一种用于PCBA的ICT测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于PCBA的ICT测试装置，包括电源模块、上电控制模块、接口控制模块、读取模块和显示模块，电源模块用于提供测试电源，电源模块与待测PCBA板的输入端连接，接口控制模块提供测试引脚以用于待测PCBA板的外设接口和IO接口的测试，外设接口包括待测PCBA板上的SIM卡接口和ADC接口，上电控制模块用于提供电源测试接口以及控制接口控制模块上的测试引脚的上电，上电模块和接口控制模块分别与待测PCBA板的输出端连接，上电模块与接口控制模块连接，读取模块用于读取各外设接口和IO接口的数据，显示模块用于显示测试结果。本实用新型专利技术的测试装置实现了PCBA板相关外设接口和IO接口的ICT测试，具有结构简单、成本低，便于后期维护的优点。便于后期维护的优点。便于后期维护的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种用于PCBA的ICT测试装置


[0001]本技术涉及ICT测试装置
，特别涉及一种用于PCBA的ICT测试装置。

技术介绍

[0002]自动在线测试(InCircuitTest，简称ICT)，是现代电子企业必备测试流程，是指对印刷电路板组件(Printed
‑
CircuitBoardAssembly，简称PCBA)进行测试。ICT测试是一种不断开电路，不拆下元器件管脚的测试技术，其通过对在线路上的元器件或开短路状态的测试来检测电路板的组装问题。目前市面上的ICT测试工装设备大多需要定制，不仅结构复杂、价格昂贵，且后期维护成本较高。

技术实现思路

[0003]为解决上述问题，本技术提供了一种用于PCBA的ICT测试装置。
[0004]本技术采用以下技术方案：
[0005]一种用于PCBA的ICT测试装置，包括电源模块、上电控制模块、接口控制模块、读取模块和显示模块，所述电源模块用于提供测试电源，所述电源模块与待测PCBA板的输入端连接，所述接口控制模块提供测试引脚以用于所述待测PCBA板的外设接口和IO接口的测试，所述外设接口包括所述待测PCBA板上的SIM卡接口和ADC接口，所述上电控制模块用于提供电源测试接口以及控制所述接口控制模块上的测试引脚的上电，所述上电控制模块和接口控制模块分别与所述待测PCBA板的输出端连接，所述上电控制模块与所述接口控制模块连接，所述读取模块用于读取各外设接口和IO接口的数据，所述显示模块用于显示测试结果。
[0006]进一步地，所述上电控制模块内设有三极管Q2、三极管Q4和MOS管Q3，所述三极管Q2分别与所述三极管Q4和MOS管Q3连接，所述三极管Q2用于提供电源测试接口，所述MOS管Q3用于控制所述接口控制模块的测试引脚供电的开启或关闭，所述三极管Q4的基极为高电平导通。
[0007]进一步地，所述外设接口为GPIO输入性质。
[0008]进一步地，所述电源模块提供直流电源。
[0009]进一步地，所述显示模块上设置若干与所述测试引脚相对应的指示灯。
[0010]采用上述技术方案后，本技术与
技术介绍
相比，具有如下优点：
[0011]本技术的测试装置实现了PCBA板相关外设接口和IO接口的ICT测试，具有结构简单、成本低，便于后期维护的优点。
附图说明
[0012]图1为本技术测试装置的结构示意图；
[0013]图2为实施例中电源模块的电路图；
[0014]图3为实施例中上电控制模块的电路图；
[0015]图4为实施例中接口控制模块的电路图。
[0016]附图标记说明：
[0017]100、电源模块；200、上电控制模块；300、接口控制模块；400、读取模块；500、显示模块。
具体实施方式
[0018]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0019]在本技术中需要说明的是，术语“上”“下”“左”“右”“竖直”“水平”“内”“外”等均为基于附图所示的方位或位置关系，仅仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示本技术的装置或元件必须具有特定的方位，因此不能理解为对本技术的限制。
[0020]实施例
[0021]如图1所示，一种用于PCBA的ICT测试装置，包括电源模块100、上电控制模块200、接口控制模块300、读取模块400和显示模块500，所述电源模块100用于提供测试电源，所述电源模块100与待测PCBA板的输入端连接，所述接口控制模块300提供测试引脚以用于所述待测PCBA板的外设接口和IO接口的测试，所述外设接口包括所述待测PCBA板上的SIM卡接口和ADC接口，所述外设接口为GPIO输入性质，所述上电控制模块200用于提供电源测试接口以及控制所述接口控制模块300上的测试引脚的上电，所述上电控制模块和接口控制模块300分别与所述待测PCBA板的输出端连接，所述上电控制模块与所述接口控制模块300连接，所述读取模块400用于读取各外设接口和IO接口的数据，所述显示模块500用于显示测试结果。
[0022]如图2所示，为本实施例电源模块100的电路图，其中电源模块100用于为整个测试装置提供直流电源。
[0023]如图3所示，为本实施例上电控制模块200的电路图，所述上电控制模块200内设有三极管Q2、三极管Q4和MOS管Q3，所述三极管Q2分别与所述三极管Q4和MOS管Q3连接，所述三极管Q2用于提供电源测试接口，所述MOS管Q3用于控制所述接口控制模块300的测试引脚供电的开启或关闭，所述三极管Q4的基极为高电平导通。ICT测试上电控制模块200包括MOS管Q3、三极管Q2和Q4。具体的，图3中三极管Q2一端的VDD_SDIO为向外提供电源测试的接口，与所述待测PCBA板的电源接口连接，如果VDD_SDIO有电的话Q2会导通，此时，若Q4的基级信号BT_UART_RTS为高电平，则Q4也导通，此外，MOS管Q3也导通实现本测试装置中接口控制模块300中测试引脚的供电上电。
[0024]如图4所示，为本实施例接口控制模块300的电路图，测试引脚的数量可根据外设接口及IO接口数量增减。外设接口开始测试模式时，外围电路通过排阻上拉高电平后，读取模块400读取各外设接口的电平，若外设接口处为高电平，则表示此IO通路正常。对于ADC接口测试，则预先设置好固定电阻比例，读取模块400读取电压值以判断通路是否正常。
[0025]所述显示模块500上设置若干与所述测试引脚相对应的指示灯，若测试引脚对应的接口正常则通过测试，此时测试引脚所对应的指示灯就会亮起，表示测试通过，否则测试
不通过。此外，显示模块500也可以是计算机，从而通过计算机显示测试结果。
[0026]通过上述简单的设计即可实现PCBA外设接口以及IO接口的ICT测试。
[0027]以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于PCBA的ICT测试装置，其特征在于：包括电源模块、上电控制模块、接口控制模块、读取模块和显示模块，所述电源模块用于提供测试电源，所述电源模块与待测PCBA板的输入端连接，所述接口控制模块提供测试引脚以用于所述待测PCBA板的外设接口和IO接口的测试，所述外设接口包括所述待测PCBA板上的SIM卡接口和ADC接口，所述上电控制模块用于提供电源测试接口以及控制所述接口控制模块上的测试引脚的上电，所述上电控制模块和接口控制模块分别与所述待测PCBA板的输出端连接，所述上电控制模块与所述接口控制模块连接，所述读取模块用于读取各外设接口和IO接口的数据，所述显示模块用于显示测试结果。2.如权利要求1所述的一种...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐仕斌，陈淑武，柴俊鑫，陆艺亮，雷晨晨，
申请(专利权)人：厦门四信通信科技有限公司，
类型：新型
国别省市：