多个程序，
13、当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现本申请任意实施例所述的频率测量方法。
14、第四方面，本申请实施例提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本申请任意实施例所述的频率测量方法。
15、本申请实施例提出了一种频率测量方法、装置、电子设备及存储介质，先接收测量人员发送的测量指令；然后响应于该测量指令通过时钟芯片获取待测产品在预先设定的充足的测量时长内的pwm脉冲方波；再对pwm脉冲方波进行分析，得到待测产品的频率测量结果。也就是说，在本申请的技术方案中，可以获取待测产品在充足的测量时长内的pwm脉冲方波，从而可以提高频率测量的准确度。而在现有技术中，由于频率在做温度补偿时会存在占空比的变化，之前的测试方法是通过一个更快的基准频率来计数待测频率的高电平个数，从而测量出待测品的工作频率，该测试方法存在测试结果不准的情况。因此，和现有技术相比，本申请实施例提出的频率测量方法、装置、电子设备及存储介质，以有效地提高频率测量的准确度，从而可以准确地判断出待测产品是否合格；并且，本申请实施例的技术方案实现简单方便、便于普及，适用范围更广。
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1.一种频率测量方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述充足的测量时长的区间为[中心时长减去第一波动时长，所述中心时长加上第二波动时长]；其中，所述中心时长为10秒。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述PWM脉冲方波进行分析，得到所述待测产品的频率测量结果，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据预先确定的基准频率计算所述PWM脉冲方波在所述充足的测量时长内的占空比，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述基准频率计算所述PWM脉冲方波在所述充足的测量时长内的正常的高电平/低电平的数量，包括：
6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述PWM脉冲方波在所述充足的测量时长内的占空比，得到所述待测产品的频率测量结果，包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
8.一种频率测量装置，其特征在于，所述装置包括：接收模块、获取模块和分析模块；其中，
9.一种电子设备，其特征在于，
10.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的频率测量方法。
...【技术特征摘要】
1.一种频率测量方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述充足的测量时长的区间为[中心时长减去第一波动时长，所述中心时长加上第二波动时长]；其中，所述中心时长为10秒。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述pwm脉冲方波进行分析，得到所述待测产品的频率测量结果，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据预先确定的基准频率计算所述pwm脉冲方波在所述充足的测量时长内的占空比，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述基准频率计算所述pwm脉...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘得过，邱文才，林满院，林建华，林潮兴，吴伟雄，
申请(专利权)人：广东大普通信技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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