眼图分析方法技术

本公开是关于一种眼图分析方法，涉及信号处理技术领域，可以应用于对芯片的眼图进行分析的场景。该方法包括：确定待测试芯片对应的测试信号，测试信号包括测试电压信号与测试延迟信号；获取待测试芯片对应的多个眼图，基于多个测试电压值，对各眼图分别进行第一测试处理，得到眼图对应的第一边沿眼宽阈值；基于多个测试延迟值，对各眼图分别进行第二测试处理，得到眼图对应的第二边沿眼宽阈值；根据第一边沿眼宽阈值与第二边沿眼宽阈值，确定待测试芯片的边沿眼宽阈值。试芯片的边沿眼宽阈值。试芯片的边沿眼宽阈值。

【技术实现步骤摘要】
眼图分析方法


[0001]本公开涉及信号处理
，具体而言，涉及一种眼图分析方法。

技术介绍

[0002]眼图是指利用实验的方法估计和改善（通过调整）传输系统性能时在示波器上观察到的一种图形。在第五代低功耗内存标准（Low Power Double Data Rate 5，LPDDR5）联合电子设备工程委员会（Joint Electron Device Engineering Council，JEDEC）标准中对眼图给出了三个JEDEC标准，包括：眼高（vDIVW）、中心眼宽（tDIVW1）以及上下边沿眼宽（tDIVW2），在实际生产过程中，实际测试的眼图大于JEDEC标准就认为是符合JEDEC标准的。
[0003]在实际使用中，通常还可以将眼睛的面积统计出来，因此，判断眼睛优劣的常用标准有三个：眼宽、眼高以及眼的面积，通过对比三个数据的差异来判断眼图的优劣。然而上述判断方式无法对眼图进行定量评价分析。
[0004]需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种眼图分析方法，其特征在于，包括：确定待测试芯片对应的测试信号，所述测试信号包括测试电压信号与测试延迟信号，所述测试电压信号对应多个测试电压值，所述测试延迟信号对应多个测试延迟值；获取所述待测试芯片对应的多个眼图，基于所述多个测试电压值，对各所述眼图分别进行第一测试处理，得到所述眼图对应的第一测试结果，所述第一测试结果包括第一测试眼宽值与第一眼图误码率之间的关联曲线；基于所述多个测试延迟值，对各所述眼图分别进行第二测试处理，得到所述眼图对应的第二测试结果，所述第二测试结果包括第二测试眼宽值与第二眼图误码率之间的关联曲线；根据所述第一测试结果与所述第二测试结果，确定所述待测试芯片的边沿眼宽阈值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述多个测试电压值，对各所述眼图分别进行第一测试处理，得到所述眼图对应的第一测试结果，包括：获取所述待测试芯片对应的多个测试电压值，以及所述眼图对应的眼图模板；基于各所述测试电压值上下移动所述眼图模板，得到所述眼图模板在所述眼图中的第一更新模板坐标；基于多个所述第一更新模板坐标，对所述待测试芯片进行所述第一测试处理，得到所述第一测试结果。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于各所述测试电压值上下移动所述眼图模板，得到所述眼图模板在所述眼图中的第一更新模板坐标，包括：获取所述眼图模板对应的当前模板坐标；确定所述眼图模板在当前时刻的测试电压值下的第一移动距离；根据所述第一移动距离与所述当前模板坐标，确定所述第一更新模板坐标。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于多个所述第一更新模板坐标，对所述待测试芯片进行所述第一测试处理，得到所述第一测试结果，包括：确定在各所述第一更新模板坐标下所述眼图对应的所述第一测试眼宽值，所述第一测试眼宽值基于所述第一更新模板坐标与所述眼图的眼图坐标确定；基于各所述第一测试眼宽值，分别对所述待测试芯片进行芯片测试处理，得到所述待测试芯片对应的第一眼图误码率；基于各所述第一测试眼宽值与所述第一眼图误码率，生成所述第一测试结果。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述多个测试延迟值，对各所述眼图分别进行第二测试处...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨伟，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：