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本公开是关于一种眼图分析方法，涉及信号处理技术领域，可以应用于对芯片的眼图进行分析的场景。该方法包括：确定待测试芯片对应的测试信号，测试信号包括测试电压信号与测试延迟信号；获取待测试芯片对应的多个眼图，基于多个测试电压值，对各眼图分别进行第...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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