测试电路、芯片、测试系统及测试方法技术方案

本申请公开了一种测试电路、芯片、测试系统及测试方法。该测试电路包括第一控制器、第一接口、第二接口和第二控制器。第一控制器在确定芯片切换至第一功耗状态的情况下，输出第一状态信号；第一接口的一端与第一控制器连接，第一接口的另一端用于与芯片外部的辅助电路连接，将第一状态信号输出至辅助电路，通过辅助电路基于第一状态信号反馈唤醒信号；第二接口的一端用于与辅助电路连接，并接收唤醒信号；第二控制器分别与第二接口和第一控制器连接，第二控制器用于基于唤醒信号向第一控制器发送中断信号，通过第一控制器控制芯片从第一功耗状态切换至第二功耗状态。该测试电路能够提高唤醒测试的测试效率。提高唤醒测试的测试效率。提高唤醒测试的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
测试电路、芯片、测试系统及测试方法


[0001]本申请涉及芯片测试
，尤其涉及一种测试电路、芯片、测试系统及测试方法。

技术介绍

[0002]安全等级要求较高的芯片在生产设计阶段需要进行严格的测试，以规避潜在的安全风险。以车规级芯片为例，车规级芯片的运行状态直接关系到车辆的行驶安全。为避免引发交通事故，车规级芯片生产设计阶段需要进行全方面且严格的测试，以确保车辆行驶安全。
[0003]唤醒测试为众多测试项目中一个非常重要的测试项目，主要用于测试例如微控制单元（MCU）或系统级芯片（SoC）等芯片从低功耗状态唤醒过程中是否会发生例如宕机等故障。需要反复的控制芯片进入到低功耗状态，并将芯片从低功耗状态中唤醒至正常工作状态。
[0004]通常情况下，通过为时钟模块设置定时时钟，来触发时钟模块生成唤醒信号，控制芯片从低功耗状态唤醒。为了确保唤醒测试的有效性，在生成唤醒信号之前，要确保芯片已经切换到低功耗状态。这就要求，定时闹钟的预留时间要远大于芯片从工作状态切换到低功耗状态所需的耗时，导致唤醒测试的耗时较长，测试效率有待提升。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试电路，应用于芯片，所述芯片具有第一功耗状态和第二功耗状态，所述芯片在所述第一功耗状态下的功耗低于所述芯片在所述第二功耗状态下的功耗；所述测试电路包括：第一控制器，在确定所述芯片切换至所述第一功耗状态的情况下，输出用于标识所述第一功耗状态的第一状态信号；第一接口，一端与所述第一控制器连接，所述第一接口的另一端用于与所述芯片外部的辅助电路连接，将所述第一状态信号输出至所述辅助电路，通过所述辅助电路基于所述第一状态信号反馈唤醒信号；第二接口，一端用于与所述辅助电路连接，并接收所述唤醒信号；第二控制器，分别与所述第二接口和所述第一控制器连接，所述第二控制器用于基于所述唤醒信号向所述第一控制器发送中断信号，通过所述第一控制器控制所述芯片从所述第一功耗状态切换至所述第二功耗状态。2.根据权利要求1所述的测试电路，其中，所述芯片包括一个或多个电源域，各所述电源域分别包括一个或多个负载单元，所述第一控制器分别与各个所述电源域连接；所述第一控制器在确定至少一个所述电源域处于关闭状态的情况下，确定所述芯片切换至所述第一功耗状态，输出所述第一状态信号。3.根据权利要求2所述的测试电路，其中，所述第一控制器在接收到指示关闭至少一个电源域的关闭信号，且确定相应的电源域处于关闭状态的情况下，确定所述芯片切换至所述第一功耗状态，输出所述第一状态信号。4.根据权利要求3所述的测试电路，其中，所述第一控制器包括：电源控制单元，分别与各所述电源域连接；所述电源控制单元具有与所述电源域一一对应的多个输入端和与所述电源域一一对应的多个输出端；所述电源控制单元用于：通过所述电源控制单元的输入端接收开启信号，响应于所述开启信号开启相对应的电源域，通过所述电源控制单元的输出端输出标识相对应的电源域处于开启状态的第二状态信号，或者通过所述电源控制单元的输入端接收关闭信号，响应于所述关闭信号关闭相对应的电源域，通过所述电源控制单元的输出端输出标识相对应的电源域处于关闭状态的第三状态信号；状态检测单元，分别与所述电源控制单元的各输入端和各输出端连接，所述状态检测单元在确定所述电源控制单元的至少一个输入端接收到关闭信号，且确定与所述电源控制单元的该输入端相对应的输出端输出所述第三状态信号的情况下，输出所述第一状态信号。5.根据权利要求4所述的测试电路，其中，所述状态检测单元包括：第一或门，多个输入端一一对应的与所述电源控制单元的多个输入端连接；多个非门，与所述电源控制单元的多个输入端一一对应，且所述非门的输入端与所述电源控制单元的相应输入端连接；多个第二或门，与多个所述非门一一对应，所述第二或门的一个输入...

【专利技术属性】
技术研发人员：王振，何礼昕，
申请(专利权)人：上海励驰半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：