盘片层数判别方法技术

一种盘片层数判别方法，首先依序调整至两数据层的标准ＳＡ值；使焦点穿越盘片进行聚焦行程；记录该聚焦行程中最大振幅的聚焦误差信号；检查各聚焦行程所记录最大振幅的聚焦误差信号相等，则判别为双数据层盘片，不相等则判别为单数据层盘片。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，尤其是关于光驱用以判别盘片数据层数的方法。
技术介绍
由于光驱读取头中物镜等光学组件相当小，小光学组件的材质、成形、曲面及平滑度，在制造过程中均难以掌控，导致投射光束的亮度不均，容易造成像差(Spherical Aberration,简称SA)，让光束聚焦点质量不佳，影响记号正确的判读。如图1所示，为美国第6756574号专利案的先前技术像差校正系统。光驱的读取 头1以激光装置2发出一激光束，经过多个光学组件3、像差校正单元4至物镜5，将光束聚 焦投射至盘片6的数据层7。光束经数据层7反射回读取头1，再由光学组件3折射，照射 在检光装置8的A、B、C、D受光面。由信号处理装置9以受光面(A+C)-(B+D)信号，形成聚 焦误差信号(Focusing Error，简称FE)，传输至微处理装置10，控制致动器11驱动物镜5 移动，将光束锁定聚焦在数据层7。此外，光驱根据盘片6的规格，数据层7相邻盘片基板(Substrate) 12具有标准厚 度d，并设定该盘片6对应最佳的SA值。由微处理装置10发出控制信号至SA调整装置13， 调整像差校正单元4的透镜分开距离，改变光束投射路径，以改善光束聚焦点的质量。使经 数据层7反射回读取头1的光束，形成最佳信号。如图2所示，为先前技术判别蓝光盘片数据层数的示意过程。一般蓝光光驱将最 佳SA值设在蓝光盘片接近表面的第一数据层。先前技术判别蓝光盘片数据层数时，在点亮 读取头后，向上移动物镜，进行聚焦行程P，使聚焦点穿越盘片，形成聚焦误差信号。同时观 察聚焦误差信号的大小，并设定一门限值T。当聚焦误差信号大小超过门限值T时，则在计 数器加1。因此，对单数据层的蓝光盘片而言，聚焦点首先穿越蓝光盘片表面时，会产生较门 限值T小的S曲线聚焦误差信号。聚焦点接着穿越数据层，会产生较门限值T大的S曲线 聚焦误差信号，因上下各产生一次较大的聚焦误差信号，以计数器计数为2。对双数据层的 蓝光盘片而言，聚焦点首先穿越蓝光盘片表面时，也会产生较门限值T小的S曲线聚焦误差 信号。聚焦点接着穿越第一数据层，将产生较门限值T大的S曲线聚焦误差信号，因上下各 产生一次较大的聚焦误差信号，计数器计数为2。聚焦点再穿越第二数据层时，因最佳SA值 设在蓝光盘片第一数据层，虽产生的S曲线聚焦误差信号较第一数据层稍小，但信号仍较 门限值T大，因上下各产生一次较大的聚焦误差信号，计数器累计为4。因此，先前技术藉由 计数器的计数，即可判别蓝光盘片的层数。然而，蓝光光驱因读取头运作上非常贴近光盘片表面，蓝光盘片表面镀有硬质薄 膜，以防止读取头刮伤盘片，但此薄膜会造成反射率上升。而且蓝光盘片的最佳的SA值设 在相当接近薄膜表面的第一数据层。导致蓝光盘片表面所形成的聚焦误差信号，明显大许 多，甚至比CD及DVD的聚焦误差信号大。且光驱均具有各自的电路及增益差异。在选定门限值时，常低于蓝光盘片的表面聚焦误差信号，造成判别层数错误，读写盘片失败，而影响 光驱的效能。因此，习知光驱在判别数据层数上，仍有问题亟待解决。
技术实现思路
本专利技术的目的在提供一种，藉由将最佳SA值设于每一数据层， 分别进行聚焦行程，获得每一行程中最大聚焦误差信号，由各聚焦行程最大的聚焦误差信 号是否相等，以判别单或双数据层盘片。本专利技术另一目的在提供一种，利用光驱同一电路及增益，所获 得的聚焦误差信号，进行大小比较，降低光驱各别差异特性对信号比对的影响，以避免设定 门限值。本专利技术再一目的在提供一种，以预设差值范围，作为比较各聚 焦行程最大的聚焦误差信号相等的弹性范围，以提高判别的准确性。为了达到前述专利技术的目的，本专利技术的，首先依序调整至两数据 层的标准SA值；使焦点穿越盘片进行聚焦行程；记录该聚焦行程中最大振幅的聚焦误差信 号；检查各聚焦行程所记录最大振幅的聚焦误差信号相等，则判别为双数据层盘片，不相等 则判别为单数据层盘片。本专利技术另一实施例，先依序调整至两数据层的标准SA值；使焦 点穿越盘片进行聚焦行程；记录该聚焦行程中最大振幅的聚焦误差信号；检查各聚焦行程 所记录最大振幅的聚焦误差信号相差在预设范围内，则判别为双数据层盘片，否则判别为 单数据层盘片。附图说明图1为先前技术光驱像差校正系统的功能方块图。图2为先前技术判别盘片层数的过程示意图。图3为本专利技术单层盘片聚焦行程的过程示意图。图4为本专利技术双层盘片聚焦行程的过程示意图。图5为本专利技术双层盘片多次聚焦行程的过程示意图。图6为本专利技术第一实施例判别盘片层数方法的流程图。图7为本专利技术第二实施例判别盘片层数方法的流程图。主要组件符号说明1 读取头2 激光装置3 光学组件4 像差校正单元5 物镜6 盘片7 数据层8 检光装置9 信号处理装置10微处理装置11致动器12基板13SA调整装置具体实施例方式有关本专利技术为达成上述目的，所采用的技术手段及其功效，兹举较佳实施例，并配 合附图加以说明如下。本专利技术，主要利用一般光驱针对各种盘片规格所定的数据层标 准位置，测试储存有相对应设定的标准SA值。当光驱决定读写数据所在的数据层，即利用 储存相对应的标准SA值，将像差最佳补偿的位置调整至该数据所在的数据层，以维持最佳 的信号质量，使所获得的信号最大。假如SA值非设定在所读写数据所在的数据层上，则会 降低信号的大小。因此，本专利技术依序将SA值调整至第一数据层及第二数 据层的标准位置，并分别进行聚焦行程，向上或向下移动物镜，使焦点穿越盘片，将在盘片 表面、第一数据层或第二数据层等反射位置，获得聚焦误差信号。如图3所示，为单数据层盘片聚焦行程的过程。就单数据层盘片，当SA值调整至第 一数据层的SAl标准位置，进行聚焦行程Pl时，以向上移动物镜为例，焦点穿越盘片表面的 聚焦误差信号，因盘片表面的反射率较小，信号振幅较小。焦点接着穿越第一数据层，因像 差最佳补偿的位置调整至数据层，将获得最大的聚焦误差信号振幅Ml。焦点再穿越第二数 据层标准位置时，因第二数据层标准位置并无数据层存在，无法产生聚焦误差信号。因此， SA值调整至第一数据层的单数据层盘片，比较下第一数据层的聚焦误差信号振幅Ml最大。然后，向下移回物镜至起点，将SA值调整至第二数据层的SA2标准位置，进行聚焦 行程P2时，再向上移动物镜，焦点穿越盘片表面的聚焦误差信号，因盘片表面的反射率较 小，信号振幅较小。焦点接着穿越第一数据层，因像差最佳补偿的位置未调整至该数据层， 将获得一般的聚焦误差信号振幅M2。焦点再穿越第二数据层标准位置时，因第二数据层标 准位置无数据层存在，即使像差最佳补偿的位置调整至该位置，并无法产生聚焦误差信号。 因此，SA值调整至第二数据层的单数据层盘片，比较下第一数据层的聚焦误差信号振幅M2 最大。由单数据层盘片的聚焦行程Pl及聚焦行程P2，各别所获得最大聚焦误差信号比 较。聚焦行程Pi因像差最佳补偿的位置调整的第一数据层，获得的最大聚焦误差信号振幅 Ml,明显大于，聚焦行程P2无像差最佳补偿的位置调整的第一数据层，获得的最大聚焦误 差信号振幅M2。单数据层盘片的聚焦误差信号振幅Ml不等于聚焦误差信号振幅M2。如图4所示，为双数据层盘片聚焦行程的过程。就双数据层盘片，当SA值调整至 第一数据层的SAl标准位置，进行聚焦行程本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种盘片层数判别方法，使用于光驱，其步骤包含：（１）调整至两数据层之一的标准像差ＳＡ值；（２）进行聚焦行程；（３）记录该聚焦行程中最大振幅的聚焦误差信号；（４）检查是否完成调整每一数据层的标准像差值？假如未完成，回至步骤（１），假如已完成，则进入步骤（５）；（５）检查各聚焦行程所记录最大振幅的聚焦误差信号是否相等？假如相等，判别为双数据层盘片，假如不相等，则判别为单数据层盘片。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：徐嘉星，谢明宗，萧亦隆，
申请(专利权)人：广明光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]