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本申请公开了一种测试电路、芯片、测试系统及测试方法。该测试电路包括第一控制器、第一接口、第二接口和第二控制器。第一控制器在确定芯片切换至第一功耗状态的情况下，输出第一状态信号；第一接口的一端与第一控制器连接，第一接口的另一端用于与芯片外部的...
该专利属于上海励驰半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海励驰半导体有限公司授权不得商用。

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